Semicondutores e a Microscopia Ultravioleta de Semicondutores Modelados por Tecnologias de CRAIC

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Microscopia Ultravioleta de Semicondutores Modelados


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As Tecnologias de CRAIC são os mundos que conduzem o revelador de instrumentos científicos da escala Uv-visível-NIR para a microanálise. Estes incluem os instrumentos Uv-visíveis-NIR do microspectrophotometer da série de QDI projetados ajudá-lo non-destructively a medir as propriedades ópticas de amostras microscópicas. Os microscópios da série do UVM de CRAIC cobrem a escala UV, visível e de NIR e ajudam-no a analisar com definições submicrónicas para além da escala visível. As Tecnologias de CRAIC igualmente têm o microspectrometer de Raman da série do CTR para a análise não-destrutiva de amostras microscópicas. E não esqueça que CRAIC suporta orgulhosa nossos produtos do microspectrometer e do microscópio com assistência e apoio ímpar.

Microscopia Ultravioleta de Semicondutores Modelados

As Tecnologias de CRAIC desenvolveram um microscópio largo da escala espectral, o Microscópio do Ultravioleta UVM-1.  Este microscópio original é projectado para a imagem lactente de alta resolução durante todo as regiões espectrais infravermelhas do ultravioleta, as visíveis e as próximas.  Devido à flexibilidade de seu projecto, este sistema pode à imagem lactente dos comprimentos de onda individuais às escalas espectrais largas.  Estas escalas enlatam selecionado e mudado facilmente pelo usuário.

Uma das primeiras aplicações deste sistema era aos circuitos de semicondutor da pequena escala da imagem.  Está Abaixo uma imagem de uma área de uma bolacha modelada que esteja sendo imaged na escala de comprimento de onda de 279 a 367 nanômetro (FWHM) com iluminação specular do incidente.  Isto permite o operador ao detalhe da multa da imagem extremamente e para estudar os materiais de outra maneira incolores que absorvem na região UV.

Figura 2. bolacha Modelada

Autor Preliminar: Dr. Paul Martin
Source: Microscopia Ultravioleta de Semicondutores Modelados por Tecnologias de CRAIC.
Para obter mais informações sobre desta fonte visite por favor Tecnologias de CRAIC

Date Added: Apr 28, 2008 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 18:20

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