優越研究性能和通用性與 Innova 掃描探測顯微鏡從

事宜列表

背景
優越性能
最高分辨率的光學
應用
全方位可用 SPM 的模式
Innova 設計特點
靈活和多才多藝的購買軟件
Innova 說明

背景

Innova 掃描探測顯微鏡 (SPM)提供高分辨率掃描、非常好的值和各種各樣的功能實際、生活和材料學的。 Innova 也提供過分要求和各種各樣的科學研究的應用靈活性在中等費用。 它提供保證準確評定和處理那些開環運算的噪聲級的一個唯一科技目前進步水平閉環掃描線性化系統。 Innova 提供與極大的方便的基本解決方法并且瀏覽 90 微米,不用需要更換掃描程序硬件。 這個集成,高分辨率顏色光學和可編程序,動力化的 Z 階段做快速地查找功能和變動技巧或範例和容易。

  • 未清閉環掃描控制
  • 在所有維數的準確評定
  • 對任何對象的一步驟縮放沒有畸變
  • 例外低噪聲性能
  • 最高分辨率的光學
  • 符合人體工程學地集成的自頂向下光學
  • 軟件受控制動力化的縮放和光源
  • 準確探測確定
  • 快速和容易的技巧和範例替換
  • 與運動學上被掛接的題頭的可編程序,動力化的 Z 階段
  • Premounted 懸臂保證準確的激光對準線
  • 例外實際和光學範例存取
  • 強大的研究 fl exibility
  • 大範圍 SPM 模式
  • 新,容易地 confi gurable 軟件平臺
  • 一一些診斷工具

圖 1。 Innova 掃描探測顯微鏡

優越性能

Innova 機電設計的所有方面從與一個短的機械循環的嚴格的顯微鏡載物台和低熱量偏差被優選了,到極端底的噪聲電子。 這個結果是高分辨率性能和閉環確定的一個唯一組合。

Innova 為準確評定使用所有權極端底的噪聲數字式閉環掃描線性化在所有維數,不管範圍、抵銷、速度或者循環在航空和液體。 優越圖像質量從充分的 90 微米掃描範圍達到下來對亞顯微圖像,当閉環噪聲級處理那些開環運算。 另外,可以正在進行中激活和停用閉環掃描線性化。 此難以置信的靈活性准許迅速移動下來到對大型掃描的任何所選的部分的基本解決方法 -,不用更改的掃描程序硬件和,无需提取從表面的探測。 圖像循環、地點在圖像視窗裡和掃描速度不相反影響結果。

最高分辨率的光學

Innova 的給予專利的頂層下來光學集成無縫在所有想像模式下,允許懸臂的一張直接視圖有更好比 1 微米解決方法的,保證確定在這個範例的準確的探測。 当光學完全地確定在防護儀器蓋子裡面,探測和範例可以在任何時間被查看,當 insolating 從這個環境時的儀器。 光學的人體工程的綜合化與顯微鏡的也造成技巧替換和激光對準線的方便和準確性。 這個用戶在一個新的技巧能滴下和搖擺光學回到安排。 前對齊的懸臂在重點永遠將保持。 動力化,受控制的軟件,光學縮放提供各種各樣的 magnifi 正離子以一個空前的解決方法。 無限可以準確地找出被更正的光學和照明,最小的範例功能。

Innova SPM 提供非常好的範例存取,既使當顯微鏡題頭到位,无需減弱機械設計的堅硬。 即,這個實際上開放設計為自定義實驗提供靈活性通過允許電極的容易的插入電子和電化學範例描述特性的。

應用

問題您的應用Innova 沒準備好

  • 材料學
  • Nanolithography
  • 生命科學
  • 聚合物化學
  • 設備描述特性

全方位可用 SPM 的模式

Innova 在材料學提供 SPM 技術的全補碼,做它理想的應用例如表面研究,聚合物描述特性、 nanomanipulation 和 nanolithography。 許多標準和選項掃瞄方式提供範例的完全表面描述特性在航空和液體的。

  • 聯繫模式
  • TappingMode™
  • 側力顯微學 (LFM)
  • 瀏覽的挖洞顯微學 (STM)
  • 磁力顯微學 (MFM)
  • PhaseImaging™
  • 靜電顯微學 (EFM)
  • 導電性基本強制顯微學 (CAFM)
  • 瀏覽的熱量顯微學 (SThM)
  • 強制距離分光學
  • 當前電壓分光學
  • Nanolithography
  • 并且更多

Innova 設計特點

Innova 題頭運動學上基於准許高度,投并且掀動調整相對這個範例的三個獨立控制馬達。 這允許更加巨大的用戶便利。 用戶定義的位置可能移動在亞顯微增量的題頭。

Innova 特別地被設計提供快速和容易的技巧替換和對準線。 這個系統來完全與接受幾乎所有未安裝懸臂的一個通用晶片載體。 对更加快速和更加容易的技巧替換,精確度 premounted 懸臂我們的系列保證激光自動地和精密地集中於同一個地點從一個技巧到下。

Innova 也合併做它一這個最多才多藝的研究 SPMs 的許多另外的功能,包括: 先進的電子

現代科技目前進步水平電子提供格外低噪聲和未清閉環性能。 Innova 以優越壓力提供慷慨的數據收集帶寬的控制和 8 个快速 ADCs 的 20 个位 DAC 結構為特色。 二集成充分的封鎖行動放大器,啟動先進的 SPM 模式例如掃描電容顯微學 (SCM),不用對外部硬件或第三方軟件的需要。 Innova 準備好提供對輸入/輸出信號和軟件的固定用戶訪問啟用靈活信號運輸路線和處理與控制電子學的自定義實驗。

靈活和多才多藝的購買軟件

全新的 SPMlab v7.0 軟件合併許多功能保證現實世界生產率。 對首要的掃描和反饋參數的直接和直觀存取與廣泛的實時信號診斷結合和處理選項加速掃描優化進程。 想像功能由先進特點提高,如 LiftMode 和由幾個單點分光學模式和一個易用 nanolithography 程序包補充。 Innova 來與一個廣泛的分析和集成無縫實時控制的處理程序包。 從部分地獲取的圖像的數據可以在任何時間充分地被分析在獲得過程期間,不用中斷的圖像購買。

Innova 說明

  • 閉環掃描程序: X - Y 的 > 90 ìm, Z > 7.5 ìm
  • 開放環路的掃描程序: X - Y 的 > 5 ìm, Z > 1.5 ìm
  • 樣本大小: X-50 mm x 50 Y Mm x Z-18 mm
  • 動力化的 Z軸階段: Z 旅行: 18mm
  • 光學: 照相機: 在軸有動力化的縮放的顏色 CCD
  • 視野: 1.24mm x 0.25mm (動力化的縮放,與 10x 目的)
  • 解決方法: 與標準 10x 目的 (0.75ìm 的 <2ìm 與 50X)
  • 電子: 20 位 DAC 控制, 100 kHz ±10v ADCs,數字式反饋
  • 系統軟件: 數據收集 & 分析的, Windows® XP SPMLab™ v7.0

此信息是來源,覆核和適應從 Bruker 納諾表面提供的材料。

關於此來源的更多信息请請參觀 Bruker 納諾表面

Date Added: Apr 29, 2008 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:05

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