Innova のスキャンのプローブの顕微鏡との優秀な研究のパフォーマンスそして多様性からの

トピックのリスト

背景
優秀なパフォーマンス
高リゾリューションの光学
アプリケーション
使用できる SPM のモードのフルレンジ
Innova の設計特微
適用範囲が広く、多目的な獲得のソフトウェア
Innova の指定

背景

Innova のスキャンのプローブの顕微鏡は (SPM)物理、生命および物質科学のための機能性の高リゾリューションのスキャン、優秀な値および広い範囲を提供します。 Innova はまた適当な費用でデマンドが高く、いろいろな科学研究のためのアプリケーション柔軟性を提供します。 それは開ループ操作のそれらに近づく正確な測定および騒音レベルを保障する一義的な最新式のクローズド・ループスキャン線形化システムを提供します。 Innova は大きい容易さの原子解像度を提供し、スキャンナーのハードウェアを変更する必要性なしで 90 ミクロンまでスキャンします。 統合された、高解像、カラー光学そしてプログラム可能な、モーターを備えられた Z 段階は機能を速く見つけ、先端かサンプル変更をおよび容易行ないます。

  • 顕著なクローズド・ループスキャン制御
  • すべての次元の正確な測定
  • ゆがみのない目的への 1 つのステップズームレンズ
  • 例外的な低雑音パフォーマンス
  • 高リゾリューションの光学
  • 人間工学に基づいて統合されたトップダウンの光学
  • ソフトウェアによって制御されるモーターを備えられたズームレンズおよび光源
  • 正確なプローブの位置
  • 速く、容易な先端およびサンプル交換
  • 運動学的に取付けられたヘッドが付いているプログラム可能な、モーターを備えられた Z 段階
  • Premounted 片持梁保証精密なレーザーのアラインメント
  • 例外的で物理的な、光学サンプルアクセス
  • 強力な研究 fl の exibility
  • 広範囲 SPM のモード
  • 新しい、容易に confi の gurable ソフトウェアプラットホーム
  • 診察道具のアレイ

図 1。 Innova のスキャンのプローブの顕微鏡

優秀なパフォーマンス

Innova 電気機械デザインのすべての面は短い機械ループが付いている堅い顕微鏡段階および低い熱ドリフトから超低い騒音の電子工学への、最適化されました。 結果は高リゾリューションパフォーマンスおよびクローズド・ループ位置の一義的な組合せです。

Innova はサイズ、オフセット、速度、または空気および液体で回転に関係なくすべての次元で正確な測定のために専有超低い騒音デジタルクローズド・ループスキャン線形化を、使用します。 優秀な画像の品質は openloop 操作のそれらに近づいていてクローズド・ループ騒音レベルがミクロ以下の画像に完全な 90 ミクロンスキャン範囲から、達成されます。 さらに、クローズド・ループスキャン線形化はオンザフライ式で作動し、非活動化させることができます。 この信じられないい柔軟性は… - 変更のスキャンナーのハードウェアと表面からのプローブを撤回しないで…大型スキャンのあらゆる指定部分の原子解像度に急上昇することを割り当てます。 画像の Windows の画像の回転、位置、およびスキャン速度は不利に結果に影響を与えません。

高リゾリューションの光学

Innova の特許を取られた上の光学はすべてのイメージ投射モードと継ぎ目無く統合しま、よくより 1 ミクロンの解像度の片持梁の直接眺めを可能にし、サンプルで置く精密なプローブを保障します。 保護器械カバーの中で完全に置かれて光学が環境からの器械を insolating 間プローブおよびサンプルはいつでも見ることができます。 顕微鏡との光学の人間工学的の統合はまた先端交換およびレーザーのアラインメントの容易さそして正確さに貢献します。 ユーザーは新しい先端で単に落ち、場所に再び光学を振ることができます。 前一直線に並べられた片持梁は焦点に常に残ります。 モーターを備えられての制御される並ぶものがない解像度をソフトウェア光学ズームレンズ magnifi の陽イオンの広い範囲に与えます。 無限を使うと訂正された光学および照明は、最も小さいサンプル機能正確に見つけることができます。

顕微鏡ヘッドがきちんと整っている時でさえ Innova SPM は機械デザインの剛性率を妥協しないで優秀なサンプルアクセスを提供します。 物理的に開いたデザインはカスタム実験に電気および電気化学のサンプル性格描写のための電極の容易な挿入の許可によって柔軟性を、例えば、提供します。

アプリケーション

問題はアプリケーションInnova 準備ができていません

  • 物質科学
  • Nanolithography
  • 生命科学
  • ポリマー化学
  • 装置性格描写

使用できる SPM のモードのフルレンジ

Innova はそれ理想を、ポリマー性格描写、 nanomanipulation および nanolithography に作る物質科学の表面調査のようなアプリケーションのための SPM の技術の全必要量を提供します。 標準および任意選択走査方式の多くは空気および液体両方のサンプルの完全な表面の性格描写を提供します。

  • 接触モード
  • TappingMode™
  • 側面力の顕微鏡検査 (LFM)
  • スキャンのトンネルを掘る顕微鏡検査 (STM)
  • 磁気力の顕微鏡検査 (MFM)
  • PhaseImaging™
  • 静電気の顕微鏡検査 (EFM)
  • 伝導性の原子力の顕微鏡検査 (CAFM)
  • スキャンの熱顕微鏡検査 (SThM)
  • 力の間隔の分光学
  • 現在の電圧分光学
  • Nanolithography
  • そして多く

Innova の設計特微

Innova ヘッドはサンプルに関連して高さを割り当て、調節を投げ、そして傾ける 3 つの単独制御モーターで運動学的に休みます。 これは大いにより大きいユーザーの便利を可能にします。 ユーザが定義する位置はミクロ以下の増分のヘッドを移動できます。

Innova はとりわけ速く、容易な先端の交換およびアラインメントを提供するように設計されていました。 システムはほとんど据えられていない片持梁を受け入れるユニバーサルチップ・キャリアと完全来ます。 より速く、より容易な先端交換のために、レーザーが 1 つの先端から次へ同じ点に自動的にそして正確に焦点を合わせることを私達の一連の精密 premounted 片持梁は保障します。

Innova はまた最も多目的な研究 SPMs のそれに 1 つをする下記のものを含んでいる多数の追加機能を組み込みます: 高度の電子工学

現代最新式の電子工学は特別に低雑音および顕著なクローズド・ループパフォーマンスを提供します。 Innova は寛大なデータ収集帯域幅を提供する優秀な piezo 制御および速い ADCs 8 つのための 20 ビット DAC アーキテクチャを特色にします。 2 つは完全なロックインのアンプを統合しましたり、外部ハードウェアまたはサード・パーティのソフトウェアのための必要性 (SCM)なしでスキャンキャパシタンス顕微鏡検査のような高度 SPM のモードを可能にします。 Innova は適用範囲が広いシグナルの経路指定および処理を可能にする入力/出力のシグナルおよびソフトウェアへの組み込みのユーザーアクセスを提供する制御電子回路のカスタム実験の準備ができています。

適用範囲が広く、多目的な獲得のソフトウェア

SPMlab 全く新しい v7.0 のソフトウェアは現実の世界の生産性を保障するために機能の多くを組み込みます。 あらゆる面で重要なスキャンおよびフィードバックパラメータへの直接および直観的なアクセスは広範なリアルタイムのシグナルの診断とおよびスキャン最適化プロセスを加速するために処理オプション結合されます。 イメージ投射機能は進んだ機能によってように LiftMode 高められ、複数の一点分光学のモードおよび使いやすい nanolithography のパッケージによって補足されます。 Innova は広範な分析と実時間制御に継ぎ目無く統合する処理のパッケージ来。 部分的に得られた画像からのデータは割込み画像の獲得なしで獲得プロセスの間に十分にいつでも分析することができます。

Innova の指定

  • クローズド・ループスキャンナー: X-Y > 90 ìm、 Z > 7.5 ìm
  • オープン・ループスキャンナー: X-Y > 5 ìm、 Z > 1.5 ìm
  • サンプルの大きさ: X-50 mm X 50 Y Mm x Z-18 mm
  • モーターを備えられた Z 軸の段階: Z 旅行: 18mm
  • 光学: カメラ: モーターを備えられたズームレンズが付いているオン軸線カラー CCD
  • 視野: 1.24mm x 0.25mm (10x 目的のモーターを備えられたズームレンズ、)
  • 解像度: 標準 10x 目的の <2ìm (50X との 0.75ìm)
  • 電子工学: 20 ビット DAC 制御、 100 つの kHz ±10v ADCs のデジタルフィードバック
  • システム・ソフトウェア: データ収集及び分析、 Windows® XP のための SPMLab™ v7.0

この情報は Bruker の Nano 表面によって提供される材料から供給され、見直され、そして適応させて。

このソースのより多くの情報のために Bruker の Nano 表面を訪問して下さい。

Date Added: Apr 29, 2008 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:15

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