Semiconductores y la Microscopia Ultravioleta de Semiconductores Modelados por Tecnologías de CRAIC

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Antecedentes
Microscopia Ultravioleta de Semiconductores Modelados


Antecedentes

Las Tecnologías de CRAIC son los mundos que llevan el revelador de los instrumentos científicos del rango Ultravioleta-visible-NIR para el microanálisis. Éstos incluyen los instrumentos Ultravioleta-visibles-NIR del microspectrophotometer de la serie de QDI diseñados para ayudarle non-destructively a medir las propiedades ópticas de muestras microscópicas. Los microscopios de la serie del UVM de CRAIC revisten el rango ULTRAVIOLETA, visible y de NIR y le ayudan a analizar con resoluciones del submicron mucho más alla del rango visible. Las Tecnologías de CRAIC también tienen el microspectrometer de Raman de la serie del CTR para el análisis no destructivo de muestras microscópicas. Y no olvide que CRAIC retrocede orgulloso nuestros productos del microspectrometer y del microscopio con servicio y atención incomparable.

Microscopia Ultravioleta de Semiconductores Modelados

Las Tecnologías de CRAIC han desarrollado un microscopio amplio del rango espectral, el Microscopio el Ultravioleta UVM-1.  Este microscopio único se diseña para la proyección de imagen de alta resolución en las regiones espectrales infrarrojas el ultravioleta, visibles y cercanas.  Debido a la adaptabilidad de su diseño, este sistema puede a la proyección de imagen de longitudes de onda individuales a los rangos espectrales amplios.  Estos rangos pueden seleccionado y cambiado fácilmente por el utilizador.

Una de las primeras aplicaciones de este sistema estaba a los circuitos de semiconductor de la pequeña escala de la imagen.  Abajo está una imagen de un área de un fulminante modelado que esté siendo reflejado en el rango de longitud de onda de 279 a 367 nanómetro (FWHM) con la iluminación especular del incidente.  Esto permite al operador al detalle de la multa de la imagen extremadamente y estudiar los materiales de otra manera descoloridos que absorben en la región ULTRAVIOLETA.

Cuadro 2. fulminante Modelado

Autor Primario: El Dr. Paul Martin
Fuente: Microscopia Ultravioleta de Semiconductores Modelados por Tecnologías de CRAIC.
Para más información sobre esta fuente visite por favor las Tecnologías de CRAIC

Date Added: Apr 28, 2008 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 18:28

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