Microscope de Sonde de Lecture de Cote des Surfaces Nanoes de Bruker, le SPM Le Plus Multifonction du Monde

Liste de Sujet

Mouvement Propre
NanoScope V - Le Meilleur Contrôleur du Monde
Facile-AFM Neuf pour la Productivité Maximum
Souplesse et Fonctionnalité En Suspens
L'Aptitude d'Application La Plus Large
Vaste Gamme de Techniques de SPM
Caractéristiques de la Cote V
Avec la Tête Hybride de la Cote XYZ
Avec la Tête De Boucle Ouverte de Cote
Taille de l'Échantillon
Supports Témoin
Stade
Extrémité/Supports En Porte-à-faux
Bloc Optique de Microscope
Visionnement d'Extrémité
Isolement de Vibration
Contrôleur
Puissances Requises
Grammage de Microscope

Mouvement Propre

La chaîne de Dimension® exécute toutes les techniques principales de microscopie de sonde de lecture et éventail de norme et d'applications avancées de caractérisation, lui effectuant le SPM le plus multifonction du monde. Le résultat de plus de 15 ans d'optimisation et d'amélioration de design, de la souplesse inégalée d'offres de Cote par l'intermédiaire d'un Contrôleur de cinquième génération ultra-rapide, du choix des balayeurs en boucle bloquée de XYZ et d'ouvert, et des nombreuses options de mode de représentation. Une foule d'autres caractéristiques novatrices et la performance remarquable effectuent la suite une de Cote des systèmes de SPM les plus recherchés dans la recherche et l'industrie.

  • Le Contrôleur de NanoScope® V Mesure l'extrémité-échantillon/dynamique en porte-à-faux (la saisie de données 50MHz)
  • Réduit le temps recherchant de petites caractéristiques techniques (la densité de pixel 5120x5120)
  • Les Affichages et saisit 8 images simultanément
  • Balayeur Hybride de XYZ pour des performances maximales
  • Fournit le bruit faible de senseur de Z
  • Idéal pour la spectroscopie avancée
  • Plate-forme modulaire Multifonction
  • Permet la large gamme de techniques de SPM
  • Grand stade témoin
  • Petit d'Images et grands spécimens en liquide ou air

Figure 1.Dimension V SPM

NanoScope V - Le Meilleur Contrôleur du Monde

Le Contrôleur neuf de NanoScope V de Bruker laisse des utilisateurs de Cote sortir du monde de RMS et vivre pendant le now. En fournissant la saisie des données 50MHz rapide, le Contrôleur neuf permet la mesure du l'extrémité-échantillon/de dynamique en porte-à-faux, permettant à des chercheurs d'étudier l'influence des propriétés mécaniques sur la physique des interactions de probesample. Les Chercheurs peuvent également sonder les spectres vibratoires en porte-à-faux en fonction de la séparation d'extrémité-échantillon.

Non seulement l'acquisition de données ultra-rapide sans précédent de ce Contrôleur avancé facilite-t-elle l'examen des calendriers précédemment inaccessibles aux utilisateurs de SPM, elle permet à la mesure du mouvement Brownien de recenser les crêtes résonnantes en porte-à-faux et d'étalonner la constante de source en porte-à-faux.

Le NanoScope V fournit les images de haut-pixeldensity, jusqu'à 5120 x 5120, réduisant le temps nécessaire pour rechercher les caractéristiques techniques à basse densité réparties sur des vastes zones, éliminant la nécessité de rebalayer en poursuivant le petit groupe amélioré sur les caractéristiques techniques cachées, et en décrivant la surface 100X mieux qu'une image avec 512 x 512 pixels. En Outre, la minimisation de la lecture répétée préserve l'intégrité d'échantillon.

Le NanoScope V permet à jusqu'à huit images d'être simultanément affichées en temps réel (et d'être saisies pour l'analyse) avec le taux signal/bruit sans précédent. C'est le seul système qui peut le capturer et affiche une image de friction dans la trace et la retrace, avec la hauteur et l'erreur aux setpoints multiples. Le système peut produire des images de hauteur, de fléchissement, de THON, et de deux tunnels de friction, ainsi que d'examen de tout le filetage et de toutes les voies de transmission de données de torsion simultanément.

La haute vitesse FPGA du Contrôleur de NanoScope V fournit le contrôle par retour de l'information dans 2µs avec le gain et la fréquence indépendants sur le contrôle digital de Q. Le Multiple indépendant verrou-dans des amplificateurs laissent fileter et torsion, harmoniques dans EFM, et observation d'un mouvement vertical et transversal évolué.

Le Schéma 2. La capture neuve de données haut débit permet à l'utilisateur de surveiller des interactions d'extrémité-échantillon pendant une force tirant l'expérience dans une échelle de temps qui n'était pas possible avant. La Figure b est un détail de la zone cerclée dans le Chiffre c du graphique A. est davantage de détail de la zone cerclée dans le graphique B.

Facile-AFM Neuf pour la Productivité Maximum

Pour l'éventuel dans la simplicité de fonctionnement profilée, les offres Faciles-AFM™ un intuitif, facile-à-suivent l'interface graphique utilisateur pour les utilisateurs neufs ou occasionnels de SPM. Il réduit le moment pour la première installation en réglant automatiquement les paramètres de lecture, et en obtenant la haute qualité TappingMode™ dans des images d'air sur la plupart des échantillons à une poussée d'un bouton. Le Facile-AFM est idéal pour des environnements multi-utilisateurs.

Souplesse et Fonctionnalité En Suspens

Une gamme étendue de fonctionnements est fournis pour régler le SPM pour des expériences et la recherche faites sur commande de nanoscale (par exemple, nanomanipulation dans X, Y, et Z ; lecture robotisée ; nanolithography avec différentes interactions de tipsample). Ces fonctionnements peuvent également être appelés de n'importe quel langage de programmation qui peut agir en tant qu'usager du Modèle Objet Constitutif de Microsoft (COM), y compris LabVIEW, et MATLAB™. Performance Non Surpassée avec la Tête de l'Hybride XYZ

Le système de Cote est offert avec un choix de la tête de l'Hybride XYZ ou de la tête de boucle ouverte de Cote normale. Chacun de ces balayeurs est construit avec de rigide, les matériaux de faible-vibration qui garantissent des caractéristiques à faible bruit tout en fournissant la fiabilité supérieure.

Le balayeur Hybride de la Cote XYZ offre le bruit inférieur de senseur de Z et combine les avantages de la technologie industryleading de balayeur de tube avec un balayeur sensored seulement conçu de Z pour fournir la performance révolutionnaire dans un balayeur gyroscopique de boucle fermée. Ces possibilités avancées permettent pour exécuter les courbures hautement précises de force et « tirer » des techniques, tout en fournissant toujours des images haute résolution. Le contrôle par retour de l'information En Boucle Bloquée fournit au contrôle DE X/Y précis pour le nanomanipulation, les échographies linéaires qui sont précises et l'indépendant du décalage DE X/Y et balaye la taille/cornière.

En Raison du seul bureau d'études du balayeur, le ramassage de données topographiques précises exige l'étalonnage moins fréquent et vaste que d'autres balayeurs.

Les échographies principales de boucle ouverte de Cote jusqu'à 90µm dans DE X/Y et jusqu'à 6µm dans le Z. Ce balayeur comprend un balayeur piézoélectrique de tube, un laser, et un détecteur optique de quadrature. Il emploie la poursuite laser avancée pour s'assurer que le faisceau laser se réfléchit hors du même endroit sur l'encorbellement dans tous des balayages par ligne, mettant à jour une force constante et faible d'extrémité-échantillon au-dessus de la zone entière d'échographie. Ce chef met à jour également les faibles niveaux de bruit nécessaires pour résoudre des phases atomiques uniques sur les films minces épitaxiaux, ou l'aspérité de mesure de sous-Angström sur les surfaces ultrasmooth.

L'Aptitude d'Application La Plus Large

En plus de la lecture, de l'électronique, et de la performance supérieures, la Cote emploie beaucoup d'autres fonctionnalités de création novatrices et multifonction. Un grand stade témoin laisse balayer des spécimens jusqu'à 8 pouces de diamètre et éventuellement 4 po. d'épaisseur. Il a la capacité de balayer dans l'air ou le liquide et offre une foule de modes ajoutés de représentation. La Cote a l'excellente fiabilité de mesure et d'analyse pour une vaste gamme d'applications comprenant :

  • Matériaux Électroniques
  • Films minces
  • Matériaux Avancés
  • Tribologie
  • MEMS/NEMS
  • Biotechnologie

Vaste Gamme de Techniques de SPM

La Cote fournit des chercheurs la plate-forme éventuelle et expansible pour des modes de lecture normaux et avancés de SPM comprenant :

  • Mode de Contact
  • TappingMode
  • PhaseImaging
  • Microscopie de Force Transversale (LFM)
  • Microscopie de Force Magnétique (MFM)
  • Modulation de Force
  • Distance de Force (Spectroscopie de Force)
  • Microscopie de Force Électrique (EFM)
  • Microscopie de Capacité de Lecture (SCM)
  • Microscopie de Balayage de Résistance de Propagation (SSRM)
  • Microscopie Atomique de Force de Perçage D'un Tunnel (THON)
  • Microscopie Atomique Conductrice de Force (CAFM)
  • Microscopie de Balayage de Perçage D'un Tunnel (STM)
  • Mode de Résonance De Torsion (TRmode)

Caractéristiques de Cote

Avec la Tête Hybride de la Cote XYZ

  • Domaine DE X/Y d'échographie : carré de 90µm ; - Chaîne de Z : Mode de Représentation : nominal 8µm ±6% ou meilleur
  • Mode de Courbure de Force : nominal 7µm ±6% ou meilleur
  • Étage Vertical de bruit : <0.05nm RMS (boucle ouverte dans l'environnement approprié)
  • Non-linéarité DE X/Y Intégrale : <1% particulier
  • Non-linéarité Intégrale de Z : <1% particulier
  • Niveau sonore DE X/Y : Contrôle par retour de l'information En Boucle Bloquée lancé : <1.8nm RMS
  • Niveau sonore DE X/Y de Senseur : De Boucle Ouverte : <1.2nm Adev (Ra)
  • Niveau sonore de Senseur de Z : Largeur de bande de Courbure de Force de 0.1Hz - 5KHz, maximum de 0.1nm RMS.
  • Maximum Particulier de la largeur de bande 0.06nm RMS de Représentation.

Avec la Tête De Boucle Ouverte de Cote

  • Domaine DE X/Y d'échographie : carré de ~90µm
  • Chaîne de Z : ~6µm
  • Exactitude Transversale type à moins de 1%, maximum 2%
  • Fournit la pleine résolution de 16 bits concernant toutes les haches pour tous les tailles et décalages d'échographie

Taille de l'Échantillon

  • diamètre de =150mm (=200mm avec le mandrin optionnel)
  • =12mm profondément (adaptateurs disponibles pour des échantillons plus épais)

Supports Témoin

  • mandrin d'aspirateur de 150mm pour des disques durs, des disques de semi-conducteur, et d'autres échantillons
  • Adaptateurs Interchangeables pour centrer des disques durs
  • Goupilles de disque-site Amovibles
  • Pompe à vide
  • Support Magnétique pour le diamètre témoins 15mm et 6mm épais
  • mandrin d'aspirateur de 200mm pour des disques de 150mm et de 200mm (optionnels)

Stade

  • Positionner motorisé Amélioré
  • zone inspectable de 125mm x de 100mm
  • définition de 2µm
  • répétabilité de 3µm unidirectionnelle (maximum de 10µm)
  • répétabilité de 4µm bidirectionnelle pour l'Axe Des Abscisses, 6µm pour l'Axe des y

Extrémité/Supports En Porte-à-faux

  • Modes de Filetage/contact
  • Supports de la Force modulation/STM (optionnels)
  • Support Liquide de cellules et d'extrémité pour fonctionner avec le liquide, 7mm profonds (optionnel)

Bloc Optique de Microscope

  • zone de visionnement de 150µm à de 675µm
  • Zoom et foyer Motorisés
  • définition de ~1.5µm
  • illumination commandée par ordinateur
  • Capture d'Image vidéo

Visionnement d'Extrémité

  • Sur-Axe, temps réel par l'intermédiaire de bloc optique de microscope

Isolement de Vibration

  • Tampon de vibration de Silicone
  • Table d'isolement de Vibration (optionnelle)

Contrôleur

  • NanoScope V

Puissances Requises

  • 700W ; 100, 120, ou 240V monophasé ; 50 ou 60Hz

Grammage de Microscope

  • ~150lb (68kg)

Note : Les spécifications de Performances sont sujettes particulières et à la modification sans préavis.

 

Cette information a été originaire, révisée et adaptée des matériaux fournis par des Surfaces de Nano de Bruker.

Pour plus d'informations sur cette source visitez s'il vous plaît les Surfaces de Nano de Bruker.

Date Added: Apr 24, 2008 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:09

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