Microscopio de la Antena de la Exploración de la Dimensión de las Superficies Nanas de Bruker, el SPM Más Multifuncional del Mundo

Filete del Tema

Antecedentes
NanoScope V - El Mejor Controlador Aéreo del Mundo
Nuevo Fácil-AFM para la Productividad Máxima
Adaptabilidad y Funciones Excepcionales
La Conveniencia Más Amplia de la Aplicación
Rango Extenso de las Técnicas de SPM
Pliegos De Condiciones de la Dimensión V
Con la Carga Híbrida de XYZ de la Dimensión
Con la Carga De Anillo Abierto de la Dimensión
Tamaño de Muestra
Casquillos de la Muestra
Escenario
Punta/Casquillos Voladizos
La Óptica del Microscopio
Visión de la Punta
Aislamiento de Vibración
Controlador Aéreo
Requisitos de Alimentación
Peso del Microscopio

Antecedentes

El rango de Dimension® realiza todas las técnicas mayores de la microscopia de la antena de la exploración y la gama más amplia del patrón y de las aplicaciones avanzadas de la caracterización, haciéndole el SPM más multifuncional del mundo. El resultado de más de 15 años de optimización y de aumento de diseño, de la adaptabilidad incomparable de las ofertas de la Dimensión vía un controlador aéreo de alta velocidad de la quinto-generación, de la opción de XYZ a circuito cerrado y de los analizadores del grupo de generación, y de las opciones numerosas del modo de la proyección de imagen. Un ordenador principal de otras características innovadoras y el funcionamiento excepcional hacen la serie una de la Dimensión de los sistemas más solicitados de SPM de la investigación y de la industria.

  • El controlador aéreo de NanoScope® V Mide la punta-muestra/la dinámica voladiza (la recogida de datos 50MHz)
  • Reduce el tiempo que busca las pequeñas características (la densidad del pixel 5120x5120)
  • Las Visualizaciones y detectan 8 imágenes simultáneamente
  • Analizador Híbrido de XYZ para el máximo rendimiento
  • Entrega ruido inferior del sensor de Z
  • Ideal para la espectroscopia avanzada
  • Plataforma modular Multifuncional
  • Permiso la amplia gama de las técnicas de SPM
  • Escenario Grande de la muestra
  • Imágenes pequeñas y especímenes grandes en líquido o aire

Figura 1.Dimension V SPM

NanoScope V - El Mejor Controlador Aéreo del Mundo

El nuevo controlador aéreo de NanoScope V de Bruker permite a utilizadores de la Dimensión salir del mundo del RMS y vivir en el now. Proporcionando a recogida de datos rápida 50MHz, el nuevo controlador aéreo permite la medición de la punta-muestra/de la dinámica voladiza, permitiendo a investigadores estudiar la influencia de propiedades mecánicas en la física de las acciones recíprocas del probesample. Los Investigadores pueden también sondar espectros vibratorios voladizos en función de la separación de la punta-muestra.

No sólo el de adquisición de datos de alta velocidad sin precedente de este controlador aéreo avanzado facilita el examen de los calendarios previamente inaccesibles a los utilizadores de SPM, permite que la medición del movimiento Browniano determine picos resonantes voladizos y que calibre el constante del muelle voladizo.

El NanoScope V entrega las altas-pixeldensity imágenes, hasta 5120 x 5120, reduciendo el tiempo requerido para explorar para las características de baja densidad distribuidas sobre las áreas extensas, eliminando la necesidad de pre-explorar cuando persigue al detalle aumentado en características ocultadas, y describe la superficie 100X mejor que una imagen con 512 x 512 pixeles. Además, la minimización de la exploración relanzada preserva integridad de la muestra.

El NanoScope V permite a hasta ocho imágenes ser visualizado simultáneamente en tiempo real (y ser detectado para el análisis) con el ratio señal/ruido sin precedente. Éste es el único sistema que puede capturar y visualiza una imagen de la fricción en trazo y retraza, junto con altura y desvío en los setpoints múltiples. El sistema puede producir imágenes de la altura, de la desviación, del ATÚN, y de dos canales de fricción, así como del examen de todo el golpear ligeramente y de todos los canales de datos de la torsión simultáneamente.

FPGA de alta velocidad del controlador aéreo de NanoScope V entrega feedback en 2µs con avance independiente y frecuencia en mando digital de Q. La independiente Múltiple bloqueo-en los amplificadores permiso el golpear ligeramente y torsión, los armónicos en EFM, y observación de un movimiento vertical y lateral más de categoría alta.

Cuadro 2. La nueva recogida de datos de alta velocidad permite que el utilizador vigile acciones recíprocas de la punta-muestra durante una fuerza que tira del experimento en escala de tiempo que no era posible antes. La Figura b es un detalle del área circundada en la Figura c del gráfico A. es detalle adicional del área circundada en el gráfico B.

Nuevo Fácil-AFM para la Productividad Máxima

Para el final en simplicidad operativa aerodinámica, ofertas Fáciles-AFM™ una interfaz de usuario gráfica intuitiva, fácil de seguir para los nuevos o infrecuentes utilizadores de SPM. Reduce la época para el ajuste inicial automáticamente ajustando los parámetros de la exploración, y obteniendo la alta calidad TappingMode™ en imágenes del aire en la mayoría de las muestras en un empuje de un botón. El Fácil-AFM es ideal para los ambientes multiusos.

Adaptabilidad y Funciones Excepcionales

Una amplia gama de funciones se proporcionan para controlar el SPM para los experimentos y la investigación de encargo del nanoscale (e.g., nanomanipulation en X, Y, y Z; exploración automatizada; nanolithography con diversas acciones recíprocas del tipsample). Estas funciones se pueden también llamar de cualquier lenguaje de programación que pueda actuar como un cliente del Modelo del Objeto Componente de Microsoft (COM), incluyendo LabVIEW, y MATLAB™. Funcionamiento Sin Igual con la Carga Híbrida de XYZ

El sistema de la Dimensión se ofrece con una opción de la carga Híbrida de XYZ o de la carga de anillo abierto de la Dimensión estándar. Cada Uno de estos analizadores se construye de los materiales rígidos, bajos en vibraciones que garantizan pliegos de condiciones de poco ruido mientras que proporcionan a confiabilidad superior.

El analizador Híbrido de XYZ de la Dimensión ofrece un ruido más inferior del sensor de Z y combina las ventajas de la tecnología industryleading del analizador del tubo con un analizador sensored únicamente diseñado de Z para entregar funcionamiento revolucionario en un analizador de tres ejes del circuito cerrado. Estas capacidades avanzadas permiten realizar curvas altamente exactas de la fuerza y la “tracción” de técnicas, mientras que todavía entregan imágenes de alta resolución. El feedback A Circuito Cerrado provee del mando X-Y exacto para el nanomanipulation, las exploraciones lineales que son exactas y la independiente del desplazamiento X-Y y explora talla/ángulo.

Debido a la ingeniería única del analizador, la colección de datos topográficos exactos requiere la calibración menos frecuente y extensa que otros analizadores.

La carga de anillo abierto de la Dimensión explora los hasta 90µm en X-Y y los hasta 6µm en el Z. Este analizador incluye un analizador piezoeléctrico del tubo, un laser, y un detector óptico de la cuadratura. Utiliza seguir su trayectoria de laser avanzado para asegurarse de que el de rayo láser refleja de la misma mancha en el voladizo en las exploraciones de retículo, manteniendo una fuerza constante, inferior de la punta-muestra sobre el área entera de la exploración. Esta carga también mantiene los niveles de poco ruido necesarios para resolver únicos pasos de progresión atómicos en las películas finas epitaxiales, o tosquedad superficial de medición del sub-Angstrom en superficies ultrasmooth.

La Conveniencia Más Amplia de la Aplicación

Además de la exploración, de la electrónica, y del funcionamiento superiores, la Dimensión utiliza muchas otras características del diseño innovadoras, multifuncionales. Un escenario grande de la muestra permiso el explorar de especímenes hasta 8 pulgadas de diámetro y opcionalmente 4 pulgadas de grueso. Tiene la capacidad de explorar en aire o líquido y ofrece un ordenador principal de los modos adicionados de la proyección de imagen. La Dimensión tiene confiabilidad excelente de la medición y del análisis para una extensa gama de aplicaciones incluyendo:

  • Materiales Electrónicos
  • Películas Finas
  • Materiales Avanzados
  • Tribología
  • MEMS/NEMS
  • Biotecnología

Rango Extenso de las Técnicas de SPM

La Dimensión proporciona a investigadores la plataforma final, ensanchable para los modos de exploración estándar y avanzados de SPM incluyendo:

  • Modo de Contacto
  • TappingMode
  • PhaseImaging
  • Microscopia de la Fuerza Lateral (LFM)
  • Microscopia de la Fuerza Magnética (MFM)
  • Modulación de la Fuerza
  • Distancia de la Fuerza (Espectroscopia de la Fuerza)
  • Microscopia de la Fuerza Eléctrica (EFM)
  • Microscopia de la Capacitancia de la Exploración (SCM)
  • Microscopia de Exploración de la Resistencia Que Se Extiende (SSRM)
  • Microscopia Atómica de la Fuerza el Hacer Un Túnel (ATÚN)
  • Microscopia Atómica Conductora de la Fuerza (CAFM)
  • Microscopia de Exploración el Hacer Un Túnel (STM)
  • Modo de Resonancia Torsional (TRmode)

Pliegos De Condiciones de la Dimensión

Con la Carga Híbrida de XYZ de la Dimensión

  • Rango X-Y de la exploración: cuadrado de los 90µm; - Rango de Z: Modo de la Proyección De Imagen: nominal los 8µm el ±6% o mejor
  • Modo de la Curva de la Fuerza: nominal los 7µm el ±6% o mejor
  • Suelo Vertical del ruido: <0.05nm RMS (bucle abierto en el ambiente apropiado)
  • Ausencia de linealidad X-Y Integral: el <1% típico
  • Ausencia de linealidad Integral de Z: el <1% típico
  • Nivel de ruidos X-Y: Feedback A Circuito Cerrado activado: <1.8nm RMS
  • Nivel de ruidos del Sensor X-Y: De Anillo Abierto: <1.2nm Adev (Ra)
  • Nivel de ruidos del Sensor de Z: Anchura de banda de la Curva de la Fuerza de 0.1Hz - 5KHz, máximo de 0.1nm RMS.
  • Máximo Típico de la anchura de banda 0.06nm RMS de la Proyección De Imagen.

Con la Carga De Anillo Abierto de la Dimensión

  • Rango X-Y de la exploración: cuadrado de ~90µm
  • Rango de Z: ~6µm
  • Exactitud Lateral típicamente dentro del 1%, máximo el 2%
  • Proporciona a la resolución de 16 bits completa en todas las hachas para todas las tallas y desplazamientos de la exploración

Tamaño de Muestra

  • diámetro de =150mm (=200mm con el mandril opcional)
  • =12mm densamente (adaptadores disponibles para muestras más gruesas)

Casquillos de la Muestra

  • mandril del vacío de 150m m para los discos duros, los fulminantes de semiconductor, y otras muestras
  • Adaptadores Permutables para centrar los discos duros
  • Contactos fulminante-que sitúan Movibles
  • Bomba de Vacío
  • Casquillo Magnético para el diámetro de las muestras 15m m y 6m m gruesos
  • mandril del vacío de 200m m para los fulminantes de 150m m y de 200m m (opcionales)

Escenario

  • Colocación motorizada Aumentada
  • área inspectable de 125m m x de 100m m
  • resolución de los 2µm
  • repetibilidad de los 3µm unidireccional (máximo del 10µm)
  • repetibilidad de los 4µm bidireccional para X-AXIS, los 6µm para Y-AXIS

Punta/Casquillos Voladizos

  • Modos el Golpear Ligeramente/de contacto
  • Casquillos de la Fuerza modulation/STM (opcionales)
  • Casquillo Flúido de la célula y de la punta para trabajar con el líquido, 7m m profundos (opcional)

La Óptica del Microscopio

  • área de visión del 150µm a de los 675µm
  • Zoom y enfoque Motorizados
  • resolución de ~1.5µm
  • iluminación controlada por ordenador
  • Captura de la Imagen de vídeo

Visión de la Punta

  • En-AXIS, en tiempo real vía la óptica del microscopio

Aislamiento de Vibración

  • Pista de la vibración del Silicón
  • Vector del aislamiento de Vibración (opcional)

Controlador Aéreo

  • NanoScope V

Requisitos de Alimentación

  • 700W; 100, 120, o 240V monofásico; 50 o 60Hz

Peso del Microscopio

  • ~150lb (68kg)

Nota: Los pliegos de condiciones de Funcionamiento son típicos y conforme a cambio sin previo aviso.

 

Esta información ha sido originaria, revisada y adaptada de los materiales proporcionados por las Superficies Nanas de Bruker.

Para más información sobre esta fuente visite por favor las Superficies Nanas de Bruker.

Date Added: Apr 24, 2008 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:29

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