Microscope Atomique de Force de Gabarit de MFP-3D Seul de Recherche d'Asile

Sujets Couverts

Mouvement Propre
Innovations Techniques
Tête de MFP-3D - le Faible bruit, Élimine l'Interférence
Balayeur DE X/Y de MFP-3D - Précision et Exactitude À La Différence de Tout Balayeur de Tube
Base de MFP-3D
Contrôleur et Logiciel Tout-Digitaux
Applications
Recherche d'Asile - la Science D'abord
Support Personnalisé et Exceptionnel
Prenez le Défi d'Asile

Mouvement Propre

Le Microscope Atomique de Force (AFM), a été l'instrument du choix pour des mesures en trois dimensions à l'échelle de nanomètre. Avec le Gabarit de MFP-3D Seul (MFP-3D-SA) AFM, les scientifiques peuvent maintenant choisir un AFM sensible et précis avec la performance la plus à faible bruit qui comprend également un environnement logiciel scientifique complet. Le MFP-3D-SA est idéal pour beaucoup d'applications comprenant la physique, la science des matériaux, les polymères, la chimie, le nanolithography, les biosciences, et les mesures quantitatives de nanoscale. Le MFP-3D a la souplesse de saisir vos données, l'analyse, et effectue même les graphiques publication-disponibles. Votre imagination est votre seulement limite.

Innovations Techniques

Tête de MFP-3D - le Faible Bruit, Élimine l'Interférence

La manette optique de Sensored avec la diffraction a limité le bloc optique et une source lumineuse de cohérence faible élimine presque entièrement des artefacts d'interférence. L'axe de Z sensored par NPS™ fournit des mesures précises de la position en porte-à-faux pour des mesures précises de force et de topographie. Une Tête Étendue optionnelle tient compte d'un domaine de 40µm Z.

La tête de MFP-3D utilise un brevet en instance, faible bruit, positionnent le détecteur sensible (NPS™) pour régler la position exacte de l'encorbellement. Elle rectifie pour l'hystérésis et le fluage piézo-électriques qui sont particuliers avec les balayeurs commerciaux de tube. Le NPS utilise un senseur de propriété industrielle, à faible bruit, inductif qui élimine le bruit de Barkhausen ce les senseurs inductifs traditionnels des limites LVDT. Les chiffrer de bruit de NPS sont de < 0,3 nanomètres Adev dans Z dans une seconde mesure 10, et dans une largeur de bande 1kHz.

Dans le type le plus commun de dépistage (manette optique), une source lumineuse, type un faisceau laser, est rebondie hors de l'arrière de l'encorbellement à une photodiode. Le bruit dans ce détecteur détermine les plus petites forces entre l'encorbellement et l'échantillon qui peuvent être mesurés. Le MFP-3D utilise une source lumineuse de cohérence faible qui réduit à un minimum l'interférence optique.

Balayeur DE X/Y de MFP-3D - Précision et Exactitude À La Différence de Tout Balayeur de Tube

Le MFP-3D utilise un balayeur flexured et les senseurs du brevet en instance NPS Nanopositioning qui mesurent la position exacte de chaque axe (X et Y). Ils rectifient pour l'hystérésis et fluent, fournissant des échographies plates et la capacité exactement de changer de plan et compenser avec un claquement de souris.

Le balayeur de MFP-3D utilise une flexure sensored et bidimensionnelle pour balayer l'échantillon dans le X et les Axes des ordonnées (et une flexure indépendante pour déménager l'encorbellement à l'axe de Z dans la tête de MFP-3D). L'utilisation des capteurs de position indépendants permettent la correction en temps réel du comportement piézo-électrique (habituellement désigné sous le nom du fonctionnement de boucle bloquée), ou utilisé pour mesurer simplement le mouvement piézo-électrique avec le senseur et effectuer des corrections après la mesure est rempli.

Ce design a des avantages définis par rapport aux balayeurs de tube. Un problème avec des balayeurs de tube interconnecte où le mouvement le long d'un sens entraîne le mouvement non désiré dans d'autres sens. Puisque le balayeur de tube se fonde sur le mouvement de courbure du tube, car l'échantillon déménage le long du sens de X, il déménage également le long de l'axe de Z. Ce mouvement parasite peut entraîner une déformation de la forme apparente d'échantillon. Pour le mouvement transversal, (par exemple, le mouvement non désiré dans Y tandis que le balayage en X), interconnectant peut fausser la forme et les cotes des caractéristiques techniques sur l'échantillon apprêtent. les dispositifs Flexure-Basés fournissent des moyens de réduire ou même d'éliminer le mouvement parasite non désiré. Ils peuvent également être conçus avec un niveau élevé d'orthogonalité, permettant la représentation sans distorsion et orthogonale des caractéristiques techniques.

De plus, notre senseur du brevet en instance NPS LVDT est le plus tranquille dans l'industrie. Le NPS utilise un senseur de propriété industrielle, à faible bruit, inductif qui élimine le bruit de Barkhausen ce les senseurs inductifs traditionnels des limites LVDT. Les chiffrer de bruit de NPS sont de < 0,3 nanomètres Adev dans Z, <0.6 nanomètre Adev dans X et Y, dans une seconde mesure 10, et dans une largeur de bande 1kHz.

Base de MFP-3D

Contrôleur et Logiciel Tout-Digitaux

Applications

Recherche d'Asile - la Science D'abord

Support Personnalisé et Exceptionnel

Prenez le Défi d'Asile

Nous vous défions de regarder notre AFM de nouveau à l'arrière avec tout autre dans le monde. Si pour une raison quelconque, vous n'êtes pas satisfaisant dans les six premiers mois de la propriété, nous rembourserons votre argent. Appelez-nous aujourd'hui pour ordonnancer une démo pour voir pourquoi votre prochain AFM devrait être un MFP-3D.

Pour la brochure et les spécifications détaillées de texte intégral, téléchargez la copie de PDF de la brochure de MFP-3D-SA.

Source : Puissance et Souplesse Atomique de Microscope de Force de Gabarit de MFP-3D™ Seule dans Un Système Complet de Recherche d'Asile

Pour plus d'informations sur cette source visitez s'il vous plaît la Recherche d'Asile