Microscópio da Ponta De Prova da Exploração da Dimensão das Superfícies Nano de Bruker, o SPM o mais Multifuncional do Mundo

Lista do Assunto

Fundo
NanoScope V - O Melhor Controlador do Mundo
Fácil-AFM Novo para a Produtividade Máxima
Flexibilidade e Funcionalidade Proeminentes
A Conformidade A Mais Larga da Aplicação
Escala Extensiva de Técnicas de SPM
Especificações da Dimensão V
Com Cabeça Híbrida da Dimensão XYZ
Com Cabeça do Aberto-Laço da Dimensão
Tamanho da Amostra
Suportes da Amostra
Fase
Ponta/Suportes do Modilhão
Sistema Ótico do Microscópio
Visão da Ponta
Isolamento de Vibração
Controlador
Exigências de Potência
Peso do Microscópio

Fundo

A escala de Dimension® executa todas as técnicas principais da microscopia da ponta de prova da exploração e a escala a mais larga do padrão e de aplicações avançadas da caracterização, fazendo lhe o SPM o mais multifuncional do mundo. O resultado de mais de 15 anos de optimização e de realce de projecto, da flexibilidade ímpar das ofertas da Dimensão através de um controlador de alta velocidade da quinto-geração, da escolha do circuito fechado XYZ e dos varredores do openloop, e de opções numerosas do modo da imagem lactente. Um anfitrião de outras características inovativas e o desempenho proeminente fazem a série uma da Dimensão do mais procurar-após sistemas de SPM na pesquisa e na indústria.

  • O controlador de NanoScope® V Mede a dinâmica da ponta-amostra/modilhão (a captação de dados 50MHz)
  • Reduz o tempo que procura características pequenas (a densidade do pixel 5120x5120)
  • Os Indicadores & adquirem 8 imagens simultaneamente
  • Varredor Híbrido do XYZ para o desempenho máximo
  • Entrega o baixo ruído do sensor de Z
  • Ideal para espectroscopia avançada
  • Plataforma modular Multifuncional
  • Permite a vasta gama de técnicas de SPM
  • Grande fase da amostra
  • Imagens pequenas & grandes espécimes no líquido ou no ar

Figura 1.Dimension V SPM

NanoScope V - O Melhor Controlador do Mundo

O controlador novo do NanoScope V de Bruker deixa usuários da Dimensão sair do mundo do RMS e viver no now. Fornecendo a captação de dados 50MHz rápida, o controlador novo permite a medida da dinâmica da ponta-amostra/modilhão, permitindo pesquisadores de estudar a influência de propriedades mecânicas na física de interacções do probesample. Os Pesquisadores podem igualmente sondar espectros vibracionais do modilhão em função da separação da ponta-amostra.

Não somente o por aquisição de dados de alta velocidade inaudito deste controlador avançado facilita o exame dos calendários previamente inacessíveis aos usuários de SPM, permite que a medida do movimento Brownian identifique picos ressonantes do modilhão e calibre a constante da mola de modilhão.

O NanoScope V entrega as imagens altas-pixeldensity, até 5120 x 5120, reduzindo o tempo exigido para procurarar pelas características de baixa densidade distribuídas sobre as grandes áreas, eliminando a necessidade de tornar a varrer quando levando a cabo o detalhe aumentado em características escondidas, e descrevendo a superfície 100X melhor do que uma imagem com os 512 x 512 pixéis. Além Disso, a minimização da exploração repetida preserva a integridade da amostra.

O NanoScope V permite até oito imagens de ser indicado simultaneamente no tempo real (e de ser adquirido para a análise) com relação de relação sinal-ruído inaudita. Este é o único sistema que pode capturar e indica uma imagem da fricção no traço e a reconstitui, junto com a altura e o erro em setpoints múltiplos. O sistema pode produzir imagens da altura, da deflexão, do ATUM, e dos dois canais de fricção, assim como do exame de toda a batida e de todos os canais de dados da torsão simultaneamente.

O FPGA de alta velocidade do controlador de NanoScope V entrega o feedback em 2µs com ganho e freqüência independentes no controle digital de Q. O Múltiplo independente fechamento-em amplificadores permite bater e torsão, harmónicos em EFM, e observação de um movimento vertical e lateral de ordem superior.

Figura 2. A captação de dados de alta velocidade nova permite que o usuário monitore interacções da ponta-amostra durante uma força que puxa a experiência em uma escala de tempo que não seja possível antes. A Figura b é um detalhe da área circundada na Figura c do gráfico A. é um detalhe mais adicional da área circundada no gráfico B.

Fácil-AFM Novo para a Produtividade Máxima

Para o final em simplicidade operacional aerodinâmica, em ofertas Fáceis-AFM™ uma interface de utilizador gráfica intuitiva, fácil de seguir para usuários novos ou raros de SPM. Reduz o momento para a instalação inicial automaticamente ajustando os parâmetros da exploração, e obtendo a alta qualidade TappingMode™ em imagens do ar na maioria de amostras em um impulso de um botão. O Fácil-AFM é ideal para ambientes do multi-usuário.

Flexibilidade e Funcionalidade Proeminentes

Uma grande escala das funções é fornecida para controlar o SPM para experiências e a pesquisa feitas sob encomenda do nanoscale (por exemplo, nanomanipulation em X, em Y, e em Z; exploração automatizada; nanolithography com interacções diferentes do tipsample). Estas funções podem igualmente ser chamadas de toda a linguagem de programação que puder actuar como um cliente do Modelo de Objeto Componente de Microsoft (COM), incluindo LabVIEW, e MATLAB™. Desempenho Absoluto com a Cabeça do Híbrido XYZ

O sistema da Dimensão é oferecido com uma escolha da cabeça do Híbrido XYZ ou da cabeça padrão do aberto-laço da Dimensão. Cada Um destes varredores é construído de rígidos, os materiais da baixo-vibração que garantem especificações de baixo nível de ruído ao fornecer a confiança superior.

O varredor Híbrido da Dimensão XYZ oferece um mais baixo ruído do sensor de Z e combina os benefícios da tecnologia industryleading do varredor da câmara de ar com um varredor sensored excepcionalmente projetado de Z para entregar o desempenho revolucionário em um varredor do circuito fechado da três-linha central. Estas capacidades avançadas tornam possível executar curvas altamente exactas da força e “puxar” técnicas, ao ainda entregar imagens de alta resolução. O feedback do Circuito Fechado fornece o controle X-Y preciso para o nanomanipulation, as varreduras lineares que são exactas e o independente do offset X-Y e faz a varredura do tamanho/ângulo.

Devido à engenharia original do varredor, a coleção de dados topográficos exactos exige a calibração menos freqüente e extensiva do que outros varredores.

A cabeça do aberto-laço da Dimensão faz a varredura de até 90µm em X-Y e de até 6µm no Z. Este varredor inclui um varredor piezoeléctrico da câmara de ar, um laser, e um detector óptico da quadratura. Usa seguimento de laser avançado para assegurar-se de que o raio laser reflicta fora do mesmo ponto no modilhão durante todo as varreduras de quadriculação, mantendo uma força constante, baixa da ponta-amostra sobre a área inteira da varredura. Esta cabeça igualmente mantem os níveis de baixo nível de ruído necessários para resolver únicas etapas atômicas em filmes finos epitaxial, ou a aspereza de superfície de medição do secundário-Ångström em superfícies ultrasmooth.

A Conformidade A Mais Larga da Aplicação

Além do que a exploração, a eletrônica, e o desempenho superiores, a Dimensão utiliza muitas outras características de projecto inovativas, multifuncionais. Uma grande fase da amostra permite fazer a varredura de espécimes até 8 polegadas no diâmetro e opcionalmente 4 polegadas grosso. Tem a capacidade para fazer a varredura no ar ou no líquido e oferece um anfitrião de modos auxiliares da imagem lactente. A Dimensão tem a confiança excelente da medida e da análise para uma escala vasta de incluir das aplicações:

  • Materiais Eletrônicos
  • Filmes Finos
  • Materiais Avançados
  • Tribology
  • MEMS/NEMS
  • Biotecnologia

Escala Extensiva de Técnicas de SPM

A Dimensão fornece pesquisadores a plataforma final, expansível para incluir padrão e avançado dos modos de exploração de SPM:

  • Modo de Contacto
  • TappingMode
  • PhaseImaging
  • Microscopia da Força Lateral (LFM)
  • Microscopia da Força Magnética (MFM)
  • Modulação da Força
  • Distância da Força (Espectroscopia da Força)
  • Microscopia da Força Elétrica (EFM)
  • Microscopia da Capacidade da Exploração (SCM)
  • Microscopia de Varredura da Resistência de Espalhamento (SSRM)
  • Microscopia Atômica da Força da Escavação De Um Túnel (ATUM)
  • Microscopia Atômica Condutora da Força (CAFM)
  • Microscopia de Varredura da Escavação De Um Túnel (STM)
  • Modo de Ressonância De Torção (TRmode)

Especificações da Dimensão

Com Cabeça Híbrida da Dimensão XYZ

  • Escala X-Y da varredura: quadrado de 90µm; - Escala de Z: Modo da Imagem Lactente: substantivo 8µm ±6% ou melhor
  • Modo da Curva da Força: substantivo 7µm ±6% ou melhor
  • Assoalho Vertical do ruído: <0.05nm RMS (laço aberto no ambiente apropriado)
  • Não-linearidade X-Y Integral: <1% típico
  • Não-linearidade Integral de Z: <1% típico
  • Nível de ruído X-Y: Feedback do Circuito Fechado ativado: <1.8nm RMS
  • Nível de ruído X-Y do Sensor: Aberto-Laço: <1.2nm Adev (Ra)
  • Nível de ruído do Sensor de Z: Largura de faixa da Curva da Força de 0.1Hz - 5KHz, máximo de 0.1nm RMS.
  • Máximo Típico da largura de faixa 0.06nm RMS da Imagem Lactente.

Com Cabeça do Aberto-Laço da Dimensão

  • Escala X-Y da varredura: quadrado de ~90µm
  • Escala de Z: ~6µm
  • Precisão Lateral tipicamente dentro de 1%, máximo 2%
  • Fornece a definição de 16 bits completa em todos os machados para todos os tamanhos e offsets da varredura

Tamanho da Amostra

  • diâmetro de =150mm (=200mm com mandril opcional)
  • =12mm densamente (adaptadores disponíveis para amostras mais grossas)

Suportes da Amostra

  • mandril do vácuo de 150mm para discos rígidos, bolachas de semicondutor, e outras amostras
  • Adaptadores Permutáveis para centrar discos rígidos
  • Pinos delocalização Removíveis
  • Bomba de Vácuo
  • Suporte Magnético para o diâmetro das amostras 15mm e 6mm grossos
  • mandril do vácuo de 200mm para as bolachas de 150mm e de 200mm (opcionais)

Fase

  • Posicionamento motorizado Aumentado
  • área inspectable de 125mm x de 100mm
  • definição de 2µm
  • repetibilidade de 3µm unidireccional (máximo de 10µm)
  • repetibilidade de 4µm bidireccional para a X-Linha Central, 6µm para a Y-Linha Central

Ponta/Suportes do Modilhão

  • Modos da Batida/contacto
  • Suportes da Força modulation/STM (opcionais)
  • Suporte Fluido da pilha e da ponta para trabalhar com líquido, 7mm profundos (opcional)

Sistema Ótico do Microscópio

  • área de vista de 150µm a de 675µm
  • Zoom e foco Motorizados
  • definição de ~1.5µm
  • iluminação controlada por computador
  • Captação da Imagem vídeo

Visão da Ponta

  • Em-Linha Central, tempo real através do sistema ótico do microscópio

Isolamento de Vibração

  • Almofada da vibração do Silicone
  • Tabela do isolamento de Vibração (opcional)

Controlador

  • NanoScope V

Exigências de Potência

  • 700W; 100, 120, ou 240V monofásico; 50 ou 60Hz

Peso do Microscópio

  • ~150lb (68kg)

Nota: As especificações de Rendimento são típicas e sujeitas mudar sem aviso prévio.

 

Esta informação foi originária, revista e adaptada dos materiais fornecidos por Superfícies Nano de Bruker.

Para obter mais informações sobre desta fonte visite por favor Superfícies Nano de Bruker.

Date Added: Apr 24, 2008 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:25

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