Совмещенный Nano Микроскоп Усилия Измерителя Твердости и Скеннирования Для Расследовать Дефект Подсказки Общих Индентеров От Аппаратур CSM

Покрытые Темы

Предпосылка

Дефекты Подсказки Общих Индентеров

Применение

Pixellation

Площадь Контакта

Предпосылка

Отдельно от воображения остаточный отпечаток вмятия, интегрированное SFM которое установлено на Измерителе Твердости Аппаратур CSM Nano (NHT) можно также использовать для того чтобы проверить и квантифицировать дефект подсказки и симметрию используемого индентера. Фактическую подсказку индентера, сплавляемо к вертикальной штанге, можно легко извлечь от измерять NHT головной и расположить точно под задачу SFM.

Дефекты Подсказки Общих Индентеров

Было показано что дефект подсказки общих индентеров может быть значительно, специально в случае геометрии Vickers, вследствие затруднений в молоть квадрат-основанная пирамидка к адекватней подсказке. В контрасте, котор 3-встали на сторону pyramidal геометрия Berkovich естественно прекращает на этап, таким образом облегчающ молоть диамантов которые поддерживают их сметливость к очень малым масштабам. Подсказка Berkovich изменяет, как охарактеризовано эффективным радиусом подсказки, часто меньш чем 50 nm в много из более лучших диамантов.

AZoNano - A к Z Нанотехнологии - изображения микроскопии усилия Скеннирования индентеры диаманта Vickers (a) и Berkovich (b).

Диаграмма 1.

Применение

FIG. 1 показывает 2 изображения SFM Vickers и индентера Berkovich. Хотя SFM имеет лимитированный вертикальный ряд, большинств nanoindentations меньш чем 5 mm глубоки, поэтому аппаратура колоец - одетый к измерению активной части индентера. В добавлении, высокое разрешение SFM позволяет данным по формы быть извлеченным сразу от изображений, так же, как любому отступлению от совершенно острой pyramidal геометрии. Предыдущая работа в этом домене показала что функцию зоны pyramidal индентера можно сразу высчитать от информации приобретенной от изображения SFM, после исправляться для влияний формы pixellation и зонда SFM.

Pixellation

Pixellation происходит должно к факту что данные по SFM приобретены в цифровой форме и поэтому имеет небесконечное количество частных значений. Например, для бокового размера развертки 20 mm, и использования максимального числа пунктов согласно с линия (512), разъединение между каждым частным значением будет 20000/512 = 39 nm. Это значит что изображение типичного pyramidal индентера в действительности будет составлено шагов бокового разъединения 39 nm.

Площадь Контакта

Если площадь контакта быть высчитанным от таких данных после этого это может произвести значительно ошибку, и поэтому, то различные режимы коррекции необходимо использовать. Очевидно, это влияние присутствовал также в изображениях SFM остаточных отпечатков и должно быть учтено если тома или площади контакта кучи-вверх быть высчитанным.

Источник: Аппаратуры CSM

Для больше информации на этом источнике пожалуйста посетите Аппаратуры CSM

Date Added: Dec 5, 2006 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 12:54

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit