NanoSurf からの装置を使用して磨かれた製陶術の金のフィルムの穀物の形態そして厚さの調査

カバーされるトピック

背景

製陶術および金のフィルムの地勢画像

表面荒さ

結晶粒度

背景

これらの測定は標準試料のホールダーで行われました。 Nanosurf からの Pointprobe センサーは特別な弱まらないで使用されました。 先端の頂点の角度半分は 20-25° です。

製陶術および金のフィルムの地勢画像

図 1 の地勢画像は製陶術と金のフィルムの間でステップで撮られました。 (左の正方形の製陶術、右の正方形の金)。 セクションで (地勢画像の黒い矢に沿って取られる) ステップは明白ではないです。 最も低く、高い値間の間隔はおよそ 300 nm です。

AZoNano - A からナノテクノロジーの Z - は 2-4 m 間の陶磁器の穀物見ることができます。 AFM を使うと個々の陶磁器の穀物の形式を調査することは容易です。 左の陶磁器の穀物ではっきり目に見えてであって下さい。 製陶術の穀物がまだある場合もある権利で金のフィルムを通って作られて下さい。 40x40µm 画像、 z 範囲: 300nm および対応する横断面。

2-4 m 間の図 1. 陶磁器の穀物は見ることができます。 AFM を使うと個々の陶磁器の穀物の形式を調査することは容易です。 左の陶磁器の穀物ではっきり目に見えてであって下さい。 製陶術の穀物がまだある場合もある権利で金のフィルムを通って作られて下さい。 40x40µm 画像、 z 範囲: 300nm および対応する横断面。

表面荒さ

残っている全表面、差込みおよび差込みの権利の表面荒さは 43nm、 36nm、 55nm として、それぞれ明らかにされます。 従って私達は金のフィルムの表面荒さが覆いを取られた製陶術より高い 50% であることを見ることができます。 ステップ高さは製陶術が余りに荒いので測定することができません。

結晶粒度

2-4µm 間の2陶磁器の3Al O の穀物は見ることができます。 AFM を使うと個々の陶磁器の穀物の形式を調査することは容易です。 左の陶磁器の穀物ではっきり目に見えてであって下さい。 製陶術の穀物がまだある場合もある権利で金のフィルムを通って作られて下さい。

AZoNano - A からナノテクノロジーの Z - 40x40µm 画像、 z 範囲: 300nm

図 2. 40x40µm 画像、 z 範囲: 300nm

ソース: Nanosurf

このソースのより多くの情報のために Nanosurf を訪問して下さい

Date Added: Feb 21, 2007 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 12:42

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit