| Отдельно от воображения остаточный отпечаток вмятия, интегрированное SFM которое установлено на Измерителе Твердости Аппаратур CSM Nano (NHT) можно также использовать для того чтобы проверить и квантифицировать дефект подсказки и симметрию используемого индентера. Фактическую подсказку индентера, сплавляемо к вертикальной штанге, можно легко извлечь от измерять NHT головной и расположить точно под задачу SFM. Дефекты Подсказки Общих Индентеров Было показано что дефект подсказки общих индентеров может быть значительно, специально в случае геометрии Vickers, вследствие затруднений в молоть квадрат-основанная пирамидка к адекватней подсказке. В контрасте, котор 3-встали на сторону pyramidal геометрия Berkovich естественно прекращает на этап, таким образом облегчающ молоть диамантов которые поддерживают их сметливость к очень малым масштабам. Подсказка Berkovich изменяет, как охарактеризовано эффективным радиусом подсказки, часто меньш чем 50 nm в много из более лучших диамантов. 
Диаграмма 1. Применение FIG. 1 показывает 2 изображения SFM Vickers и индентера Berkovich. Хотя SFM имеет лимитированный вертикальный ряд, большинств nanoindentations меньш чем 5 mm глубоки, поэтому аппаратура колоец - одетый к измерению активной части индентера. В добавлении, высокое разрешение SFM позволяет данным по формы быть извлеченным сразу от изображений, так же, как любому отступлению от совершенно острой pyramidal геометрии. Предыдущая работа в этом домене показала что функцию зоны pyramidal индентера можно сразу высчитать от информации приобретенной от изображения SFM, после исправляться для влияний формы pixellation и зонда SFM. Pixellation Pixellation происходит должно к факту что данные по SFM приобретены в цифровой форме и поэтому имеет небесконечное количество частных значений. Например, для бокового размера развертки 20 mm, и использования максимального числа пунктов согласно с линия (512), разъединение между каждым частным значением будет 20000/512 = 39 nm. Это значит что изображение типичного pyramidal индентера в действительности будет составлено шагов бокового разъединения 39 nm. Площадь Контакта Если площадь контакта быть высчитанным от таких данных после этого это может произвести значительно ошибку, и поэтому, то различные режимы коррекции необходимо использовать. Очевидно, это влияние присутствовал также в изображениях SFM остаточных отпечатков и должно быть учтено если тома или площади контакта кучи-вверх быть высчитанным. |