Ved at kombinere Atomic Force Mikroskopi og Laser Scanning konfokal mikroskopi ved hjælp af udstyr fra JPK I

Ved at kombinere Atomic Force Mikroskopi og Laser Scanning Konfokal MicroscopyUsing Udstyr fra JPK Instruments
Related JPK Instruments AG - Scanning Probe Technologies News

Last Update: 21. October 2011 22:15

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
(Logout)
Submit