Microscopia del Haz de Carl Zeiss NTS, del Electrón y de Ión Para los Sistemas de la Metrología del Semiconductor y los Sistemas Nanos de la Tecnología

Área de la Nanotecnología

Microscopia del Haz del Electrón y de Ión

Descripción de Actividades

Carl Zeiss NTS sirve los mercados nanos globales de la fabricación y del equipo de prueba.

Carl Zeiss NTS y su Óptica de la Litografía de cuatro divisiones, la Óptica del Laser, Sistemas Nanos de la Tecnología y Sistemas de la Metrología del Semiconductor se centra sus operaciones en dos Soluciones principales de la Proyección De Imagen de la Litografía de los mercados y Soluciones de Mando De Proceso.

Sistemas de la Nanotecnología

La División de Sistemas Nana de la Tecnología de Carl Zeiss NTS provee de sus clientes la última tecnología marginal del E-Haz. Dentro de esta división usted encontrará durante cuatro décadas de experiencia acumulada en el campo de la microscopia electrónica de la exploración y seis décadas de experiencia en el campo de la microscopia electrónica de transmisión.

Los conocimientos técnicos extensos de la compañía, que también comprende hoy en día tecnología del haz iónico y la tecnología basada e-haz del análisis permiten a Carl Zeiss NTS entregar las soluciones innovadoras para su asunto.

División de Sistemas de la Metrología del Semiconductor

La División de Sistemas de la Metrología del Semiconductor de Carl Zeiss NTS desarrolla, fabrica, y comercializa el equipo para la industria del semiconductor. SMS concentra sus actividades en las soluciones para el examen y la reparación de los photomasks, que llevan la información estructural completa para fabricar los microchipes más complejos. Con experiencia de la base en la óptica de la luz y de electrón y el conocimiento completo de los procesos de fabricación esenciales de los dispositivos de semiconductor, SMS proporciona a sus clientes una solución única que asegura una posición de cabeza en el mercado global.

Para más información sobre esta fuente, visite por favor la Microscopia de Carl Zeiss.

Date Added: Aug 13, 2007 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 15:19

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