：：AZoNanotechnology文章
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討論主題
背景
SPM -碳納米管成像的一個常用工具
電氣特性，可測定EFM和SKM
單碳納米管的光譜表徵超高分辨率光譜（TERS ）
納米線作為一個光纖
長期穩定性是精確操作的基礎
NTEGRA ®平台
背景
碳納米管是足夠小，因此，只有幾個方法適合它們可視化。另一方面，他們的不平凡的利益對象，使許多和許多現代科學方法是可取的被應用到探頭NanoLaboratory NTEGRA ®提供了一個平台，成功地處理與碳納米管。這裡是一些碳納米管的圖像，說明不同的方法的可能性是作為一個畫廊又細分為四組：
- SPM的可視化
- 電氣性能
- 化學成分，光譜和光學性質
- Nanomanipulations
SPM - 碳納米管成像的一個常用工具
STM（掃描隧道顯微鏡）可以查看單一的碳納米管具有原子分辨率。反過來AFM（原子力顯微鏡）提供了更多的對比模式，作為測試隨著可視化本身的物理性質，化學性質的大型的工具包。探頭NanoLaboratory NTEGRA ® Prima是一個強大和方便的SPM系統。在最常見的情況下，它是超靈敏的STM和高精度原子力顯微鏡成像的理想選擇。
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圖1。STM碳納米管形象的HOPG襯底上沉積。碳納米管的原子結構清晰可見。圖片由Prof.VKNevolin，莫斯科電子工程學院，俄羅斯。
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圖2。矽表面上的碳納米管。相位成像模式。 Dr.HB生，美國的佛羅里達州，大學物理系，樣品禮貌。
電氣特性，可測定 EFM和SKM
EFM，石硤尾或MFM雙通的SPM方法是非常敏感的環境。事實上，真空條件下可以極大地提高兩通的成像質量，增加懸臂的Q 因子。探頭NanoLaboratory NTEGRA ®靈氣提供很大的自由度，在低真空條件下操作。在控制大氣NTEGRA ®靈氣是因為真空設備是安裝在非常緊湊和經濟的，但足夠強大的最佳平衡的解決方案。它只需1分鐘，實現增長 10倍，Q因子！
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圖3不同厚度的碳納米管混合地形（一），靜電力顯微鏡（EFM，B），並掃描開爾文探針顯微鏡（石硤尾，C）的模式。 EFM表明，碳納米管的收費。負責的差異，可以觀察到SKM.The厚的碳納米管（直徑約 4 nm）在石硤尾的最低潛力和最薄的（直徑約 1.5 nm），有最大的潛力（約 1.5 V的）。箭頭指向相同的碳納米管每個形象。
單碳納米管的光譜表徵超高分辨率光譜（TERS）
最強大的系統開發的先進的光學實驗NTEGRA ®光譜。此外大多數的SPM方法可用NTEGRA ®光譜提供的出色表現在以下研究領域：