Der Phenom Stellt ein Ausgezeichnetes Hilfsmittel für die Inspektion von Halbleitern für Zinn-Bärte - Anwendungs-Anmerkung durch Phenom-Welt zur Verfügung

Themen Umfaßt

Einleitung
Die Größte Auswirkung auf die Halbleiter-Industrie
Der Phenom Liefert Ausgezeichnetes Hilfsmittel für Inspektion von Zinn-Bärten

Einleitung

Der Phenom ist ein neues TischplattenRasterelektronenmikroskop, (SEM) das die hohe Vergrößerung der Elektronenmikroskopie mit der Benutzerfreundlichkeit der optischen Mikroskopie kombiniert, um Leistung in einem Tischplatteninstrument zu verbessern.

Der Phenom, eine Tischplatte SEM stellt nützliche Vergrößerungen bis zu 20,000x zur Verfügung, ist bedienungsfreundlich als die typischer Laborgrad optischen Mikroskope. Der Phenom schneidet weg die Zeit, die Schwierigkeit und die Ausgabe herkömmlichen SEMS. Der Operator legt einfach die Probe in die besonders konstruierte Halterung auf das Mikroskop. Wegen seiner eindeutigen Auslegung gibt es keine Gefahr der Beschädigung des Objektivs. Das automatisch fokussierte Bild wird in weniger als 30 Sekunden später, mit dem typischen Gehören der Auflösung und der Schärfentiefe SEMs angezeigt.

Abbildung 1. Phenom-Desktop SEM

Die Größte Auswirkung auf die Halbleiter-Industrie

Neue Gesetzgebung durch viele Länder hat den Gebrauch der Schwermetalle wie Leitungskabel, Kadmium und Quecksilber verboten. Die größte Auswirkung ist auf der Halbleiterindustrie gewesen. Während der Ausbau dieser möglicherweise schädlichen Elemente mögliche Gesundheitsrisiken und Umweltgefahren beseitigt, wirft er auch ein neues Problem auf, das Herstellern Milliarden kosten könnte.

Der Ausbau des Leitungskabels vom Lötmittel von Halbleiterbauelementen kann das Wachstum von Zinnbärten verursachen und beschleunigen. Wenn führen Sie, nicht in die Legierung, Eigenspannung auf der Oberfläche von ist das Verpacken Leitungskabeln des Halbleiters kann das Wachstum dieser kristallenen Zellen verursachen Misch. Dieses erstellt eine mögliche Quelle des elektrischen Kurzschlusses und der Wölbung in den Chips. Zinnbärte haben Gesamtanlagenausfälle in den Computern, in den Handys, in den Raketen und in den Satelliten verursacht. Analytiker sagen voraus, dass diese Punkte in dieser neuen Lötmittel-freien Halbleiterära häufiger werden. Diese Anmerkung ist erstellt worden, um darzustellen, wie man leicht Zinnbärte unter Verwendung des FEI-Phenom entdeckt.

Der Phenom Liefert Ausgezeichnetes Hilfsmittel für Inspektion von Zinn-Bärten

Der Phenom stellt ein ausgezeichnetes Hilfsmittel für die Inspektion von Halbleitern für Zinnbärte zur Verfügung. Es ist einfach, Navigation zu verwenden macht es einfach, diese Zinnbärte zu errichten und das Onlinemaßhilfsmittel macht es möglich, diese Bärte sofort zu messen.

Zuerst legen Sie ein Halbleiterchip auf eine SEM-Stiftbefestigung. Proben können montierte Oberseite einer 45-Grad-Befestigung unten, im Querschnitt oder auf sein. Sobald die Probe in die Maschine montiert worden und belastet worden ist, steuern Sie zu einem Verpackenleitungskabel unter Verwendung des optischen Überblickfensters (Abbildung 2).

Abbildung 2. Phenom-optisches Bild von zwei Halbleiterpaketen. Der optische Überblick erlaubt den Benutzer zu schnell und steuern leicht um das Paket

Stöbern Sie um das Verpackenleitungskabel für alle ungewöhnlichen schauenden Zellen durch, die von der Oberfläche hervorstehen (Abbildung 3).

Abbildung 3. Niedriges Vergrößerung (250x) Bild SES M zeigt die ungewöhnlichen Zellen, die aus vom Verpackenleitungskabel heraus haften. Diese Zellen sind tatsächlich Zinnbärte und mögliche Quellen der Wölbung im Betriebsprodukt.

Höhere Vergrößerung Phenombilder können genaue Zinnbart-Größendaten geben, wie in Abbildung 4. gesehen.

Abbildung 4. Zinnbart an der Vergrößerung 3,800x. Die Onlinemaßfunktion des Phenoms ist verwendet worden, um die Höhe dieses Bartes an ungefähr 38.79µm zu messen.

Abbildung 5. Zinnbärte bei 3.750 x-Vergrößerung.

Quelle: „Zinn-Bart-Inspektion mit Phenom-“ Anwendung Anmerkung durch Phenom-Welt

Zu mehr Information über diese Quelle besuchen Sie bitte Phenom-Welt

Date Added: Aug 19, 2008 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 20:59

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