Serie Mista da Bruker, i Microscopi della Sonda dello Scansione Più di alta risoluzione Del Mondo

Lista di Argomento

Sfondo
NanoScope® V, Risparmio Di Temi Ad Alto Rendimento
Varietà di Scanner Disponibili
Vasto Intervallo dei Modi Operativi e degli Ambienti
Il Mondo Più di alta risoluzione
Scansione Superiore
Nanoscope V - Il Migliore Regolatore del Mondo
Nuovo Facile-AFM per Produttività Massima
Flessibilità e Funzionalità Insuperate
Opzioni di Controllo Dell'ambiente
Espansibilità Illimitata di Applicazione
Specifiche
Prestazione
Opzioni di Software e del Hardware

Sfondo

La serie di MultiMode® rappresenta il mondo più di alta risoluzione, la maggior parte dei microscopi applicazione-provati della sonda di scansione.

Questa punta del progresso ad alto rendimento SPM caratterizza una progettazione di hardware compatta, un regolatore di quinta generazione ad alta velocità, le capacità di controllo dell'ambiente e un software facile da usare per permettere all'acquisizione notevolmente facile dei dati dalle immagini micro- del atomico-disgaggio. La produttività, la flessibilità e l'affidabilità Provate hanno reso a serie Mista SPMs la guida della prestazione in materiali, scienze biologiche ed i polimeri ricercano.

Figura 1. SPM Misto

NanoScope® V, Risparmio Di Temi Ad Alto Rendimento

  • Suggerimento-campione di Misure/dinamica a mensola (acquisizione di dati 50MHz)
  • Diminuisce il tempo che cerca piccola densità del pixel delle funzionalità (5120 x 5120)
  • Acquista simultaneamente e video fino a 8 immagini

Varietà di Scanner Disponibili

  • Offre la flessibilità delle dimensioni di scansione
  • Consegna l'accuratezza caratteristica dell'applicazione

Vasto Intervallo dei Modi Operativi e degli Ambienti

  • Fornisce la flessibilità delle applicazioni
  • Progettazione Compatta e Rigida
  • Produce le immagini a basso rumore e le più di alta risoluzione

Il Mondo Più di alta risoluzione

Ogni sfaccettatura della progettazione elettronica e meccanica del sistema Misto è stata ottimizzata per il più di alta risoluzione, compreso un breve percorso meccanico, una costruzione rigida di basso vibrazione e un'elettronica di ultra-basso-disturbo. L'alta risoluzione della serie Mista ha contribuito a piombo alle pubblicazioni più scientifiche che tutto lo altro SPMs si è combinato. L'aggiunta di nuovo, regolatore altamente avanzato di NanoScope V ora significa che gli utenti Misti di V possono essere ancor più produttivi.

Scansione Superiore

Gli scanner multipli della funzionalità Mista di SPMs che permettono ad ogni utente di adattare il sistema per la ricerca determinata. Gli Scanner con la grande scansione varia fino a 125 micron sulle asce DI X-Y e su un intervallo di Z fino a 5 micron come pure gli scanner ad alta definizione con 0,4 micron sulle asce DI X-Y ed il submicron Z variano, sono disponibili.

Gli scanner di verticale-aggancio hanno lasciato gli utenti posizionare il suggerimento ad un punto qualunque sulla superficie senza registrare per ottenere il movimento laterale del suggerimento durante l'approccio.

Comprendendo una miriade di caratteristiche del progetto private, questi scanner minimizzano collegarsi di X, di Y e di Z e gli effetti della non linearità e dell'isteresi, mentre mantengono la calibratura in tutto l'intervallo verticale completo. Ciò consegna un livello di prestazione della rappresentazione ineguagliato da qualunque altro AFM. La calibratura e la linearizzazione dello Scanner sono mantenute tramite controllo del software, fornente all'utente facile, accesso diretto a tutti gli aspetti dell'operazione dello scanner.

Nanoscope V - Il Migliore Regolatore del Mondo

Il nuovo sistema Misto di SPM include il regolatore di NanoScope V, che utilizza l'elettronica ad alta velocità avanzata con i moltiplicatori di focale di D/A e di A/D che funzionano a 50MHz, per consegnare l'acquisizione di dati affidabile e ad alta velocità. Ciò permette che i ricercatori misurino il suggerimento-campione/dinamica a mensola per studiare l'influenza dei beni meccanici sulla fisica delle interazioni del sonda-campione ed esaminare le scale cronologiche precedentemente inaccessibili agli utenti di SPM.

Con le immagini di alto-pixel-densità fino ad un massimo di 5120 x 5120, non c'è necessità di ritornare e ripetere una scansione. L'alta densità del pixel salva il tempo degli utenti quando cerca le funzionalità a bassa densità distribuite sopra le ampie aree, diminuisce la necessità di catturare parecchie immagini alle densità più basse del pixel ed elimina il requisito degli adeguamenti di stampa offset ad informazioni di componente dalle immagini multiple. Egualmente permette l'osservazione di grandi strutture e di piccole funzionalità nella stessa immagine.

Il NanoScope V cattura tutto video (ed acquistando per l'analisi) fino a otto immagini in tempo reale con il rapporto segnale-rumore senza precedenti.

Quindi, gli utenti possono raccogliere simultaneamente le informazioni sui beni multipli di un campione. Per esempio, questo sistema può fare MFM e la spillatura mentre cattura l'altezza, fase ed ampiezza nella riga di spillatura come pure frequenza ed ampiezza nella riga dell'ascensore.

Inoltre, FPGA ad alta velocità consegna il feedback in 2μs con guadagno indipendente e frequenza su controllo digitale di Q. L'aumento 8X nella velocità facilita la sperimentazione ad alta velocità e alta di larghezza di banda, quali la piccola trave a mensola, la trave a mensola attiva ed il controllo sonoro. Sincroni indipendenti Multipli blocco-in amplificatori permettono di spillare e torsione, armoniche in EFM e movimento verticale e laterale più di ordine alto.

Nuovo Facile-AFM per Produttività Massima

Per l'ultimo nella semplicità operativa aerodinamica, nelle offerte Facili-AFM™ un'interfaccia utente grafica intuitiva e facile da seguire per i nuovi o utenti rari di SPM. Diminuisce il tempo di impostazione automaticamente regolando i parametri di scansione ed ottenendo TappingMode™ di alta qualità nelle immagini dell'aria sulla maggior parte dei campioni ad una spinta di un bottone. Il Facile-AFM è ideale per gli ambienti multiutenti.

Flessibilità e Funzionalità Insuperate

L'opzione dell'aperto architettura di NanoScript™ fornisce un'estesa lista delle funzioni per gestire lo SPM per gli esperimenti e la ricerca su ordinazione del nanoscale. Queste funzioni possono anche essere chiamate da tutto il linguaggio di programmazione che può fungere da cliente di Component Object Model di Microsoft (COM), compreso LabVIEW™, MATLAB™ e Visual Basic.

Opzioni di Controllo Dell'ambiente

Il radiatore Misto/riga più fresca fornisce la convenienza aumentata di termale-control alla ricerca di scienze biologiche e dei polimeri. Un singolo regolatore regolamenta le temperature del campione da -35 a 250°C. Parecchi modelli sono offerti, permettendo che i ricercatori approvvigionino una soluzione termica adeguata ai loro bisogni. Per uso con aria e gas inerti, tre gamme di temperature sono disponibili: -35 agli ambienti 100°C, ambientali a 250°C e a -35 a 250°C. Un Altro modello funziona in liquidi o aria a partire da ambientale a 60°C facendo uso degli scanner Misti standard.

Altre funzionalità includono uno scanner raffreddato a liquido migliore che funziona con due riscaldamento/elementi refrigeranti differenti e fornisce la temperatura che percepisce per proteggere lo scanner da danno dall'esteso calore.

Espansibilità Illimitata di Applicazione

Il Misto esegue una gamma completa di tecniche di SPM per la caratterizzazione di superficie dei beni come la topografia, l'elasticità, l'attrito, l'aderenza ed elettrico e campi magnetici:

  • TappingMode AFM
  • Modo di Contatto AFM
  • PhaseImaging™
  • Microscopia della Forza Laterale (LFM)
  • Microscopia della Forza Magnetica (MFM)
  • Modulazione della Forza
  • Microscopia della Forza Elettrica (EFM)
  • Microscopia di Capacità di Scansione (SCM)
  • Microscopia Potenziale Di Superficie
  • Misure del Forza-Volume e di Forza-Distanza
  • Microscopia Elettrochimica (ECAFM)
  • Spettroscopia della Forza di PicoForce
  • Traforo AFM (SGOMBRO)
  • Conduttivo AFM (CAFM)
  • Microscopia di Scansione di Resistenza di Diffusione (SSRM)
  • Modo di Risonanza Di Torsione (TRmode)

Specifiche

Prestazione

  • Testa Mista del Microscopio SPM; scelta degli scanner
  • Disturbo <0.3ÅRMS nella dimensione di verticale (z) con isolamento antivibrante
  • Diametro di Dimensione del Campione 15mm; 5mm spessi
  • Suggerimento/Supporti A Mensola TappingMode/modo di contatto in aria (std); TappingMode/modulazione della forza in liquido (facoltativo); Modulazione della Forza in aria (facoltativa); campo elettrico (facoltativo); Moltiplicatore di focale di STM (facoltativo); Moltiplicatore di focale A Corrente Debole di STM (facoltativo); cella fluida di modo di contatto (facoltativa); Elettrochimica AFM o cella fluida di STM (facoltativa); Cella fluida di spillatura di modo di Elettrochimica (facoltativa); TRmode (facoltativo)
  • Vibrazione e coperchio fornito ed acustico di Isolamento del Silicone del cuscinetto Acustico di vibrazione (std); Treppiede di isolamento antivibrante (facoltativo); tabella di isolamento antivibrante (facoltativa); Tabella Integrata di isolamento antivibrante ed isolamento acustico (facoltativi)

Opzioni di Software e del Hardware

  • Sistema di Visualizzazione - Fornisce la visualizzazione verticale della superficie del campione e del suggerimento il microscopio, la Telecamera CCD di colore ed il monitor a colori ottici
  • Segnale Access Module™ - Consente l'accesso ad ogni input e segnale in uscita fra il regolatore ed il microscopio
  • Radiatore e Dispositivo Di Raffreddamento - Fornisce il riscaldamento del campione ed il raffreddamento per le applicazioni biologiche, i polimeri ed altri materiali
  • Camera A Atmosfera Controllata - Allows che si purga dell'ambiente alla pressione atmosferica quando scandiscono con i gas
  • Pacchetto di Elettrochimica - Richiesto per STM/AFM elettrochimico
  • Opzione Non Magnetica - Consiste della rimozione del magnete dallo scanner del microscopio per le misure di MFM dei campioni di basso coercitività e dei campi applicati
  • Moduli di Applicazione - SCM, SGOMBRO, SSRM e CAFM

Questi informazioni sono state originarie, esaminate ed adattate dai materiali forniti dalle Superfici Nane di Bruker.

Per ulteriori informazioni su questa sorgente visualizzi prego le Superfici Nane di Bruker.

Date Added: Apr 30, 2008 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:14

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