Série Multimodo de Bruker, os Microscópios Os mais de alta resolução da Ponta De Prova da Exploração Do Mundo

Lista do Assunto

Fundo
NanoScope® V, Eficiência De capacidade elevada
Variedade de Varredores Disponíveis
Escala Larga de Modos e de Ambientes de Funcionamento
O Mundo O mais de alta resolução
Exploração Superior
Nanoscope V - O Melhor Controlador do Mundo
Fácil-AFM Novo para a Produtividade Máxima
Flexibilidade Absoluto e Funcionalidade
Opções do Controle Ambiental
Expansibilidade Ilimitada da Aplicação
Especificações
Desempenho
Opções do Hardware e de Software

Fundo

A série de MultiMode® representa o mundo o mais de alta resolução, a maioria de microscópios aplicação-provados da ponta de prova da exploração.

Este último modelo de capacidade elevada SPM caracteriza um projecto de hardware compacto, um controlador de alta velocidade da quinto-geração, umas capacidades de controle ambiental, e um software de fácil utilização a fim permitir a aquisição notàvel fácil dos dados das micro imagens da atômico-escala. A produtividade, a flexibilidade, e a confiança Provadas fizeram a série Multimodo SPMs o líder do desempenho nos materiais, ciências da vida, e os polímeros pesquisam.

Figura 1. SPM Multimodo

NanoScope® V, Eficiência De capacidade elevada

  • Dinâmica da ponta-amostra/modilhão das Medidas (captação de dados 50MHz)
  • Reduz o tempo que procura a densidade pequena do pixel das características (5120 x 5120)
  • Adquire e indica até 8 imagens simultaneamente

Variedade de Varredores Disponíveis

  • Oferece a flexibilidade de tamanhos da varredura
  • Entrega a precisão característica da aplicação

Escala Larga de Modos e de Ambientes de Funcionamento

  • Fornece a flexibilidade das aplicações
  • Projecto Compacto, Rígido
  • Produz imagens de baixo nível de ruído, as mais de alta resolução

O Mundo O mais de alta resolução

Cada faceta do projecto eletrônico e mecânico de sistema Multimodo foi aperfeiçoada para o mais de alta resolução, incluindo um trajecto mecânico curto, uma construção rígida da baixo-vibração, e uma eletrônica do ultra-baixo-ruído. A alta resolução da série Multimodo ajudou a conduzir a umas publicações mais científicas do que todo SPMs restante combinou. A adição do controlador novo, altamente avançado de NanoScope V significa agora que os usuários Multimodos de V podem ser ainda mais produtivos.

Exploração Superior

Os varredores múltiplos da característica Multimodo de SPMs que permitem cada usuário costurar o sistema para a pesquisa individual. Os Varredores com grande varredura variam até 125 mícrons nos machados XY e em uma escala de Z até 5 mícrons, assim como os varredores de alta resolução com 0,4 mícrons nos machados XY e Z submicrónico variam, estão disponíveis.

Os varredores do vertical-contrato deixaram usuários posicionar em qualquer momento a ponta sobre a superfície sem ajustar para o movimento lateral da ponta durante a aproximação.

Incorporando um anfitrião de características de projecto proprietárias, estes varredores minimizam entrelaçar de X, de Y, e de Z e os efeitos da não-linearidade e da histerese, ao manter a calibração durante todo a escala vertical completa. Isto entrega um nível de desempenho da imagem lactente ímpar por todo o outro AFM. A calibração e a linearização do Varredor são mantidas pelo controle do software, fornecendo o usuário o fácil, de acesso directo a todos os aspectos da operação do varredor.

Nanoscope V - O Melhor Controlador do Mundo

O sistema Multimodo novo de SPM inclui o controlador de NanoScope V, que utiliza eletrônica de alta velocidade avançada junto com os conversores do A/D e do D/A que se operam em 50MHz, para entregar a captação de dados segura, de alta velocidade. Isto permite que os pesquisadores meçam a dinâmica da ponta-amostra/modilhão a fim estudar a influência de propriedades mecânicas na física de interacções da ponta de prova-amostra e examinar os calendários previamente inacessíveis aos usuários de SPM.

Com imagens da alto-pixel-densidade até 5120 x 5120, não há nenhuma necessidade de ir para trás e repetir uma varredura. A densidade alta do pixel ganha o tempo dos usuários ao procurarar pelas características de baixa densidade distribuídas sobre grandes áreas, reduz a necessidade de capturar diversas imagens em umas mais baixas densidades do pixel, e elimina a exigência para ajustes do offset à informação da correlação das imagens múltiplas. Igualmente permite a observação de grandes estruturas e de características pequenas na mesma imagem.

O NanoScope V captura tudo indicando (e adquirindo para a análise) até oito imagens no tempo real com relação de relação sinal-ruído inaudita.

Assim, os usuários podem recolher a informação sobre propriedades múltiplas de uma amostra simultaneamente. Por exemplo, este sistema pode fazer MFM e batida ao capturar a altura, a fase, e a amplitude na linha de batida, assim como freqüência e amplitude na linha do elevador.

Além, um FPGA de alta velocidade entrega o feedback em 2μs com ganho e freqüência independentes no controle digital de Q. O aumento 8X na velocidade facilita a experimentação de alta velocidade, alta da largura de faixa, tal como o modilhão pequeno, o modilhão activo, e o controle ressonante. Síncrono independente do Múltiplo fechamento-em amplificadores permite bater e torsão, harmónicos em EFM, e movimento vertical e lateral de ordem superior.

Fácil-AFM Novo para a Produtividade Máxima

Para o final em simplicidade operacional aerodinâmica, em ofertas Fáceis-AFM™ uma interface de utilizador gráfica intuitiva, fácil de seguir para usuários novos ou raros de SPM. Reduz o tempo estabelecido automaticamente ajustando os parâmetros da exploração, e obtendo TappingMode™ de alta qualidade em imagens do ar na maioria de amostras em um impulso de um botão. O Fácil-AFM é ideal para ambientes do multi-usuário.

Flexibilidade Absoluto e Funcionalidade

A opção da aberto-arquitetura de NanoScript™ fornece uma lista extensiva de funções para controlar o SPM para experiências e a pesquisa feitas sob encomenda do nanoscale. Estas funções podem igualmente ser chamadas de toda a linguagem de programação que puder actuar como um cliente do Modelo de Objeto Componente de Microsoft (COM), incluindo LabVIEW™, MATLAB™, e Visual Basic.

Opções do Controle Ambiental

O calefator Multimodo/linha mais fresca fornece a conveniência aumentada do térmico-controle à pesquisa das ciências da vida e dos polímeros. Um único controlador regula temperaturas da amostra de -35 a 250°C. Diversos modelos são oferecidos, permitindo que os pesquisadores comprem uma solução térmica costurada a suas necessidades. Para o uso com ar e gáss inertes, três variações da temperatura estão disponíveis: -35 aos ambientes 100°C, ambientais a 250°C, e a -35 a 250°C. Um Outro modelo opera-se nos líquidos ou no ar de ambiental a 60°C usando varredores Multimodos padrão.

Outras características incluem um varredor líquido-de refrigeração melhorado que se opere com dois aquecimentos/elementos refrigerantes diferentes e se forneça a temperatura que detecta para proteger o varredor de dano pelo calor extensivo.

Expansibilidade Ilimitada da Aplicação

O Multimodo executa uma série completa de técnicas de SPM para a caracterização de superfície das propriedades como a topografia, a elasticidade, a fricção, a adesão, e o elétrico e campo magnèticos:

  • TappingMode AFM
  • Modo de Contacto AFM
  • PhaseImaging™
  • Microscopia da Força Lateral (LFM)
  • Microscopia da Força Magnética (MFM)
  • Modulação da Força
  • Microscopia da Força Elétrica (EFM)
  • Microscopia da Capacidade da Exploração (SCM)
  • Microscopia Potencial De Superfície
  • Medidas da Força-Distância e do Força-Volume
  • Microscopia Electroquímica (ECAFM)
  • Espectroscopia da Força de PicoForce
  • Escavação De Um Túnel AFM (ATUM)
  • AFM Condutor (CAFM)
  • Microscopia de Varredura da Resistência de Espalhamento (SSRM)
  • Modo de Ressonância De Torção (TRmode)

Especificações

Desempenho

  • Cabeça Multimodo do Microscópio SPM; escolha dos varredores
  • Ruído <0.3ÅRMS no vertical (Z) dimensão com isolamento de vibração
  • Diâmetro do Tamanho da Amostra 15mm; 5mm grossos
  • Ponta/Suportes TappingMode do Modilhão/modo de contacto no ar (STD); TappingMode/modulação da força no líquido (opcional); Modulação da Força no ar (opcional); campo elétrico (opcional); Conversor de STM (opcional); conversor Baixo-Actual de STM (opcional); pilha fluida do modo de contacto (opcional); Electroquímica AFM ou pilha fluida de STM (opcional); Pilha fluida de batida do modo da Electroquímica (opcional); TRmode (opcional)
  • Vibração e tampa fornecida e acústica da almofada Acústica da vibração do Silicone do Isolamento (STD); Tripé do isolamento de Vibração (opcional); tabela do isolamento de vibração (opcional); Tabela Integrada do isolamento de vibração e cerco acústico (opcionais)

Opções do Hardware e de Software

  • Sistema Óptico da Visão - Fornece a ideia vertical da ponta e da superfície da amostra o microscópio óptico, a câmera do CCD da cor, e o monitor de cor
  • Acesso Module™ do Sinal - Fornece o acesso a cada sinal de entrada e de saída entre o controlador e o microscópio
  • Calefator e Refrigerador - Fornece o aquecimento da amostra e refrigerar para aplicações biológicas, polímeros e outros materiais
  • Câmara Ambiental - Allows que remove do ambiente na pressão atmosférica ao fazer a varredura com gáss
  • Pacote da Electroquímica - Exigido para STM/AFM eletroquímico
  • Opção Nonmagnetic - Consiste na remoção do ímã do varredor do microscópio para medidas de MFM de amostras do baixo-coercivity e de campos aplicados
  • Módulos de Aplicação - SCM, ATUM, SSRM e CAFM

Esta informação foi originária, revista e adaptada dos materiais fornecidos por Superfícies Nano de Bruker.

Para obter mais informações sobre desta fonte visite por favor Superfícies Nano de Bruker.

Date Added: Apr 30, 2008 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:25

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