カバーされるトピック
背景
技術的な革新
MFP-3D のヘッド低雑音は、干渉を除去します
MFP-3D の X-Y スキャンナー - 管のスキャンナーとは違う精密そして正確さ
MFP-3D ベース
全デジタルのコントローラおよびソフトウェア
アプリケーション
保護所の研究 - 最初に科学
個人化された、例外的なサポート
保護所の挑戦を取って下さい
背景
原子力の顕微鏡は (AFM)ずっとナノメーターのスケールに、三次元測定のための選択の器械です。 MFP-3D の立場 (MFP-3D-SA) AFM だけを使うと、科学者は今また完全な科学的なソフトウェアの環境が含まれている低雑音パフォーマンスを使うと敏感で、精密な AFM を選択できます。 MFP-3D-SA は物理学、物質科学、ポリマー、化学、 nanolithography、生物科学および量的な nanoscale の測定を含む多くのアプリケーションにとって理想的です。 MFP-3D にデータを得る柔軟性があり分析し、そして出版物準備ができた図形を作ります。 想像は限界だけです。
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技術的な革新
- 写像性を、正確さ与えるために置く sensored、閉じたループおよび再現性と設計されている。
- 研究の要求に応じるように全デジタルのコントローラおよび開いたソフトウェアの適応性と設計されている。
- nanolithography および 3D レンダリングのような組み込み進んだ機能と設計されている。
- 排他的な二重 AC Mode™。 二重 AC モードでは、片持梁は共鳴振動のモードか頻度の 2 でまたはその近辺で運転されます。 いろいろなサンプルのこれら二つのモードショーの顕著な対照のための振幅および段階のシグナル。
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MFP-3D のヘッド低雑音は、干渉を除去します
回折の Sensored の光学レバーは光学を限定し、低い一貫性の光源は事実上干渉の人工物を除去します。 NPS™ sensored Z 軸は正確な力および地形の測定に片持梁位置の精密な測定を提供します。 任意選択拡張ヘッドは 40µm Z の範囲を可能にします。
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MFP-3D ヘッドはパテント保留中を、低雑音、置きます片持梁の厳密な位置を制御するために敏感な探知器 (NPS™) を使用します。 それは商業管のスキャンナーと典型的であるクリープおよび piezo ヒステリシスを修正します。 NPS は Barkhausen の騒音をその限界従来の誘導 LVDT のセンサー除去する専有、低雑音の、誘導センサーを使用します。 NPS の雑音指数は < 10 第 2 測定と 1kHz 帯域幅の Z の 0.3 nm Adev です。
共通のタイプの検出 (光学レバー) では、光源、普通レーザ光線は背部の片持梁へのフォトダイオードを離れて、跳ねられます。 この探知器の騒音は測定することができるサンプルと片持梁間の最も小さい力を定めます。 MFP-3D は光学干渉を最小化する低い一貫性の光源を使用します。
MFP-3D の X-Y スキャンナー - 管のスキャンナーとは違う精密そして正確さ
各軸線の厳密な位置を測定する MFP-3D は flexured スキャンナーをおよびパテント保留中の NPS Nanopositioning センサーを使用します (X 及び Y)。 彼らはヒステリシスを修正し、はいま、平たい箱スキャンおよび正確に 1 つのマウスクリックと急上昇し、相殺する機能を提供します。
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MFP-3D のスキャンナーは X のサンプルをおよび Ｙ軸使用します (および MFP-3D ヘッドの Z 軸の片持梁を移動する別のたわみ) スキャンする sensored、二次元のたわみを。 別の位置センサーの使用は piezo 動作のリアルタイムの訂正を (通常閉じたループ操作と言われる) 可能にします、またはセンサーとの piezo 動きを単に測定するのに使用されるおよび測定の後で訂正をすることは完了します。
このデザインに管のスキャンナー上の確定利点があります。 管のスキャンナーとの 1 つの問題は 1 の方向に沿う動きにより他の方向で不必要な動きをどこに引き起こすかクロス連結しています。 管のスキャンナーは管の曲がる動きに頼るので、サンプルは X の方向に沿って移動するので、また Z 軸に沿って移動します。 この寄生動きにより明白なサンプル形のゆがみを引き起こすことができます。 側面動きのため、 (例えばクロス連結する X) のスキャンが歪むことができる間、 Y の不必要な動きはサンプルの機能の形そして次元浮上します。 たわみベースの装置は不必要な寄生動きを減らすまた更に除去する方法を提供します。 それらはまた直交性の高度とことができま、機能の正確な設計する、直角イメージ投射を許可します。
さらに、私達のパテント保留中の NPS LVDT センサーは企業の最も静かです。 NPS は Barkhausen の騒音をその限界従来の誘導 LVDT のセンサー除去する専有、低雑音の、誘導センサーを使用します。 NPS の雑音指数は < Z の 0.3 nm Adev、 X および Y、 10 第 2 測定、および 1kHz 帯域幅 <0.6 nm Adev です。
MFP-3D ベース
サンプルを照らし、見るための 3 つの構成。
- 不透明なサンプルのための平面図。
- 透過サンプルのための下面図。
- 両方の観覧オプションのための二重眺め。
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MFP-3D-SA ベースは 3 つのモデル平面図、下面図および二重眺めで使用できます。
すべてはコーラーの照明、調節可能な開口を用いる明るいフィールド顕微鏡検査を特色にし、ファイバー・バンドルによってつながれる視野絞りは、遠隔 150W 光源 1/4" 720µm および 240µm の視野が付いている CCD'S 二倍になります; 統合されたスキャンおよび相互接続は、および堅い低振動構築乗ります。
- 平面図: 使用は 3µm の解像度で不透明なサンプルのイメージ投射のための平面図ヘッドの Mitutoyo の目的を無限訂正しました。
- 下面図: 透過サンプルだけのため。 デフォルト設定は 10x/0.25 によって無限訂正される目的です。 使用できる他要望に応じて。
- 二重眺めベース: 切替可能なシャッターによって上および下面図の機能を、結合します。 どちらの方向でも透過光を可能にします。
全デジタルのコントローラおよびソフトウェア
全デジタル構成は全体のシステム操作が新しい顕微鏡の機能の容易な付加のための MFP のソフトウェアインターフェイス (プロイゴール) を通して制御されるように事実上します。
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- 低雑音、速い操作および柔軟性のためにデジタル 100%
- システム内プログラム可能なゲートアレイ (FPGA)およびディジタル信号プロセッサ (DSP)
- 速いアナログ-デジタル/DA 変換
| どのようなユーザーですか。 | 組み込み機能 |
| 新しい | - ModeMaster™ - AC の接触、段階、 EFM、 LFM の力のモード、 Nanolithography のような標準およびユーザが定義する操作モードのライブラリ
- Savant™ - 単一のマウスクリックへの回転総合作業
- SmartStart™ - 自動車はプラグアンドプレイ操作のためのコントローラとその周辺装置をインターフェイス設定します
- 25+ megapixel の解像度
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| ベテラン | - MicroAngelo™ - Nanolithography および処理
- ARgyle™ - 両方をそしてオフラインでする 3D
- チャネルは上にありました - 地形の EFM または段階チャネルのようなデータの上にありました
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| 力 | - 処分のイゴールのコマンドそしてマクロ言語
- DSPDirector™はカスタム実験のための DSP にダイレクト・アクセスを可能にします (任意選択)
- あなた自身の碩学ルーチンを編集し、作成して下さい
- クロスポイントスイッチを通したシグナルの経路指定のソフトウェア制御
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アプリケーション
保護所の研究 - 最初に科学
保護所の研究は他の科学者のための世界で最もよい研究の器械使用の作成の簡単な目的の科学者によって創設されました。 アプリケーションは物質科学、生命科学、ポリマー、 nanolithography の、電気または磁気測定にあるかどうか、保護所の研究は原子力の顕微鏡パフォーマンスのための棒を (AFM)上げました
個人化された、例外的なサポート
研究を始めれば、私達のスタッフの科学者はここに MFP-3D からほとんどを得るのを助けることいます。 私達は 「OnSight」の実験室のであることによってこの個人化されたサポートを - 私達がインターネット上のシステムを見、診断し、制御することを可能にする事実上遠隔支援システム拡張します。 私達の容易で、安全な、 WEBベースシステムは AFM の共用スクリーン、マウスおよびキーボードす制御、それにトレインし、修理のための理想をすることを可能にします。
保護所の挑戦を取って下さい
私達は世界の他のどのの私達の AFM も続けて見るために挑戦します。 何らかの理由で所有権の最初の 6 か月の内に満足しなければ、私達はお金を払い戻します。 デモを次の AFM が MFP-3D なぜべきであるか見るためにスケジュールするように私達に今日問い合わせて下さい。
フルテキストのパンフレットおよび詳細仕様のために、 MFP-3D-SA のパンフレットの PDF のコピーをダウンロードして下さい。
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ソース: MFP-3D™の立場保護所の研究からの 1 つの完全なシステムの原子力の顕微鏡の力そして柔軟性だけ
このソースのより多くの情報のために保護所の研究を訪問して下さい