Serie Con varios modos de funcionamiento de Bruker, los Microscopios Más de alta resolución de la Antena de la Exploración Del Mundo

Filete del Tema

Antecedentes
NanoScope® V, Eficiencia De Alto Rendimiento
Variedad de Analizadores Disponibles
Rango Amplio de Modos Operatorios y de Ambientes
El Mundo Más de alta resolución
Exploración Superior
Nanoscope V - El Mejor Controlador Aéreo del Mundo
Nuevo Fácil-AFM para la Productividad Máxima
Adaptabilidad y Funciones Sin Igual
Opciones del Control Del Medio Ambiente
Capacidad De Expansión Ilimitada de la Aplicación
Pliegos De Condiciones
Funcionamiento
Opciones del Soporte Físico y de Software

Antecedentes

La serie de MultiMode® representa el mundo más de alta resolución, la mayoría de los microscopios aplicación-probados de la antena de la exploración.

Este estado plus ultra de alto rendimiento SPM ofrece un diseño de dotación física compacto, un controlador aéreo de alta velocidad de la quinto-generación, capacidades del control del medio ambiente, y un software convivial para activar la adquisición notable fácil de datos de imágenes micras de la atómico-escala. La productividad, la adaptabilidad, y la confiabilidad Probadas han hecho serie Con varios modos de funcionamiento SPMs al arranque de cinta del funcionamiento en los materiales, ciencias de la vida, y los polímeros investigan.

Cuadro 1. SPM Con varios modos de funcionamiento

NanoScope® V, Eficiencia De Alto Rendimiento

  • Punta-muestra de las Dimensiones/dinámica voladiza (recogida de datos 50MHz)
  • Reduce el tiempo que busca pequeña densidad del pixel de las características (5120 x 5120)
  • Detecta y visualiza hasta 8 imágenes simultáneamente

Variedad de Analizadores Disponibles

  • Ofrece la adaptabilidad de las tallas de la exploración
  • Entrega exactitud específica a la aplicación

Rango Amplio de Modos Operatorios y de Ambientes

  • Proporciona a la adaptabilidad de aplicaciones
  • Diseño Compacto, Rígido
  • Produce imágenes de poco ruido, más de alta resolución

El Mundo Más de alta resolución

Cada faceta del diseño electrónico y mecánico del sistema Con varios modos de funcionamiento se ha optimizado para el más de alta resolución, incluyendo un camino mecánico corto, una construcción baja en vibraciones rígida, y una electrónica del ultra-inferior-ruido. La alta resolución de la serie Con varios modos de funcionamiento ha ayudado a llevar a publicaciones más científicas que el resto del SPMs combinó. La adición del controlador aéreo nuevo, altamente avanzado de NanoScope V ahora significa que los utilizadores Con varios modos de funcionamiento de V pueden ser aún más productivos.

Exploración Superior

Los analizadores múltiples de la característica Con varios modos de funcionamiento de SPMs que permiso que cada utilizador adapta el sistema para la investigación individual. Los Analizadores con la exploración grande colocan hasta 125 micrones en las hachas XY y un rango de Z hasta 5 micrones, así como los analizadores de alta resolución con 0,4 micrones en las hachas XY y el submicron Z colocan, están disponibles.

Los analizadores del vertical-enganche permitieron a utilizadores colocar la punta en cualquier momento en la superficie sin ajustar según el movimiento lateral de la punta durante la aproximación.

Incorporando un ordenador principal de las características del diseño propietarias, estos analizadores disminuyen interconectar de X, de Y, y de Z y los efectos de la ausencia de linealidad y de la histéresis, mientras que mantienen la calibración en el rango vertical completo. Esto entrega un nivel de funcionamiento de la proyección de imagen incomparable por cualquier otro AFM. La calibración y la linearización del Analizador son mantenidas por el mando del software, proveyendo del utilizador fácil, acceso directo a todos los aspectos de la operación del analizador.

Nanoscope V - El Mejor Controlador Aéreo del Mundo

El nuevo sistema Con varios modos de funcionamiento de SPM incluye al controlador aéreo de NanoScope V, que utiliza electrónica de alta velocidad avanzada junto con los transformadores del A/D y de D/A operatorios en 50MHz, para entregar recogida de datos segura, de alta velocidad. Esto permite que los investigadores midan la punta-muestra/la dinámica voladiza para estudiar la influencia de propiedades mecánicas en la física de las acciones recíprocas de la antena-muestra y examinar los calendarios previamente inaccesibles a los utilizadores de SPM.

Con imágenes de la alto-pixel-densidad hasta 5120 x 5120, no hay necesidad de volver y de relanzar una exploración. La alta densidad del pixel salva tiempo de los utilizadores al explorar para las características de baja densidad distribuidas sobre áreas extensas, reduce la necesidad de capturar varias imágenes en densidades más inferiores del pixel, y elimina el requisito para los ajustes del desplazamiento a la información del correlativo de imágenes múltiples. También permite la observación de estructuras grandes y de pequeñas características en la misma imagen.

El NanoScope V captura todo visualizando (y detectándolas para el análisis) hasta ocho imágenes en tiempo real con el ratio señal/ruido sin precedente.

Así, los utilizadores pueden cerco la información sobre propiedades múltiples de una muestra en paralelo. Por ejemplo, este sistema puede hacer MFM y golpear ligeramente mientras que captura altura, fase, y amplitud en la línea que golpea ligeramente, así como frecuencia y amplitud en la línea de la ascensional.

Además, FPGA de alta velocidad entrega feedback en 2μs con avance independiente y frecuencia en mando digital de Q. El aumento 8X en velocidad facilita la experimentación de alta velocidad, alta de la anchura de banda, tal como pequeño voladizo, voladizo activo, y mando resonante. Síncronos independientes Múltiples bloqueo-en los amplificadores permiso el golpear ligeramente y torsión, los armónicos en EFM, y un movimiento vertical y lateral más de categoría alta.

Nuevo Fácil-AFM para la Productividad Máxima

Para el final en simplicidad operativa aerodinámica, ofertas Fáciles-AFM™ una interfaz de usuario gráfica intuitiva, fácil de seguir para los nuevos o infrecuentes utilizadores de SPM. Reduce el tiempo de ajuste automáticamente ajustando los parámetros de la exploración, y obteniendo TappingMode™ de alta calidad en imágenes del aire en la mayoría de las muestras en un empuje de un botón. El Fácil-AFM es ideal para los ambientes multiusos.

Adaptabilidad y Funciones Sin Igual

La opción de la abierto-configuración de NanoScript™ proporciona a un filete extenso de funciones para controlar el SPM para los experimentos y la investigación de encargo del nanoscale. Estas funciones se pueden también llamar de cualquier lenguaje de programación que pueda actuar como cliente del Modelo del Objeto Componente de Microsoft (COM), incluyendo LabVIEW™, MATLAB™, y Visual Basic.

Opciones del Control Del Medio Ambiente

El calefactor Con varios modos de funcionamiento/la línea más fresca proporciona a la conveniencia creciente del térmico-mando a la investigación de las ciencias de la vida y de los polímeros. Un único controlador aéreo regula temperaturas de la muestra a partir de la -35 a 250°C. Se ofrecen Varios modelos, permitiendo que los investigadores compren una solución térmica adaptada a sus necesidades. Para el uso con aire y gases inertes, tres gamas de temperaturas están disponibles: -35 a los ambientes 100°C, ambiente a 250°C, y a -35 a 250°C. Otro modelo operatorio en líquidos o aire desde ambiente a 60°C usando los analizadores Con varios modos de funcionamiento estándar.

Otras características incluyen un analizador enfriado por líquido mejorado que operatorio con dos diversos calefacciones/elementos refrigerantes y proporcione a la temperatura que detecta para proteger el analizador contra daño por calor extenso.

Capacidad De Expansión Ilimitada de la Aplicación

El Con varios modos de funcionamiento realiza una gama completa de técnicas de SPM para la caracterización superficial de propiedades como la topografía, la elasticidad, la fricción, la adherencia, y eléctrico y los campos magnéticos:

  • TappingMode AFM
  • Modo de Contacto AFM
  • PhaseImaging™
  • Microscopia de la Fuerza Lateral (LFM)
  • Microscopia de la Fuerza Magnética (MFM)
  • Modulación de la Fuerza
  • Microscopia de la Fuerza Eléctrica (EFM)
  • Microscopia de la Capacitancia de la Exploración (SCM)
  • Microscopia Potencial Superficial
  • Mediciones de la Fuerza-Distancia y del Fuerza-Volumen
  • Microscopia Electroquímica (ECAFM)
  • Espectroscopia de la Fuerza de PicoForce
  • El Hacer Un Túnel AFM (ATÚN)
  • AFM Conductor (CAFM)
  • Microscopia de Exploración de la Resistencia Que Se Extiende (SSRM)
  • Modo de Resonancia Torsional (TRmode)

Pliegos De Condiciones

Funcionamiento

  • Carga Con varios modos de funcionamiento del Microscopio SPM; opción de analizadores
  • Ruido <0.3ÅRMS en la dimensión de la vertical (z) con el aislamiento de vibración
  • Diámetro del Tamaño de Muestra 15m m; 5m m gruesos
  • Punta/Casquillos Voladizos TappingMode/modo de contacto en el aire (std); TappingMode/modulación de la fuerza en el líquido (opcional); Modulación de la Fuerza en el aire (opcional); campo eléctrico (opcional); Transformador de STM (opcional); Transformador De Poca Intensidad de STM (opcional); célula flúida del modo de contacto (opcional); Electroquímica AFM o célula flúida de STM (opcional); Célula flúida del modo de la Electroquímica que golpea ligeramente (opcional); TRmode (opcional)
  • Vibración y tapa proporcionada y acústica del Aislamiento del Silicón de la pista Acústica de la vibración (std); Trípode del aislamiento de Vibración (opcional); vector del aislamiento de vibración (opcional); Vector Integrado del aislamiento de vibración y recinto acústico (opcionales)

Opciones del Soporte Físico y de Software

  • Sistema Óptico de la Visión - Provee de la vista vertical de la punta y de la superficie de la muestra el microscopio, la cámara del CCD color, y el monitor de color ópticos
  • Acceso Module™ de la Señal - Proporciona al acceso a cada señal de entrada de información y de rendimiento entre el controlador aéreo y el microscopio
  • Calefactor y Enfriador - Proporciona a la calefacción de la muestra y a enfriamiento para las aplicaciones biológicas, los polímeros y otros materiales
  • Cámara De Atmósfera Controlada - Allows que purga del ambiente en la presión atmosférica al explorar con los gases
  • Conjunto de la Electroquímica - Requerido para STM/AFM electroquímico
  • Opción Diamagnética - Consiste en retiro del imán del analizador del microscopio para las mediciones de MFM de las muestras del inferior-coercivity y de los campos aplicados
  • Módulos de Aplicación - SCM, ATÚN, SSRM y CAFM

Esta información ha sido originaria, revisada y adaptada de los materiales proporcionados por las Superficies Nanas de Bruker.

Para más información sobre esta fuente visite por favor las Superficies Nanas de Bruker.

Date Added: Apr 30, 2008 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:29

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