Überlegene Forschungs-Leistung und Vielseitigkeit mit dem Innova-Scannen-Fühler-Mikroskop von

Thema Liste

Hintergrund
Überlegene Leistung
Höchste Auflösungs-Optik
Anwendungen
Vollständige Auswahl von SPM-Modi Erhältlich
Innova-Ausrüstungsbeschreibungen
Flexible und Vielseitige Datenerfassungs-Software
Innova-Bedingungen

Hintergrund

Das Innova-Scannen-Fühlermikroskop (SPM) entbindet Scannen der hohen Auflösung, ausgezeichneten Wert und eine große Auswahl der Funktionalität für Systemtest, das Leben und die Materialwissenschaften. Innova bietet auch Anwendungsflexibilität für fordernde und mannigfaltige wissenschaftliche Forschung zu mäßigen Kosten an. Es bietet eine eindeutige hochmoderne Regelscan-Linearisationsanlage an, die genaue Maße und die Geräuschpegel sicherstellt, die denen der Operation der offenen Schleife sich nähern. Innova entbindet Atomauflösung mit großer Leichtigkeit und scannt bis 90 Mikrons ohne den Bedarf, Scanner-Kleinteile zu ändern. Die integrierten, hochauflösenden Farboptik und die programmierbare, motorisierte Z-Stufe nehmen Merkmale schnell finden und das Ändern von Spitzen oder von Proben und einfach vor.

  • Hervorragende Regelscan-Regelung
  • Genaue Maße in allen Abmessungen
  • Ein Schrittlautes summen zu irgendeiner Nachricht ohne Verzerrung
  • Außergewöhnliche lärmarme Leistung
  • Höchste Auflösungsoptik
  • Ergonomisch integrierte top-down Optik
  • Software gesteuertes motorisiertes lautes Summen und Lichtquelle
  • Genaue Fühlerpositionierung
  • Schneller und einfacher Spitzen- und Beispielaustausch
  • Programmierbare, motorisierte Z-Stufe mit kinematisch montiertem Kopf
  • Genaue Laser-Ausrichtung der Premounted Kragbalkengarantie
  • Außergewöhnlicher körperlicher und optischer Beispielzugriff
  • Starkes Forschungsflorida-exibility
  • Große Auswahl von SPM-Modi
  • Neu, leicht confi gurable Software-Plattform
  • Eine Reihe Diagnose-Tools

Abbildung 1. Das Innova-Scannen-Fühlermikroskop

Überlegene Leistung

Alle Aspekte der elektromechanischen Auslegung Innova sind, von der steifen Mikroskopstufe mit einem kurzen mechanischen Regelkreis und vom niedrigen thermischen Antrieb zur ultra-niedrigen Geräuschelektronik optimiert worden. Das Ergebnis ist eine eindeutige Kombination der Leistung der hohen Auflösung und der Regelpositionierung.

Innova verwendet eine digitale Regelscan-Linearisation der eigenen ultra-niedrigen Geräusche für genaue Maße in allen Abmessungen, unabhängig davon Größe, Ausgleich, Drehzahl oder Rotation in einer Luft und in der Flüssigkeit. Überlegene Bildqualität wird vom vollen 90-Mikron-Arbeitsbereich unten zu den Submikronbildern erzielt, wenn die Regelgeräuschpegel denen sich nähern, der Operation der offenen Schleife. Darüber hinaus kann Regelscan-Linearisation schnell aktiviert sein und deaktiviert werden. Diese unglaubliche Flexibilität darf zur Atomauflösung auf irgendeinem ausgewählten Teil eines Scans der natürlichen Größe unten laut summen - ohne ändernde Scanner-Kleinteile und ohne den Fühler von der Oberfläche zu entnehmen. Bildrotation, Einbauort im Bildfenster und Scangeschwindigkeit nicht nachteilig beeinflussen die Ergebnisse.

Höchste Auflösungs-Optik

Die patentierten Optik der Oberseite unten des Innova integrieren nahtlos mit allen Aufnahmemodi und lassen eine direkte Ansicht des Kragbalkens mit einer Auflösung von besser als 1 Mikron zu und stellen den genauen Fühler sicher, der auf die Probe in Position bringt. Wenn die Optik völlig innerhalb der schützenden Instrumentabdeckung in Position gebracht ist, können Fühler und Probe jederzeit angesehen werden beim Insolating das Instrument von der Umgebung. Die ergonomische Integration der Optik mit dem Mikroskop trägt auch zur Leichtigkeit und zur Genauigkeit des Spitzenaustausches und der Laser-Ausrichtung bei. Der Benutzer kann in eine neue Spitze einfach abfallen und die Optik zurück in Platz schwingen. Der vor-ausgerichtete Kragbalken bleibt immer im Fokus. Motorisiert, die gesteuerte Software, optisches lautes Summen versieht eine breite Reichweite magnifi Kations mit einer unvergleichlichen Auflösung. Mit Unendlichkeit können korrigierte Optik und Beleuchtung, das kleinste Beispielmerkmal genau lokalisiert werden.

Das Innova SPM bietet ausgezeichneten Beispielzugang, selbst wenn der Mikroskopkopf existiert, ohne die Starrheit der mechanischen Auslegung zu kompromittieren. Die physikalisch offene Auslegung stellt Flexibilität für kundenspezifische Experimente z.B. vom Erlauben der einfachen Einfügung der Elektroden für elektrische und elektrochemische Beispielkennzeichnung zur Verfügung.

Anwendungen

Kein Stoff Ihre Anwendung-Innova ist betriebsbereit

  • Materialien Wissenschaft
  • Nanolithography
  • Biowissenschaften
  • Polymer Chemie
  • Einheit Kennzeichnung

Vollständige Auswahl von SPM-Modi Erhältlich

Das Innova bietet eine volle Ergänzung von SPM-Techniken an und macht es Ideal für Anwendungen wie Oberflächenstudien in der Materialwissenschaft, Polymerkennzeichnung, nanomanipulation und nanolithography. Ein Hauptrechner von Standard- und wahlweisescan-Modi liefert komplette Oberflächenkennzeichnung von Proben in einer Luft und in der Flüssigkeit.

  • Kontakt-Modus
  • TappingMode™
  • Seitliche Kraft-Mikroskopie (LFM)
  • Scannende Tunnelbau-Mikroskopie (STM)
  • Magnetische Kraft-Mikroskopie (MFM)
  • PhaseImaging™
  • Elektrostatische Mikroskopie (EFM)
  • Leitfähige AtomKraft-Mikroskopie (CAFM)
  • Scannende Thermische Mikroskopie (SThM)
  • Kraft Abstands-Spektroskopie
  • I/V-Spektroskopie
  • Nanolithography
  • Und mehr

Innova-Ausrüstungsbeschreibungen

Die Innova-Kopfstützen kinematisch auf drei unabhängig esteuerten Motoren, die Höhe gewähren, Einstellungen im Verhältnis zu der Probe neigen und kippen. Dieses erlaubt viel größere Benutzerbequemlichkeit. Benutzerbestimmte Stellungen können den Kopf in den Submikronerhöhungen verschieben.

Innova ist speziell konstruiert worden, um schnellen und einfachen Spitzenaustausch und -ausrichtung zur Verfügung zu stellen. Die Anlage kommt komplett mit einem Universalchip-carrier, der fast jeden nicht montierten Kragbalken annimmt. Für sogar schnelleren und einfacheren Spitzenaustausch stellen unsere Reihen premounted Kragbalken der Präzision sicher, dass der Laser automatisch und genau auf die gleiche Stelle von einem Umkippung zum folgenden gerichtet wird.

Innova enthält auch die zahlreichen zusätzlichen Merkmale, die es ein von der vielseitigsten Forschung SPMs machen und umfaßt: Hoch entwickelte Elektronik

Moderne hochmoderne Elektronik liefern außergewöhnlich lärmarme und hervorragende Regelleistung. Innova kennzeichnet eine 20 Architektur des Bits DAC zur überlegenen piezo Regelung und 8 schnellen zu ADC, die großzügige Datenerfassungsbandweite bereitstellen. Zwei integrierten voll Verriegelung-in den Verstärkern, aktivieren hoch entwickelte SPM-Modi wie Scannenkapazitanzmikroskopie (SCM) ohne den Bedarf an den externen Kleinteilen oder an der Fremdsoftware. Innova ist zu den kundenspezifischen Experimenten mit Steuerelektronik betriebsbereit, die eingebauten Anwenderzugriff zu EIN-/AUSGABE Signalen und Software liefern, die flexible Signalführung und das Aufbereiten aktiviert.

Flexible und Vielseitige Datenerfassungs-Software

Die vollständig neue Software SPMlab v7.0 enthält einen Hauptrechner von Merkmalen, um wirkliche Weltproduktivität sicherzustellen. Direkter und intuitiver Zugriff zu den höchst wichtigen Scan- und Feed-backparametern wird mit umfangreichen Echtzeitsignaldiagnosen und Aufbereitenoptionen, um den Scan-Optimierungsprozeß zu beschleunigen kombiniert. Darstellungsfähigkeiten werden durch erweiterte Funktionen wie LiftMode erhöht und werden durch einige Einpunktspektroskopiemodi und ein bedienungsfreundliches nanolithography Paket ergänzt. Innova kommt mit einer umfangreichen Analyse und Aufbereitenpaket, das nahtlos in die Echtzeitregelung integriert. Daten von teilweise erworbenen Bildern können während des Erfassungsvorgangs ohne Unterbrechungsbilddatenerfassung völlig jederzeit analysiert werden.

Innova-Bedingungen

  • RegelScanner: X-Y> 90 ìm, Z > ìm 7,5
  • Offener Regelkreis- Scanner: X-Y> 5 ìm, Z > ìm 1,5
  • Stichprobengröße: X-50 mm x 50 O-Mm x Z-18 mm
  • Motorisierte Z-Schwerpunkts-Stufe: Z-Arbeitsweg: 18mm
  • Optik: Kamera: Aufschwerpunkt Farbe-CCD mit motorisiertem lautem Summen
  • Blickfeld: 1.24mm x 0.25mm (motorisiertes lautes Summen, mit Lernziel 10x)
  • Auflösung: <2ìm mit Standard-Lernziel 10x (0.75ìm mit 50X)
  • Elektronik: 20 Regelung des Bits DAC, 100 kHz ±10v ADC, digitales Feed-back
  • Systemsoftware: SPMLab™ v7.0 für Datenerfassung u. Analyse, Windows® XP

Diese Informationen sind Ursprungs- angepasst gewesen, wiederholt und von den Materialien, die von Nano-Oberflächen Bruker bereitgestellt werden.

Zu mehr Information über diese Quelle besuchen Sie bitte Nano-Oberflächen Bruker.

Date Added: Apr 29, 2008 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:11

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