從 Bruker 的多重狀態的串聯,世界的最高分辨率的掃描探測顯微鏡

事宜列表

背景
NanoScope® V,高性能效率
可用的掃描程序種類
操作方式和環境的清楚的範圍
最高分辨率的世界的
優越掃描
Nanoscope V - 世界的最佳的管理員
最大生產率的新的容易 AFM
未被超越的靈活性和功能
環境控制選項
無限的應用可伸縮
說明
性能
硬件和軟件選擇

背景

MultiMode® 串聯表示最高分辨率這個的世界的,多數應用證明的掃描探測顯微鏡。

此高性能科技目前進步水平 SPM 以一個緊湊硬件設計、高速第五代管理員、環境控制功能和用戶友好軟件為特色為了啟用卓越地數據的容易的購買從微型的基本縮放比例圖像的。 證明的生產率、靈活性和可靠性做多重狀態的串聯 SPMs 在材料,生命科學的性能領導先鋒,并且聚合物研究。

圖 1. 多重狀態的 SPM

NanoScope® V,高性能效率

  • 評定技巧範例/懸臂式動力 (50MHz 數據捕獲)
  • 減少尋找小的功能 (5120 x 5120 像素密度) 的時間
  • 同時獲取并且顯示 8 個圖像

可用的掃描程序種類

  • 提供掃描範圍的靈活性
  • 提供有特殊用途的準確性

操作方式和環境的清楚的範圍

  • 提供應用的靈活性
  • 緊湊,嚴格的設計
  • 導致低噪聲,最高分辨率的圖像

最高分辨率的世界的

多模系統的電子和機械設計的每個小平面為最高分辨率被優選了,包括短的機械路徑、嚴格的低振動建築和超低噪聲電子。 多重狀態的串聯的高分辨率比其他 SPMs 結合了幫助導致更加科學的發行。 新,高度先進的 NanoScope V 管理員的添加現在意味多重狀態的 V 用戶可以是更加有生產力的。

優越掃描

允許每個用戶剪裁單個研究的系統的多重狀態的 SPMs 功能多個掃描程序。 有大掃描的掃描程序排列在 X - Y 的軸和 Z 範圍的 125 微米 5 微米,以及有 0.4 微米的高分辨率掃描程序在 X - Y 的軸和亞顯微 Z 排列,是可用的。

在途徑期間,垂直從事掃描程序在表面讓用戶在任意時候確定這個技巧,无需調整為這個技巧的側向移動。

合併許多所有權設計特點,這些掃描程序使 X、 Y 和 Z 交叉干擾和非線形性和遲滯現象減到最小的作用,當維護在這個充分的垂直的範圍中時的定標。 這提供想像性能的級別不匹配由其他 AFM。 掃描程序定標和線性化由軟件控制維護,提供這個用戶以容易,直接存取給掃描程序運算的所有方面。

Nanoscope V - 世界的最佳的管理員

新的多重狀態的 SPM 系統包括 NanoScope V 管理員,使用先進的高速電子以及經營在 50MHz 的 A/D 和 D/A 交換器,提供可靠,高速數據捕獲。 這允許研究員評定技巧範例/懸臂式動力為了學習機械性能的影響對探測範例交往物理和檢查時標以前不可訪問對 SPM 用戶。

至 5120 x 5120 的高像素密度圖像,沒有需要返回和重複掃描。 高像素密度節省用戶時候,當搜索低密度功能被分配在大區,減少需要獲取幾個圖像在更低的像素密度,并且消滅抵銷調整的需求對相互關係信息從多重圖像。 它也允許大結構和小的功能的觀察在同一個圖像。

NanoScope V 通過顯示 (和獲取在實時獲取一切分析的) 八個圖像以史無前例的信號噪音比。

因此,用戶能同時收集關於範例的多個屬性的信息。 例如,此系統可能執行 MFM 和開發,當獲取高度、階段和高度在開發的線路、以及頻率和高度在推力線路時。

另外,高速 FPGA 提供在 2μs 的反饋與獨立收益和頻率在數字式 Q 控制。 在速度的 8X 增量實現高速,高帶寬實驗,例如小的懸臂、有效的懸臂和共振控制。 多個獨立同步封鎖行動放大器允許開發和扭力、泛音在 EFM 和高次垂直和側向移動。

最大生產率的新的容易 AFM

对最終在效率化的可操作的簡單,容易的 AFM™聘用直觀,容易對按照新或不常見的 SPM 用戶的圖像用戶接口。 它通過自動調整掃描參數和獲得在航空圖像的優質 TappingMode™減少設定時間在多數範例在按鈕的推進。 容易 AFM 對多用戶環境是理想的。

未被超越的靈活性和功能

NanoScript™開放結構選項提供功能一個廣泛的列表控制自定義實驗和 nanoscale 研究的 SPM。 這些功能可能從可能作為微軟的組件對象模型客戶機,包括 LabVIEW™、 MATLAB™ (COM)和 Visual Basic 的所有編程語言也叫。

環境控制選項

多重狀態的加熱器/冷靜線路提供增加的熱量控制便利給生命科學和聚合物研究。 一個唯一管理員調控從 -35 的範例溫度到 250°C。 提供幾個設計,允許研究員採購一個熱量解決方法為專門製作他們的需要。 為與航空和惰性氣體的使用,三溫度範圍是可用的: -35 對 100°C 環境,四周到 250°C 和 -35 對 250°C。 使用標準多重狀態的掃描程序,另一個設計在流體或航空運行從四周到 60°C。

其他功能包括運行與二不同熱化/冷卻元件并且提供感覺的溫度保護掃描程序免受故障由廣泛的熱的一個改進的液冷掃描程序。

無限的應用可伸縮

多重 狀態 執行 屬性 的 表面 描述 特性 的 各種各樣 的 SPM 技術 像 地勢 、 彈性 、 摩擦 , 黏附力 和 電 的 和 磁場 :

  • TappingMode AFM
  • 聯繫模式 AFM
  • PhaseImaging™
  • 側力顯微學 (LFM)
  • 磁力顯微學 (MFM)
  • 強制模塊化
  • 電力顯微學 (EFM)
  • 掃描電容顯微學 (SCM)
  • 表面潛在的顯微學
  • 強制距離和強制數量評定
  • 電化學顯微學 (ECAFM)
  • PicoForce 強制分光學
  • 挖洞 AFM (金槍魚)
  • 導電性 AFM (CAFM)
  • 瀏覽的擴展電阻顯微學 (SSRM)
  • 扭轉力共鳴模式 (TRmode)

說明

性能

  • 顯微鏡多重狀態的 SPM 題頭; 掃描程序選擇
  • 在垂直 (z) 維數的噪聲 <0.3ÅRMS 與隔振
  • 樣本大小 15mm 直徑; 5mm 厚實
  • 技巧/懸臂式持有人 TappingMode/在航空 (std) 的聯繫模式; TappingMode/強制模塊化在流體 (選項); 在航空的強制模塊化 (選項); 電場 (選項); STM 交換器 (選項); 低電流 STM 交換器 (選項); 聯繫模式可變的細胞 (選項); 電化學 AFM 或 STM 可變的細胞 (選項); 電化學開發的模式可變的細胞 (選項); TRmode (選項)
  • 振動和音響隔離硅樹脂振動填充提供的和聲蓋 (std); 隔振三腳架 (選項); 隔振表 (選項); 集成隔振表和隔聲罩 (選項)

硬件和軟件選擇

  • 光學查看系統 - 提供技巧和範例表面垂直的視圖以光學顯微鏡、顏色 CCD 照相機和彩色監視器
  • 信號存取 Module™ - 提供存取對於在管理員和顯微鏡之間的每個輸入和輸出信號
  • 加熱器和致冷機 - 為生物應用、聚合物和其他材料提供範例熱化和冷卻
  • 環境艙 - 清除環境的 Allows 以大氣壓,當瀏覽與氣體時
  • 對於電化學 STM/AFM - 是必需的電化學程序包
  • 無磁性的選項 - 包括從顯微鏡掃描程序的磁鐵刪除低矯頑性範例和應用的域的 MFM 評定的
  • 應用程序模塊 - SCM、金槍魚、 SSRM 和 CAFM

此信息是來源,覆核和適應從 Bruker 納諾表面提供的材料。

關於此來源的更多信息请請參觀 Bruker 納諾表面

Date Added: Apr 30, 2008 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:05

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