Ломать Барьеры По Заведенному Порядку Микроскопии Зонда Скеннирования и Стабилности Экспериментов По SPM Используя Головки NTEGRA от NT-MDT

Покрытые Темы

Предпосылка
Механически Смещение Причиненное Свойствами Piezoceramics
     Предложенное Разрешение
Термальное Смещение Причиненное Неединобразным Тепловым Расширением Частей SPM
     Предложенное Разрешение
AFM Основал Томографию Используя NTEGRA Tomo
SPM + Confocal Микроскопия/Спектроскопия
Преимущества Комбинации

Предпосылка

Почти каждый специалист в общине SPM был посмотрен в его опыте (ее) при отказы причиненные взаимным смещением образца и зонда. Это влияние возникает или от механически или термальных смещений внутри системы AFM. Последствия смогли быть смертоносны для всего эксперимента специально для малых зон развертки (после этого 1 ìm).

Механически Смещение Причиненное Свойствами Piezoceramics

Даже самые лучшие приборы piezoceramics терпят от гистерезиса, ползучести и нелинейности. Единственный путь иметь систему с типичной повторимостью приложить специального коррекцию ПО и (CL) короткозамкнутого витка. Датчики CL На практике всегда кладут некоторый шум в систему поэтому почти все имеющее на рынке SPMs не позволяет работать на полях более малых чем 500 nm с коррекцией короткозамкнутого витка.

Предложенное Разрешение

Специальная конструкция головки NTEGRA Therma измеряя дает возможность поддерживать ультра высокие стабилность и воспроизводимость движения зонда. Датчики Блока Развертки NTEGRA Therma имеют самый малошумный уровень среди имеющих на рынке аппаратур.

Разрешения инженерства делают коррекцию оборудования возможным на областях как малых как 50 nm. В действительности даже атомная решетка может быть imaged при датчики CL переключенные дальше.

Термальное Смещение Причиненное Неединобразным Тепловым Расширением Частей SPM

Можно легко найти шум температуры величины 3-5°K даже в комнате с контролем климата.

SPM также производит некоторую жару во время своей деятельности. Типичные значения термального смещения в имеющее на рынке SPMs 10 нанометров в час. Широко диапазон температур эксперимента видно будет термальное влияние смещения. Смещение о сотниах нанометров в K будет правилом для обычного SPM.

Предложенное Разрешение

NTEGRA Therma включает уникально разрешения конструкции для того чтобы воевать против термального смещения. Тщательно начатая геометрия системы, специальные материалы сочетание из с подобными коэффициентами теплового расширения и проводимости, точная стабилизация температуры модуля скеннирования, и некоторые другие характеристики включают XY смещения на комнатной температуре как малой как 3-5 nm/hour, и около 10 nm/K на изменяя температуре!

Диаграмма 1. Атомная решетка HOPG полученного на весьма - низкой частоте сканирования (около 1 линии/sec)

Диаграмма 2. Атомная решетка слюды как imaged с коррекцией короткозамкнутого витка.

Диаграмма 3. Nanotubes и nanoparticles в долгосрочном эксперименте. Общее смещение на 7 часов около 35 nm. Попробуйте учтивость Dr.H.B. Chan, Отдела Физики, Университета Флориды, США.

AFM Основал Томографию Используя NTEGRA Tomo

Томография AFM метод основанный и на микроскопии атомн-усилия (AFM) и ultramicrotomy. Она позволяет одному изучить внутренние свойства почти любого материала полимера включая довольно трудные одни. реконструкцию 3D можно выполнить после серийного воображения AFM стороны блока совмещенной с распределять ultramicrotome.

Диаграмма 4. схема Принципа томографии AFM настроила: 1 - образец, 2 - попробуйте держатель, 3 - подвижная ultramicrotome рукоятка, 4 - ultramicrotome нож, 5 - блок развертки AFM, 6 - зондируйте держатель, 7 - зонд AFM

Диаграмма 5. nanoparticles Кремнезема внутри матрица полимера (материал nanocomposite). Каждый индивидуальный размер изображения 20x40 ìm, космосы 200 nm. Попробуйте учтивость Dr.Aliza Tzur, Technion, Израиля.

Диаграмма 6. Модель 3D поликомпонентной бленды полимера. Модельный размер 8.0x5.6x0.6 um, пространства между разделы 40 nm. Попробуйте учтивость Dr.Christian Sailer, F. Polymere Institut, ETH-Honggerberg, Швейцарии.

Диаграмма 7. томография AFM смолаы врезала цианобактерию. Фотосинтетические ламеллы мембраны ясно увидены и на увеличенном изображении AFM и на модели 3D (4.9x4.6x0.9 um, пространства между разделы 50 nm). Попробуйте учтивость Dr.N.Matsko, ETH, Цюриха, Швейцарии.

SPM + Confocal Микроскопия/Спектроскопия

Преимущества Комбинации

Сочетание из SPM и confocal микроскопия/спектроскопия позволяют унести одновременную физическую и химическую характеризацию такой же зоны на поверхности образца. Спектры NTEGRA успешно интегрировали AFM, SNOM (микроскопию близко-поля оптически), микроскопию Raman и флуоресцирования и методы спектроскопии.

Сверх Того, уникально нелинейный оптически возникать влияний должный к взаимодействию света с повышением продукции зонда SPM гигантским сигналов Raman и флуоресцирования. Эксперименты по TERS (подсказк-увеличенного Raman разбрасывая) будут возможные должными к точной пространственный координации специальной подсказки AFM и сфокусированного пятна лазера. Оптически характеризацию можно теперь выполнить с далеко за разрешения предел огибания.

Диаграмма 8. микроскопия Raman с ультравысоким пространственным разрешением. A - подсказка увеличенный Raman разбрасывая эксперимент, B - интенсивность увеличений G-Диапазона nanotube углерода несколькими порядков величины когда подсказка зонда будет приземлена, C - confocal изображение Raman пачки nanotube углерода. D- подсказк-увеличил Raman разбрасывая (TERS) изображение такой же пачки nanotube. Примечание, TERS обеспечивает больше чем 4 времени более лучшее пространственное разрешение по сравнению с confocal микроскопией. Учтивость Данных Др. S.Kharintsev, Др. J. Уборной, TUE, Нидерланды и Др. P.Dorozhkin, ISSP RAS, России.

Диаграмма 9. Microalgae увиденные яркой микроскопией поля (A), микроскопией Raman на линии бета-каротина (B), и confocal микроскопией autofluorescence (C). Попробуйте учтивость Др. Надевать McNaughton, Университета Monash, Виктории, Австралии.

Диаграмма 10. изображение SNOM mitochondria покрашенных с FITC-обозначенными антителами. Заметьте XY разрешение за пределом огибания.

Источник: NT-MDT

Для больше информации на этом источнике пожалуйста посетите NT-MDT

Date Added: Jan 21, 2008 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 18:23

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit