:: Статья AZoNanotechnology
Список Темы
Предпосылка
Главное Представление
Самая Высокая Оптика Разрешения
Применения
Полный Диапасон Режимов SPM Доступных
Конструктивные Особенности Innova
Гибкое и Разностороннее ПО Приема
Спецификации Innova
Предпосылка
Микроскоп зонда скеннирования Innova (SPM) поставляет высокую скеннирование разрешения, превосходное значение, и широкий диапазон функциональности для медицинского осмотра, жизни, и наук материалов. Innova также предлагает гибкость применения для требовательного и varied научного исследования на вмеру цене. Оно предлагает уникально современную систему выпрямления развертки короткозамкнутого витка которая обеспечивает точные измерения и уровни шума причаливая той из деятельности незамкнутой сети. Innova поставляет атомное разрешение с большой легкостью и просматривает до 90 микронов без потребности изменить оборудование блока развертки. Оптика интегрированных, высок-разрешения цвета и programmable, моторизованный Z-Этап делают находить характеристики и изменять подсказки или образцы быстро и легко.
- Выдающее управление развертки короткозамкнутого витка
- Точные измерения в всех размерах
- Один сигнал шага к любому предмету без искажения
- Исключительнейшее малошумное представление
- Самая Высокая оптика разрешения
- Ergonomically интегрированная идущий сверху вниз оптика
- Сигнал и источник света контролируемые ПО моторизованные
- Точный располагать зонда
- Быстрый и легкий обмен подсказки и образца
- Programmable, моторизованный Z-Этап с kinematically установленной головкой
- Выравнивание лазера Premounted гарантии cantilevers точное
- Исключительнейший физический и оптически доступ образца
- Мощное exibility fl исследования
- Широкий диапазон режимов SPM
- Ново, легко платформа ПО confi gurable
- Блок диагностических инструментов
Диаграмма 1. Микроскоп зонда скеннирования Innova
Главное Представление
Все аспекты конструкции Innova электро-механической были оптимизированы, от твердого этапа микроскопа с короткой механически петлей и низкого термального смещения к ультра-низкой электронике шума. Результат располагать представления и короткозамкнутого витка разрешения уникально сочетание из высокий.
Innova использует выпрямление развертки короткозамкнутого витка собственнического ультра-низкого шума цифровое для точных измерений в всех размерах, независимо от размера, смещения, скорости, или вращения в воздухе и жидкости. Главное качество изображения достигано от польностью ряда развертки 90 микронов вниз к изображениям субмикрона, при уровни шума короткозамкнутого витка причаливая той из деятельности openloop. В добавлении, выпрямление развертки короткозамкнутого витка можно активировать и выключить на ходу. Эта неимоверная гибкость позволяет просигналить вниз к атомному разрешению на любой выбранной части развертки полной величины - без изменяя оборудования блока развертки и без разделять зонд от поверхности. Вращение Изображения, положение в окне изображения, и скорость развертки неблагоприятно не влияют на результаты.
Самая Высокая Оптика Разрешения
Запатентованная оптика верхней части вниз Innova интегрирует плавно с всеми режимами воображения, позволяющ для сразу взгляда cantilever с разрешением лучше чем 1 микрона, обеспечивающ точный зонд располагая на образец. При оптика расположенная полностью внутри защитной крышки аппаратуры, зонд и образец можно осмотреть в любое время пока insolating аппаратура от окружающей среды. Эргономическое внедрение оптики с микроскопом также способствует к легкости и точности обмена подсказки и выравнивания лазера. Пользователь может просто упасть в новую подсказку и отбросить оптика назад в место. Pre-выровнянный cantilever всегда будет оставать в фокусе. Моторизовать, контролируемое ПО, оптически сигнал обеспечивает обширный ряд катиона magnifi с несравненный разрешением. С безграничностью исправленные оптику и освещение, самая малая характеристика образца можно обнаружить местонахождение точно.
Innova SPM обеспечивает превосходный доступ образца, даже когда головка микроскопа в месте, без компрометировать ригидность механически конструкции. Физически открытая конструкция обеспечивает гибкость для изготовленных на заказ экспериментов, например, путем позволять легкому вводу электродов для электрической и электрохимической характеризации образца.
Применения
Никакое дело ваше применение-Innova не готово
- Наука Материалов
- Nanolithography
- Науки о Жизни
- Химия Полимера
- Характеризация Прибора
Полный Диапасон Режимов SPM Доступных
Innova предлагает полное дополнение методов SPM, делая им идеал для применений как поверхностные изучения в науке материалов, характеризацией полимера, nanomanipulation и nanolithography. Хозяин стандартных и опционных режимов развертки обеспечивает полную поверхностную характеризацию образцов как в воздухе, так и в жидкости.
- Режим Контакта
- TappingMode™
- Микроскопия Бокового Усилия (LFM)
- Просматривая Микроскопия Прокладывать Тоннель (STM)
- Микроскопия Магнитной Силы (MFM)
- PhaseImaging™
- Электростатическая Микроскопия (EFM)
- Проводная Атомная Микроскопия Усилия (CAFM)
- Просматривая Термальная Микроскопия (SThM)
- Спектроскопия Расстояния Усилия
- Настоящая Спектроскопия Напряжения Тока
- Nanolithography
- И больше
Конструктивные Особенности Innova
Головка Innova отдыхает kinematically на 3 независимо контролируемых моторах которые позволяют высоте, сооружают и опрокидывают регулировки по отношению к образцу. Это позволяет очень большому удобству пользователя. Определяемые пользователем положения могут двинуть головку в инкрементах субмикрона.
Innova специфически было конструировано для предусмотрения быстрых и легких обмена и выравнивания подсказки. Система приходит полно с всеобщей несущей обломока которая принимает почти любой unmounted cantilever. Для даже более быстрого и более легкого обмена подсказки, наши серии cantilevers точности premounted обеспечивают что лазер автоматически и точно сфокусирован на таком же пятне от одной подсказки к следующему.
Innova также включает многочисленние дополнительные характеристики которые делают им одно самого разностороннего исследования SPMs, включая: Предварительная электроника
Самомоднейшая современная электроника обеспечивает исключительнейше малошумное и выдающее представление короткозамкнутого витка. Innova отличает 20 зодчеством бита DAC для главного piezo управления и 8 быстрых ADCs обеспечивая великодушную ширину полосы частот сбора информации. 2 интегрировали вполне замк-в усилителях, включают предварительные режимы SPM как микроскопия емкости скеннирования (SCM) без потребности для внешнего оборудования или третья сторона ПО. Innova готово для изготовленных на заказ экспериментов с электроникой управления которые обеспечивают встроенный доступ пользователя к сигналам и ПО I/O которое включает гибкие трассу и обрабатывать сигнала.
Гибкое и Разностороннее ПО Приема
Вполне новое ПО SPMlab v7.0 включает хозяина характеристик для того чтобы обеспечить урожайность реального мира. Сразу и интуитивный доступ к крайне важный параметрам развертки и обратной связи совмещен с обширными в реальном масштабе времени диагностиками сигнала и варианты обрабатывать для ускорения процесса оптимизирования развертки. Возможности Воображения увеличены продвинутыми особенностями как LiftMode и укомплектованы несколькими одноточечных режимов спектроскопии и легкой использовать пакет nanolithography. Innova приходит с обширным анализом и пакет обрабатывать который интегрирует плавно в в реальном масштабе времени управление. Данные от частично приобретенных изображений можно полно проанализировать в любое время во время процесса приобретения без прерывая приема изображения.
Спецификации Innova
- Блок Развертки Короткозамкнутого витка: XY 90 ìm, ìm Z 7,5
- Незамкнутый сет Блок Развертки: XY 5 ìm, ìm Z 1,5
- Размер выборки: X-50 mm x 50 Y-Mm x Z-18 mm
- Моторизованный Этап Оси Z: Перемещение Z: 18mm
- Оптика: Камера: CCD цвета на-оси с моторизованным сигналом
- Область видимости: 1.24mm x 0.25mm (моторизованный сигнал, с задачей 10x)
- Разрешение: <2>
- Электроника: 20 управление бита DAC, 100 КГц ±10v ADCs, цифровая обратная связь
- Системное программное обеспечение: SPMLab™ v7.0 для сбора информации & анализа, Windows® XP
.jpg)
Эта информация найденный, расмотрена и приспособлена от материалов обеспеченных Bruker AXS.
Для больше информации на этом источнике пожалуйста посетите Bruker AXS.