半導体の度量衡学システムおよび Nano 技術システムのためのカールツァイス NTS、電子およびイオンビームの顕微鏡検査

ナノテクノロジー領域

電子およびイオンビームの顕微鏡検査

作業の記述

カールツァイス NTS は全体的な nano 製造業および試験装置の市場に役立ちます。

カールツァイス NTS および 4 つの分割の石版印刷の光学、レーザーの光学、 Nano 技術システムおよび半導体の度量衡学システムは 2 つの主要な市場の石版印刷イメージ投射解決およびプロセス制御解決に操作を焦点を合わせます。

ナノテクノロジーシステム

カールツァイス NTSNano 技術のシステム部は最新の先端の E ビーム技術を顧客に与えます。 この部分の中ではスキャンの電子顕微鏡検査のフィールドおよび透過型電子顕微鏡のフィールドの経験の六十年以内に集められた経験の四十年に見つけます。

この頃は構成する会社の広範なノウーハウは、イオンビームの技術および e ビームによって基づく分析の技術はまたカールツァイス NTS がビジネスのための革新的な解決を提供することを可能にします。

半導体の度量衡学のシステム部

カールツァイス NTS半導体の度量衡学のシステム部は半導体工業のための装置を発達させ、製造し、そして販売します。 SMS は最も複雑なマイクロチップを製造するための完全な構造的情報を伝えるフォトマスクの点検そして修理のための解決に作業を集中します。 ライトおよび電子光学のコア専門知識および半導体デバイスの必要な製造工程の広範囲の知識によって、 SMS は顧客を全体的な市場の指導的地位を保証する一義的な解決提供します。

このソースのより多くの情報のために、カールツァイスの顕微鏡検査を訪問して下さい。

Date Added: Aug 13, 2007 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 14:59

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