半导体和被仿造的半导体紫外显微学由 CRAIC 技术的

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背景
被仿造的半导体紫外显微学


背景

CRAIC 技术是导致紫外可视NIR 为微量分析的范围科学仪表的开发员世界。 这些包括被设计的 QDI 串联紫外可视NIR 显微分光光度计仪器帮助您非破坏性评定微观范例光学性能。 CRAIC 的 UVM 串联显微镜报道紫外,可视和 NIR 范围并且帮助您分析与亚显微解决方法在这个可视范围之外。 CRAIC 技术也有对微观范例的非破坏性的分析的 CTR 串联喇曼 microspectrometer。 并且不要忘记 CRAIC 骄傲地返回我们的与不匹配服务与支持的 microspectrometer 和显微镜产品。

被仿造的半导体紫外显微学

CRAIC 技术发展了一个清楚的光谱范围显微镜, UVM-1 紫外显微镜。  此唯一显微镜为在紫外,可视和最近的红外光谱地区中的高分辨率想象设计。  由于其设计的灵活性,此系统能对从各自的波长的想象到清楚的光谱范围。  这些范围装于罐中选择和容易地更改由这个用户。

其中一种此系统的第一种应用是到图象小规模半导体电路。  下面一个被仿造的薄酥饼的区的图象是印象的在波长范围的 279 到 367 毫微米 (FWHM) 与镜子事件照明。  这非常允许这个运算符对图象罚款详细资料和学习否则在这个紫外区域吸收的无色的材料。

图 2. 被仿造的薄酥饼

主要作者: 保罗・马丁博士
来源: 被仿造的半导体紫外显微学由 CRAIC 技术的。
关于此来源的更多信息请参观 CRAIC 技术

Date Added: Apr 28, 2008 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 17:34

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