Semiconduttori e la Microscopia Ultravioletta dei Semiconduttori Modellati dalle Tecnologie di CRAIC

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Microscopia Ultravioletta dei Semiconduttori Modellati


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Le Tecnologie di CRAIC è i mondi che piombo il rivelatore degli strumenti scientifici dell'intervallo UV-visibile-NIR per microanalisi. Questi includono gli strumenti UV-visibili-NIR del microspectrophotometer di serie di QDI destinati per aiutarvi la misura non-distruttivo i beni ottici dei campioni microscopici. I microscopi di serie del UVM di CRAIC coprono l'intervallo UV, visibile e di NIR e vi aiutano ad analizzare con le risoluzioni di submicron molto al di là dell'intervallo visibile. Le Tecnologie di CRAIC egualmente ha il microspectrometer di Raman di serie del CTR per l'analisi non distruttiva dei campioni microscopici. E non dimentichi che CRAIC appoggia fiero i nostri prodotti del microscopio e di microspectrometer con servizio e supporto ineguagliati.

Microscopia Ultravioletta dei Semiconduttori Modellati

Le Tecnologie di CRAIC ha sviluppato un vasto microscopio dell'ampiezza dello spettro, il Microscopio di Ultravioletto UVM-1.  Questo microscopio unico è progettato per la rappresentazione di alta risoluzione in tutto le regioni spettrali visibili e di vicino infrarosso di ultravioletto.  dovuto la flessibilità della sua progettazione, questo sistema può alla rappresentazione dalle diverse lunghezze d'onda alle vaste ampiezze dello spettro.  Questi intervalli inscatolano selezionato e variabile facilmente dall'utente.

Una delle prime applicazioni di questo sistema era ai circuiti a semiconduttori della piccola scala di immagine.  Sotto è un'immagine di un'area di un wafer modellato che sta essendo imaged nella lunghezza d'onda di 279 a 367 il nanometro (FWHM) con l'illuminazione speculare di incidente.  Ciò permette l'operatore al dettaglio dell'ammenda di immagine estremamente e studiare i materiali altrimenti incolori che assorbono nella regione UV.

Figura 2. wafer Modellato

Autore Primario: Dott. Paul Martin
Sorgente: Microscopia Ultravioletta dei Semiconduttori Modellati dalle Tecnologie di CRAIC.
Per ulteriori informazioni su questa sorgente visualizzi prego le Tecnologie di CRAIC

Date Added: Apr 28, 2008 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 17:56

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