Microscopio della Sonda di Scansione di Dimensione dalle Superfici Nane di Bruker, lo SPM Più Multifunzionale del Mondo

Lista di Argomento

Sfondo
NanoScope V - Il Migliore Regolatore del Mondo
Nuovo Facile-AFM per Produttività Massima
Flessibilità e Funzionalità Eccezionali
Più Ampia Idoneità di Applicazione
Esteso Intervallo delle Tecniche di SPM
Specifiche di Dimensione V
Con la Testa Ibrida di XYZ di Dimensione
Con la Testa Ad Anello Aperto di Dimensione
Dimensione del Campione
Supporti del Campione
Fase
Suggerimento/Supporti A Mensola
Ottica del Microscopio
Visualizzazione del Suggerimento
Isolamento Antivibrante
Regolatore
Requisiti di Potenza
Peso del Microscopio

Sfondo

L'intervallo di Dimension® esegue tutte le tecniche principali di microscopia della sonda di scansione e la vasta gamma di standard e di applicazioni avanzate di caratterizzazione, rendentegi lo SPM più multifunzionale del mondo. Il risultato di più di 15 anni di ottimizzazione e di potenziamento di progettazione, della flessibilità ineguagliata di offerte di Dimensione via un regolatore di quinta generazione ad alta velocità, della scelta di XYZ a circuito chiuso e degli scanner di openloop e di numerose opzioni di modo di rappresentazione. Una miriade di altre funzionalità innovarici e la prestazione eccezionale fanno la serie una di Dimensione dei sistemi di SPM più richiesti nella ricerca e nell'industria.

  • Il regolatore di NanoScope® V Misura il suggerimento-campione/dinamica a mensola (acquisizione di dati 50MHz)
  • Diminuisce il tempo che cerca le piccole funzionalità (densità del pixel 5120x5120)
  • Le Visualizzazioni & acquista simultaneamente 8 immagini
  • Scanner Ibrido di XYZ per la prestazione massima
  • Consegna il disturbo basso del sensore di Z
  • Ideale per la spettroscopia avanzata
  • Piattaforma modulare Multifunzionale
  • Permette la vasta gamma delle tecniche di SPM
  • Grande fase del campione
  • Immagini piccole & grandi esemplari in liquido o aria

Figura 1.Dimension V SPM

NanoScope V - Il Migliore Regolatore del Mondo

Il nuovo regolatore del NanoScope V di Bruker lascia gli utenti di Dimensione uscire del mondo di RMS e vivere nel now. Fornendo l'acquisizione di dati veloce 50MHz, il nuovo regolatore permette la misura del suggerimento-campione/della dinamica a mensola, permettendo ai ricercatori di studiare l'influenza dei beni meccanici sulla fisica delle interazioni del probesample. I Ricercatori possono anche sondare gli spettri vibratorii a mensola in funzione della separazione del suggerimento-campione.

Non solo il dell'acquisizione dei dati ad alta velocità senza precedenti di questo regolatore avanzato facilita l'esame delle scale cronologiche precedentemente inaccessibili agli utenti di SPM, permette che la misura di moto Browniano identifichi i picchi sonori a mensola e calibri la costante della sorgente a mensola.

Il NanoScope V consegna le immagini alte--pixeldensity, fino a 5120 x 5120, diminuendo il tempo richiesto per cercare le funzionalità a bassa densità distribuite sopra le ampie aree, eliminanti la necessità di pre-esplorare quando perseguendo il dettaglio migliorato sulle funzionalità nascoste e descrivendo la superficie 100X meglio di un'immagine con 512 x 512 pixel. Ancora, la minimizzazione dello scansione ripetuto conserva l'integrità del campione.

Il NanoScope V permette a fino a otto immagini di essere video simultaneamente in tempo reale (e di acquistarsi per analisi) con il rapporto segnale-rumore senza precedenti. Ciò è il solo sistema che può catturare e video un'immagine di attrito nella traccia e ritraccia, con altezza e l'errore ai setpoints multipli. Il sistema può produrre le immagini di altezza, di deformazione, dello SGOMBRO e di due canali di attrito come pure di esame di tutta la spillatura e di tutti i canali di dati di torsione simultaneamente.

FPGA ad alta velocità del regolatore di NanoScope V consegna il feedback in 2µs con guadagno indipendente e frequenza su controllo digitale di Q. L'indipendente Multiplo blocco-in amplificatori permette di spillare e torsione, armoniche in EFM ed osservazione di un movimento verticale e laterale più di ordine alto.

Figura 2. La nuova acquisizione di dati ad alta velocità permette che l'utente rifletta le interazioni del suggerimento-campione durante la forza che tira l'esperimento in una cronologia genealogica che non era prima possibile. La Figura b è un dettaglio dell'area circondata nella la Figura c del grafico A. è ulteriore dettaglio dell'area circondata nel grafico B.

Nuovo Facile-AFM per Produttività Massima

Per l'ultimo nella semplicità operativa aerodinamica, nelle offerte Facili-AFM™ un'interfaccia utente grafica intuitiva e facile da seguire per i nuovi o utenti rari di SPM. Diminuisce il momento per l'impostazione iniziale automaticamente regolando i parametri di scansione ed ottenendo l'alta qualità TappingMode™ nelle immagini dell'aria sulla maggior parte dei campioni ad una spinta di un bottone. Il Facile-AFM è ideale per gli ambienti multiutenti.

Flessibilità e Funzionalità Eccezionali

Una vasta gamma di funzioni è svolta per gestire lo SPM per gli esperimenti e la ricerca su ordinazione del nanoscale (per esempio, nanomanipulation nella X, in Y e nella Z; scansione automatizzato; nanolithography con differenti interazioni del tipsample). Queste funzioni possono anche essere chiamate da tutto il linguaggio di programmazione che può fungere da cliente di Component Object Model di Microsoft (COM), compreso LabVIEW e MATLAB™. Prestazione Insuperata con la Testa Ibrida di XYZ

Il sistema di Dimensione è offerto con una scelta della testa Ibrida di XYZ o della testa ad anello aperto di Dimensione standard. Ciascuno di questi scanner è costruito con rigido, materiali di basso vibrazione che garantiscono le specifiche a basso rumore mentre forniscono l'affidabilità superiore.

Le offerte Ibride dello scanner di XYZ di Dimensione abbassano il disturbo e le associazioni del sensore di Z i vantaggi della tecnologia leader del settore dello scanner del tubo con uno scanner sensored unicamente progettato di Z consegnare la prestazione rivoluzionaria in uno scanner giroscopico del circuito chiuso. Queste capacità avanzate permettono di eseguire le curve altamente accurate della forza e “la trazione„ delle tecniche, mentre ancora consegnano le immagini ad alta definizione. Il feedback A Circuito Chiuso fornisce il controllo DI X-Y preciso per il nanomanipulation, le scansioni lineari che sono accurate ed indipendenti dalla stampa offset DI X-Y e scandiscono la dimensione/angolo.

dovuto l'assistenza tecnica unica dello scanner, la raccolta dei dati topografici accurati richiede la calibratura meno frequente ed estesa che altri scanner.

Le scansioni cape ad anello aperto di Dimensione fino ad un massimo di 90µm in DI X-Y e fino a 6µm nello Z. Questo scanner include uno scanner piezoelettrico del tubo, un laser e un rivelatore ottico di quadratura. Usa tenere la carreggiata di laser avanzato per assicurare che il raggio laser rifletta fuori dallo stesso punto sulla trave a mensola in tutto le scansioni raster, mantenenti una forza costante e bassa del suggerimento-campione sopra l'intera area di scansione. Questa testa egualmente mantiene i livelli a basso rumore necessari per la risoluzione dei punti atomici singoli sulle pellicole sottili epitassiali, o la rugosità di superficie di misurazione dell'sotto-Angstrom sulle superfici ultrasmooth.

Più Ampia Idoneità di Applicazione

Oltre allo scansione, all'elettronica ed alla prestazione superiori, la Dimensione utilizza molte altre caratteristiche del progetto innovarici e multifunzionali. Una grande fase del campione permette di scandire gli esemplari fino a 8 pollici di diametro e facoltativamente spesso 4 pollici. Ha la capacità di scandire in aria o in liquido ed offre una miriade di modi aggiunti della rappresentazione. La Dimensione ha affidabilità eccellente dell'analisi e di misura per una vasta gamma di applicazioni compreso:

  • Materiali Elettronici
  • Pellicole Sottili
  • Materiali Avanzati
  • Tribologia
  • MEMS/NEMS
  • Biotecnologia

Esteso Intervallo delle Tecniche di SPM

La Dimensione fornisce ai ricercatori l'ultima, piattaforma estensibile per sia i modi di scansione standard che avanzati di SPM compreso:

  • Modo di Contatto
  • TappingMode
  • PhaseImaging
  • Microscopia della Forza Laterale (LFM)
  • Microscopia della Forza Magnetica (MFM)
  • Modulazione della Forza
  • Distanza della Forza (Spettroscopia della Forza)
  • Microscopia della Forza Elettrica (EFM)
  • Microscopia di Capacità di Scansione (SCM)
  • Microscopia di Scansione di Resistenza di Diffusione (SSRM)
  • Microscopia Atomica della Forza di Traforo (SGOMBRO)
  • Microscopia Atomica Conduttiva della Forza (CAFM)
  • Microscopia di Scansione di Traforo (STM)
  • Modo di Risonanza Di Torsione (TRmode)

Specifiche di Dimensione

Con la Testa Ibrida di XYZ di Dimensione

  • Intervallo DI X-Y di scansione: quadrato di 90µm; - Intervallo di Z: Modo di Rappresentazione: termine nominale 8µm ±6% o migliore
  • Modo della Curva della Forza: termine nominale 7µm ±6% o migliore
  • Rumore di fondo Verticale: <0.05nm RMS (ciclo aperto nell'ambiente appropriato)
  • Non linearità DI X-Y Integrale: <1% tipico
  • Non linearità Integrale di Z: <1% tipico
  • Livello acustico DI X-Y: Feedback A Circuito Chiuso attivato: <1.8nm RMS
  • Livello acustico DI X-Y del Sensore: Ad Anello Aperto: <1.2nm Adev (Ra)
  • Livello acustico del Sensore di Z: Larghezza di banda della Curva della Forza di 0.1Hz - 5KHz, massimo di 0.1nm RMS.
  • Massimo Tipico di larghezza di banda 0.06nm RMS di Rappresentazione.

Con la Testa Ad Anello Aperto di Dimensione

  • Intervallo DI X-Y di scansione: quadrato di ~90µm
  • Intervallo di Z: ~6µm
  • Accuratezza Laterale tipicamente all'interno di 1%, massimo 2%
  • Fornisce la risoluzione completa di 16 bit su tutte le asce per tutte le dimensioni e stampe offset di scansione

Dimensione del Campione

  • diametro di =150mm (=200mm con il mandrino facoltativo)
  • =12mm densamente (adattatori disponibili per i campioni più spessi)

Supporti del Campione

  • mandrino di vuoto di 150mm per i dischi rigidi, i wafer a semiconduttore ed altri campioni
  • Adattatori Intercambiabili per concentrarsi i dischi rigidi
  • Perni diposizionamento Smontabili
  • Pulsometro
  • Supporto Magnetico per il diametro dei campioni 15mm e 6mm spessi
  • mandrino di vuoto di 200mm per i wafer di 200mm e di 150mm (facoltativi)

Fase

  • Posizionamento motorizzato Migliorato
  • area inspectable di 100mm x di 125mm
  • risoluzione di 2µm
  • ripetibilità di 3µm unidirezionale (massimo di 10µm)
  • ripetibilità di 4µm bidirezionale per l'Ascissa, 6µm per l'Asse y

Suggerimento/Supporti A Mensola

  • Modi contatto/di Spillatura
  • Supporti della Forza modulation/STM (facoltativi)
  • Supporto Fluido del suggerimento e delle cellule per il lavoro con il liquido, 7mm profondi (facoltativo)

Ottica del Microscopio

  • area d'esame di 675µm - di 150µm
  • Zoom e fuoco Motorizzati
  • risoluzione di ~1.5µm
  • illuminazione controllata da computer
  • Bloccaggio di Immagine video

Visualizzazione del Suggerimento

  • Su Asse, in tempo reale via l'ottica del microscopio

Isolamento Antivibrante

  • Cuscinetto di vibrazione del Silicone
  • Tabella di isolamento antivibrante (facoltativa)

Regolatore

  • NanoScope V

Requisiti di Potenza

  • 700W; 100, 120, o 240V monofase; 50 o 60Hz

Peso del Microscopio

  • ~150lb (68kg)

Nota: Le specifiche di Prestazione sono tipiche e conforme a cambiamento senza preavviso.

 

Questi informazioni sono state originarie, esaminate ed adattate dai materiali forniti dalle Superfici Nane di Bruker.

Per ulteriori informazioni su questa sorgente visualizzi prego le Superfici Nane di Bruker.

Date Added: Apr 24, 2008 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:14

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