20% off DeltaTime Fluorescence Lifetime System Upgrade

There are 2 related live offers.

Horiba - DeltaTime - 20% Off | DeltaTime TCSPC Half Price | See All
Related Offers

Характеризация Поверхностей Анодированных Алюминием Используя MM-16 Спектроскопическое Ellipsometer от Horiba Научного - Тонкий Фильм

Покрытые Темы

Предпосылка
Ключевые Свойства
Результаты
Заключение

Предпосылка

Емкость алюминия ответить к анодировать, самое знакомое отделок, делает алюминием самый важный металл в довольно основном путе. Факт который взятие алюминиевой чонсервной банкы на этой привлекательной, прочной и трудн-нося отделке делает им возможной эксплуатировать свои прочность и легковесность в большое количество применений, в частности в конструкции здания и в автомобильной промышленности.

Ключевые Свойства

Анодировать наведенный сгущать естественного защитного фильма окиси на поверхности металла. Преобразование металла родителя и таким образом нет «покрытия» в обычном чувстве. Изменение обычного состава электролита и переменные процесса производят анодные пленки с своеобразнейшими функциональными свойствами. Таким Образом, очень трудные анодные фильмы начаты для того чтобы обеспечить поверхности ссадины упорные на шестернях, поршенях, подшипниках, и подобных компонентах. Анодные фильмы могут также быть покрашены разнообразие методами. Обычные фильмы серной кислоты микроскопично пористы, и органические или неорганические краски и пигменты могут быть включены и загерметизированы в фильм.

Функциональный и декоративный потенциал на металле можно поэтому широко эксплуатировать в применениях колебаясь от компонентов здания к отечественному cookware. Мочь характеризовать алюминиевую окись non-destructively очень важен, и польза спектроскопическое ellipsometry позволяет он-лайн контролю анодированной поверхности на производственной линии.

Результат

Ellipsometric измерение было выполнено используя HORIBA Научное MM-16 Спектроскопическое Ellipsometer (SE) через спектральный ряд 450-850nm (1163 длины волны). Измерение было выполнено под углом падения 70°. Данные по приема были собраны в 30s и MM-16 обеспечивает полное положение поляризации образца с одним циклом измерения, без потребности для нескольких аппаратных конфигураций. В результате ellipsometric углы Ø и Ä определены с очень высокой точностью и точностью. MM-16 также обеспечивает польностью Матрицу Mueller 16 элементов и эта характеристика имеет главные преимущества для характеризовать деполяризуя и часто неравносвойственные образцы с сложными структурой или геометрией, где обычное ellipsometry inapplicable. Эта характеристика может быть также прикладной с успехом и точностью к всем случаям в настоящее время покрытым обычное ellipsometry. Алюминиевая окись, Al2O3, R.I. средства и низкий материал абсорбциы который часто показывает неравносвойственное поведение

Характеристика Матрицы Mueller что -раскосные элементы не равны до 0 когда образец показывает неравносвойственное поведение и специально когда измерение сделано в случайном положении, то далеко от направления оптически оси и на вращении 90° от этой оптически оси, и когда оптически ось не ортогональна к плоскости образца. В этом примере мы можем увидеть что -раскосные элементы не равны до 0 по мере того как показано на FIG. 1. Эта стандартная характеристика MM-16 Спектроскопического Ellipsometer упрощает характеризацию таких материалов.

Диаграмма 1. Иллюстрация anisotrophic модели








 Диаграмма 2. Матрица Mueller для неравносвойственного фильма глинозема измерила в одном направлении с ellipsometer MM-16 в режиме отражения

Оптически свойства алюминиевой окиси были определены используя Генератор Lorentz:

Одно может наблюдать что двойное лучепреломление Än=0.01, где Än разница между обычными и внесметными рефрактивными индексами.

 

Диаграмма 3. Неравносвойственные константы алюминиевой окиси оптически

Заметьте что слой23 AlO порист объясняющ низкий найденный индекс.

Заключение

Слой анодированный алюминием успешно был охарактеризован MM-16 Спектроскопическим Ellipsometer с очень высокоскоростным и точностью.

Источник: HORIBA Научное - Разделение Тонких Фильмов

Для больше информации на этом источнике пожалуйста посетите HORIBA Научное - Разделение Тонких Фильмов

Date Added: May 21, 2008 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 18:24

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit