Endlosschleifen-Mehrmodenscanner von Bruker

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Hintergrund
MehrmodenRegelScanner
Bedingungen

Hintergrund

Der MehrmodenRegelScanner fügt Genauigkeit und Bequemlichkeit der legendären Leistung und der Vielseitigkeit vom Mehrmoden hinzu.

  • Maßgenauigkeit und großer Arbeitsbereich
  • Summen Sie Leicht herein laut, um Regionen von Zinsen zu fordern
  • Genaue „Punkt-undtrieb“ Kraft Kurven- und Kraftvolumenmaße
  • Präzision nanolithography mit wahlweisenanoman-Software

MehrmodenRegelScanner

Der MehrmodenRegelScanner holt die Richtigkeit und Genauigkeit der Regelung zum Mehrmoden. Sie müssen nicht mehr zwischen einem SPM, das Ultrahochauflösungsdarstellung anbieten und einem wählen, welches die Genauigkeit und die Bequemlichkeit von Closed-loop anbietet. Die Modularbauweise vom Mehrmoden macht es einfach, zwischen einen Regelscanner für routinemäßigen Gebrauch und einen offenen Regelkreis- Scanner für Ultrahochauflösungsarbeit zu schalten. Darüber hinaus genießen Sie die gleiche Benutzerfreundlichkeit, Zuverlässigkeit und Halterung, die Mehrmoden den Leistungsführer in SPM-Technologie gemacht hat.

Regelung bietet einigen Nutzen für Darstellungsanwendungen und Kraftmessungsanwendungen an sowie aktiviert genaues nanolithography und Nano-manipulation. Ist Nicht nur Darstellung genauer, aber es ist auch bequemer, weil Sie genau laut summen und scannen können, wo Sie wünschen. Für Kraftmessungen macht Haben von Closedloopregelung es einfach, spezielle Bereiche oder Zellen unter Verwendung unseres „Punktes anzuvisieren und Merkmal zu schießen“ oder Kraftvolumen oder Nano-einrückung Reihen über gut definierten Bereichen durchzuführen. Und selbstverständlich verlangen nanolithography und Nano-manipulation wirklich die Genauigkeit, die durch Closed-loop angeboten wird, um hochwertige Ergebnisse zu erzielen. 

Der MehrmodenRegelScanner erhöht das Ausgezeichnete Mehrmodenansehen für Leistung, Produktivität, Zuverlässigkeit und Benutzerfreundlichkeit.

Abbildung 1. Gelassen: TappingMode-Bild von Celgard-Membran, 1.5μm Scan Recht: TappingMode-Bild des Rattenheckkollagens, 2.5μm Scan

Abbildung 2. Gelassen: TappingMode-Höhenbild der Diskette, 100μm Scan Recht: MFM-Phasenbild des gleichen Bereich eingelassenen LiftMode

Abbildung 3. Gelassen: TappingMode-Höhenbild von EFM-Prüfling, 11μm Scan Recht: EFM-Phasenbild des gleichen Bereich eingelassenen LiftMode. Die Mittelelektrode wurde an einer anderen Spannungsvorspannung als die zwei äußeren Elektroden angehalten.

Bedingungen

  • Unterstützte Konfiguration Mehrmoden mit Controller NanoScope V.
  • Arbeitsbereich X-Y: 100 μm, Z: μm 15
  • Fühler Geräusche X-Y: <2 nm EFFEKTIVWERT, Z: <0.4 nm EFFEKTIVWERT
  • Linearitäten Fehler X-Y: <0.05%, Z: <0.05%
  • TappingMode-Geräusch-Prüfung <1 Å EFFEKTIVWERT mit Schwingungsisolierung
  • Unterstützter Modus-Kontakt, TappingMode, Phase, LFM,
  • Dreh- Resonanz, MFM, Kraft
  • Spektroskopie, Kraft-Volumen, Kraft
  • Modulation, EFM1, OberflächenPotenzial1.
  • Nanomanipulation und Nanolithography
  • unterstützt mit wahlweisesoftware. Anmerkung:
  • Flüssige Darstellung nicht empfohlen.
  • Applikationsmoduln SCM1, THUNFISCH1, SSRM1, CAFM1

1. Beispielvorspannung muss durch Frontabdeckung NanoScope V außen angeschlossen werden. Anmerkung: Leistung specifcations sind und abhängig von Änderung ohne vorherige Ankündigung typisch.

Diese Informationen sind Ursprungs- angepasst gewesen, wiederholt und von den Materialien, die von Nano-Oberflächen Bruker bereitgestellt werden.

Zu mehr Information über diese Quelle besuchen Sie bitte Nano-Oberflächen Bruker.

Date Added: Apr 24, 2008 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:11

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