Analizador Con varios modos de funcionamiento del Bucle Cerrado de Bruker

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Antecedentes
Analizador A Circuito Cerrado Con varios modos de funcionamiento
Pliegos De Condiciones

Antecedentes

El Analizador A Circuito Cerrado Con varios modos de funcionamiento agrega exactitud y la conveniencia al funcionamiento y a la flexibilidad legendarios del Con varios modos de funcionamiento.

  • Exactitud de la Medición y rango grande de la exploración
  • Empinadura Fácilmente hacia adentro para exigir regiones de interés
  • Mediciones Exactas de la curva y del fuerza-volumen de la fuerza del “punta-y-lanzamiento”
  • Nanolithography de la Precisión con el software opcional de NanoMan

Analizador A Circuito Cerrado Con varios modos de funcionamiento

El Analizador A Circuito Cerrado Con varios modos de funcionamiento trae la exactitud y la precisión del mando a circuito cerrado al Con varios modos de funcionamiento. Usted necesita no más elegir entre un SPM que ofrece proyección de imagen ultraalta de la resolución y uno que ofrece la exactitud y la conveniencia del circuito cerrado. El diseño modular del Con varios modos de funcionamiento hace fácil cambiar entre un analizador a circuito cerrado para el uso rutinario y un analizador de anillo abierto para el trabajo ultraalto de la resolución. Además, usted disfrutará de la misma facilidad de empleo, confiabilidad, y soporte que ha hecho Con varios modos de funcionamiento al arranque de cinta del funcionamiento en tecnología de SPM.

El mando A Circuito Cerrado ofrece varias ventajas para las aplicaciones de la proyección de imagen y las aplicaciones de la medición de la fuerza, así como activa nanolithography y la nano-manipulación exactos. No sólo es la proyección de imagen más exacta, pero es también más conveniente porque usted puede empinadura y explorar exactamente donde usted desea. Para las mediciones de la fuerza, tener mando de circuito cerrado hace fácil apuntar áreas específicas o las estructuras usando nuestra “punta y disparar” la característica o realizar matrices del fuerza-volumen o del nano-sangrado de márgenes sobre áreas bien definidas. Y por supuesto el nanolithography y la nano-manipulación exigen realmente la exactitud ofrecida por el circuito cerrado para lograr los resultados de alta calidad. 

El Analizador A Circuito Cerrado Con varios modos de funcionamiento aumenta la reputación excelente Con varios modos de funcionamiento para el funcionamiento, la productividad, la confiabilidad, y la facilidad de empleo.

Cuadro 1. Dejado: Imagen de la membrana de Celgard, la Derecha de TappingMode de la exploración del 1.5μm: Imagen del colágeno de la cola de rata, exploración de TappingMode de los 2.5μm

Cuadro 2. Dejado: Imagen del disco blando, la Derecha de la altura de TappingMode de la exploración del 100μm: Imagen de la fase de MFM del mismo LiftMode admitido área

Cuadro 3. Dejado: Imagen de la muestra de la prueba de EFM, la Derecha de la altura de TappingMode de la exploración del 11μm: Imagen de la fase de EFM del mismo LiftMode admitido área. El electrodo de centro fue sujetado en un diverso polarizado del voltaje que los dos electrodos exteriores.

Pliegos De Condiciones

  • Configuración Utilizada Con varios modos de funcionamiento con el controlador aéreo de NanoScope V.
  • Rango de la Exploración XY: 100 μm, Z: μm 15
  • Ruido del Sensor XY: <2 nanómetro RMS, Z: <0.4 nanómetro RMS
  • Desvío de las Linearidades XY: El <0.05%, Z: el <0.05%
  • Prueba <1 Å RMS del Ruido de TappingMode con el aislamiento de vibración
  • Contacto Utilizado de los Modos, TappingMode, Fase, LFM,
  • Resonancia Torsional, MFM, Fuerza
  • Espectroscopia, Volumen de la Fuerza, Fuerza
  • Modulación, EFM1, Potencial Superficial1.
  • Nanomanipulation y Nanolithography
  • utilizado con software opcional. Nota:
  • Proyección de imagen Flúida no recomendada.
  • Módulos de Aplicaciones SCM1, ATÚN1, SSRM1, CAFM1

1. El polarizado de la Muestra se debe conectar externamente a través del panel de delante de NanoScope V. Nota: Los specifcations del Funcionamiento son típicos y conforme a cambio sin previo aviso.

Esta información ha sido originaria, revisada y adaptada de los materiales proporcionados por las Superficies Nanas de Bruker.

Para más información sobre esta fuente visite por favor las Superficies Nanas de Bruker.

Date Added: Apr 24, 2008 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:29

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