Bruker からのマルチモードシリーズ、世界で高リゾリューションのスキャンのプローブの顕微鏡

トピックのリスト

背景
NanoScope® V の高性能効率
使用できるスキャンナーの変化
オペレーティング・モードおよび環境の広い範囲
高リゾリューション世界
優秀なスキャン
Nanoscope V - 世界で最もよいコントローラ
最大生産性のための新しい容易 AFM
最高の柔軟性および機能性
環境制御オプション
無制限アプリケーション拡張性
指定
パフォーマンス
ハードウェアおよびソフトウェアオプション

背景

MultiMode® シリーズは高リゾリューション世界ほとんどのアプリケーション証明されたスキャンのプローブの顕微鏡を表します。

この高性能最新式 SPM はマイクロ原子スケールの画像からのデータの非常に容易な獲得を可能にするためにコンパクトなハードウェアデザイン、高速第 5 生成のコントローラ、環境制御の機能およびユーザーフレンドリーのソフトウェアを特色にします。 証明された生産性、柔軟性および信頼性はマルチモードシリーズ SPMs に材料、生命科学のパフォーマンスリーダーをし、ポリマーは研究します。

図 1. マルチモード SPM

NanoScope® V の高性能効率

  • 手段の先端サンプル/片持梁原動力 (50MHz データ収集)
  • 減らします小さい機能 (5120 x 5120 ピクセル密度を) 捜す時間を
  • 8 つまでの画像を同時に得、表示します

使用できるスキャンナーの変化

  • スキャンサイズの柔軟性を提供します
  • アプリケーション特有の正確さを提供します

オペレーティング・モードおよび環境の広い範囲

  • アプリケーションの柔軟性を提供します
  • コンパクトで、堅いデザイン
  • 低雑音の、高リゾリューションの画像を作り出します

高リゾリューション世界

マルチモードシステムの電子および機械デザインのあらゆる面は短い機械経路、堅い低振動構築および超低騒音の電子工学を含んで高リゾリューションのために、最適化されました。 マルチモードシリーズの高リゾリューションは他の SPMs がすべて結合したより科学的な出版物の原因となるのを助けました。 NanoScope 新しい、非常に高度の V のコントローラの付加は今マルチモード V のユーザーがさらにもっとプロダクティブである場合もあることを意味します。

優秀なスキャン

各ユーザーを個々の研究のためのシステムを合わせるために割り当てる SPMs マルチモード機能多重スキャンナー。 大きいスキャン 125 ミクロンまでのスキャンナーは X-Y 斧および Z の範囲の 5 ミクロンまで及びます、また X-Y 斧の 0.4 ミクロンが付いている高解像のスキャンナーおよびミクロ以下 Z は使用できます及びましたり。

縦実行のスキャンナーはユーザーがアプローチの間に先端の側面動きを調節しないで表面で先端をいずれかの時点で置くことを可能にしました。

専有設計特微の多くを組み込んで、これらのスキャンナーは完全な縦の範囲全体の口径測定を維持している間非直線性およびヒステリシスの X、 Y および Z のクロス連結および効果を最小化します。 これは他のどの AFM によっても無比イメージ投射パフォーマンスのレベルを提供します。 スキャンナーの口径測定および線形化はスキャンナー操作のすべての面に容易をユーザーに、ダイレクト・アクセス与えるソフトウェア制御によって維持されます。

Nanoscope V - 世界で最もよいコントローラ

新しいマルチモード SPM システムは 50MHz で動作する A/D および D/A のコンバーターと共に高度の高速電子工学を利用する信頼できる、高速データ収集を提供するために NanoScope V のコントローラを含んでいます。 これは研究者が先端サンプル/プローブサンプル相互作用の物理学の機械特性の影響を調査し、 SPM のユーザーに得難いタイムスケールを前に検査するために片持梁原動力を測定することを可能にします。

5120 x 5120 までの高ピクセル密度の画像によって、戻り、スキャンを繰り返す必要性がありません。 高いピクセル密度は大きい領域へ分布する低密度機能を捜すときユーザーの時間を節約しより低いピクセル密度で複数の画像を捕獲する必要性を減らしそして相互的関係情報に複数の画像からオフセット調節のための条件を除去します。 それはまた同じ画像の大きい構造そして小さい機能の観察を可能にします。

NanoScope V は (表示し、) 分析のための取得によってすべてを前例のない信号対雑音比のリアルタイムの 8 つまでの画像を捕獲します。

従って、ユーザーはサンプルの多重特性についての情報を同時に集めることができます。 例えば、このシステムは上昇ラインの叩くラインの高さ、段階および振幅、また頻度および振幅捕獲している間 MFM および叩くことをすることができます。

さらに、高速 FPGA はデジタル Q 制御の独立した利得そして頻度の 2μs のフィードバックを提供します。 速度の 8X 増加は小さい片持梁、実行中の片持梁および共鳴制御のような高速の、高帯域幅の実験を、促進します。 倍数の独立した同期ロックインのアンプは EFM の叩くことおよびねじり、および高位縦倍音および側面動き割り当てます。

最大生産性のための新しい容易 AFM

合理化された操作上の簡易性の最終的ののために、容易なAFM™提供は直観的の、新しくかまれな SPM のユーザーのための図形ユーザー・インターフェースに容易に続きます。 それは自動的にスキャンパラメータを調節し、ボタンの押しでほとんどのサンプルの空気画像の良質の TappingMode™を得ることによってセットアップ時間を減らします。 容易 AFM はマルチユーザーの環境にとって理想的です。

最高の柔軟性および機能性

NanoScript™オープンアーキテクチャオプションはカスタム実験および nanoscale の研究のための SPM を制御するために機能の広範なリストを提供します。 これらの機能はまたマイクロソフトの LabVIEW™、 MATLAB™および Visual Basic を含む構成のオブジェクトモデルの顧客として、機能 (COM)できるあらゆるプログラミング言語から呼出すことができます。

環境制御オプション

マルチモードヒーター/より涼しいラインは生命科学およびポリマー研究に高められた熱制御の便利を提供します。 単一のコントローラは -35 からの 250°C. にサンプル温度を調整します。 複数のモデルは提供され、必要性に合う熱解決を購入することを研究者を許可します。 空気および不活性ガスとの使用のために、 3 つの温度較差は使用できます: -35 100°C 環境に、包囲された 250°C および 250°C. に -35 に。 別のモデルは標準マルチモードスキャンナーを使用して包囲されたから 60°C に液体か空気で動作します。

他の機能は 2 つの暖房/冷却の要素と動作し、広範な熱によって損傷からスキャンナーを保護するために感じる温度を提供する改良された液体冷却されたスキャンナーを含んでいます。

無制限アプリケーション拡張性

マルチモードは地形、伸縮性、摩擦、付着、および電気のような特性の表面の性格描写のための SPM の技術のフルレンジをおよび磁場行います:

  • TappingMode AFM
  • 接触モード AFM
  • PhaseImaging™
  • 側面力の顕微鏡検査 (LFM)
  • 磁気力の顕微鏡検査 (MFM)
  • 力変調
  • 電気力の顕微鏡検査 (EFM)
  • スキャンキャパシタンス顕微鏡検査 (SCM)
  • 表面の潜在的な顕微鏡検査
  • 力間隔および力ボリューム測定
  • 電気化学の顕微鏡検査 (ECAFM)
  • PicoForce 力の分光学
  • トンネルを掘ること AFM (マグロ)
  • 伝導性 AFM (CAFM)
  • スキャンの広がり抵抗の顕微鏡検査 (SSRM)
  • ねじり共鳴モード (TRmode)

指定

パフォーマンス

  • 顕微鏡マルチモード SPM のヘッド; スキャンナーの選択
  • 振動隔離を用いる垂直 (z) 次元の騒音 <0.3ÅRMS
  • サンプルの大きさ 15mm の直径; 厚い 5mm
  • 先端/片持梁ホールダー TappingMode/空気 (std) の接触モード; 液体の TappingMode/力変調 (任意選択); 空気の力変調 (任意選択); 電場 (任意選択); STM のコンバーター (任意選択); 低現在の STM のコンバーター (任意選択); 接触モードの流動セル (任意選択); 電気化学 AFM か STM の流動セル (任意選択); 電気化学の叩くモードの流動セル (任意選択); TRmode (任意選択)
  • 振動および音響の隔離のシリコーンの振動パッドの提供された音響カバー (std); 振動隔離の三脚 (任意選択); 振動隔離表 (任意選択); 統合された振動隔離表および音響機構 (任意選択)

ハードウェアおよびソフトウェアオプション

  • 光学観覧システム - 光学顕微鏡、カラー CCD のカメラおよびカラー・モニタを先端およびサンプル表面の縦の概観に与えます
  • シグナルアクセス Module™ - コントローラと顕微鏡間のあらゆる入出力シグナルへのアクセスを提供します
  • ヒーターおよびクーラー - 生物的アプリケーション、ポリマーおよび他の材料にサンプル暖房および冷却を提供します
  • 環境区域 - ガスとスキャンする場合の大気圧で環境の清浄になる Allows
  • 電気化学 STM/AFM に必要な電気化学のパッケージ -
  • 非磁気オプション - 低最大保持力のサンプルおよび応用フィールドの MFM の測定のための顕微鏡のスキャンナーからの磁石の取り外しから成っています
  • 応用モジュール - SCM、マグロ、 SSRM および CAFM

この情報は Bruker の Nano 表面によって提供される材料から供給され、見直され、そして適応させて。

このソースのより多くの情報のために Bruker の Nano 表面を訪問して下さい。

Date Added: Apr 30, 2008 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:15

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