故障分析和鑑定顆粒在聚合物薄膜從 Anasys儀器使用納米熱分析和納米 TA熱探頭

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討論主題

簡介
實驗裝置
結果與討論

切片電影

納米TA的比較,從破碎的電影和原料的熱探測結果
結論

簡介

納米TA熱探頭是本地的熱分析技術的亞100nm的空間分辨率,以獲得材料的熱行為的認識與能力相結合的高空間分辨率的原子力顯微鏡的成像能力。這在空間分辨率的熱分析,這是比最先進的更好〜50X突破,地方熱的理解是關鍵的聚合物和製藥等領域產生深遠的影響。

是一個特殊的納米TA熱探頭探頭,有一個嵌入式微型加熱器和納米TA熱探頭的硬件和軟件是由專門設計的控制取代傳統的針尖。這種納米TA熱探頭探頭,實現了在納米級的分辨率可視表面的原子力顯微鏡的常規成像模式,使用戶能夠選擇的空間位置,他們在想調查表面的熱性能。然後用戶獲取此信息,本地通過加熱探頭尖端和測量形變響應。

這項工作的目的是確定的污染物顆粒在聚合物薄膜,通過比較幾種原料獲得的局部熱分析數據(熔化或軟化溫度)組成。低溫裂縫的聚合物膜和4個顆粒的高分子原料好幾件,標有“粘合劑”,“EVOH的”,“聚丙烯”和“尼龍”,提供的分析。

實驗裝置

使用Veeco的資源管理器AFM Anasys納米熱分析儀器(AI)(納米TA熱探頭)配件及AI微機械熱探針與裝備獲得的結果。 納米TA熱探針系統兼容市售的掃描探針顯微鏡。聚己內酯,對乙酰氨基酚,尼龍 6和聚對苯二甲酸著名的熔融溫度融化樣品的溫度探頭校準。除非另有說明,所使用的加熱速率為 20 ° C / S

納米TA熱探頭數據探頭懸臂偏轉(與樣品表面接觸時)繪製對探頭尖端溫度。這種測量方法是行之有效的熱機械分析(TMA)的技術類似,被稱為納米TA熱探頭 。如熔點或玻璃化轉變的活動,結果在下方的提示材料的軟化,產生一個向下偏轉的懸臂。技術的進一步資料,可在Anasys儀器。

開展納米TA熱探針切片電影之前,接觸模式原子力顯微鏡成像特點選擇合適的目標。原料受到納米TA熱探頭在顆粒表面上的隨機位置,恕不另行成像。

結果與討論

切片電影

Date Added: May 13, 2008

Last Update: 18. October 2011 04:33

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