O Fenômeno Fornece uma Ferramenta Excelente para a Inspecção dos Semicondutores para as Suiças do Estanho - Nota de Aplicação pelo Fenômeno-Mundo

Assuntos Cobertos

Introdução
O Impacto O Mais Grande na Indústria do Semicondutor
O Fenômeno Fornece a Ferramenta Excelente para a Inspecção das Suiças do Estanho

Introdução

O Fenômeno é um microscópio de elétron novo da exploração do tabletop (SEM) que combine a ampliação alta da microscopia de elétron com a acessibilidade da microscopia óptica para melhorar o desempenho em um instrumento do tabletop.

O Fenômeno, um tabletop SEM fornece ampliações úteis até 20,000x, é fácil de usar como os microscópios ópticos da laboratório-categoria típica. O Fenômeno corta afastado a época, a dificuldade, e a despesa de SEM convencional. O operador coloca simplesmente a amostra no suporte especialmente projetado no microscópio. Devido a seu projecto original não há nenhum risco de danificar a lente. A imagem automaticamente focalizada é indicada menos de 30 em segundos depois, com a definição e a profundidade da pertença típica do foco a SEMs.

Figura 1. Desktop SEM do Fenômeno

O Impacto O Mais Grande na Indústria do Semicondutor

A legislação Recente por muitos países proibiu o uso dos metais pesados tais como o chumbo, o cádmio, e o mercúrio. O impacto o mais grande estêve na indústria do semicondutor. Quando a remoção destes elementos potencialmente nocivos eliminará riscos para a saúde potenciais e perigos ambientais, igualmente levanta um problema novo que poderia custar a fabricantes biliões.

A remoção do chumbo da solda de dispositivos de semicondutor pode causar e expedir o crescimento das suiças do estanho. Quando conduza não é misturado na liga, o esforço residual na superfície de chumbos de empacotamento do semicondutor pode causar o crescimento destas estruturas cristalinas. Isto cria uma fonte potencial de shorting elétrico e de arquear nas microplaquetas. As suiças do Estanho causaram falhas de sistema totais nos computadores, nos telemóveis, nos mísseis, e nos satélites. Os Analistas prevêem que estas edições se tornarão mais freqüentes nesta era solda-livre nova do semicondutor. Esta nota foi criada para ilustrar como detectar facilmente as suiças do estanho usando o Fenômeno de FEI.

O Fenômeno Fornece a Ferramenta Excelente para a Inspecção das Suiças do Estanho

O Fenômeno fornece uma ferramenta excelente para a inspecção dos semicondutores para as suiças do estanho. É navegação simples de usar faz fácil posicionar estas suiças do estanho e a ferramenta em linha da medida torna possível medir na hora estas suiças.

Primeiramente, coloque uma microplaqueta do semicondutor em uma montagem do pino de SEM. As Amostras podem ser parte superior montada para baixo, no secção transversal, ou em uma montagem de 45 graus. Uma Vez Que a amostra foi montada e carregada na máquina, navegue a um chumbo de empacotamento usando o indicador óptico da vista geral (Figura 2).

Figura 2. Imagem óptica do Fenômeno de dois pacotes do semicondutor. A vista geral óptica permite o usuário navega a rapidamente e facilmente em torno do pacote

Consulte em torno do chumbo de empacotamento para todas as estruturas de vista incomuns que projectam-se da superfície (Figura 3).

A Figura 3. Baixa imagem do SE M da ampliação (250x) mostra as estruturas incomuns que colam fora do chumbo de empacotamento. Estas estruturas são certamente suiças do estanho e fontes potenciais de arqueamento no produto operacional.

Umas imagens Mais Altas do Fenômeno da ampliação podem dar dados exactos do tamanho da suiça do estanho como visto em Figura 4.

Figura 4. suiça do Estanho na ampliação 3,800x. A função em linha da medida do Fenômeno foi usada para medir a altura desta suiça em aproximadamente 38.79µm.

Figura 5. suiças do Estanho em uma ampliação de 3.750 x.

Source: Do “Inspecção da Suiça Estanho com Nota de Aplicação do Fenômeno” pelo Fenômeno-Mundo

Para obter mais informações sobre desta fonte visite por favor o Fenômeno-Mundo

Date Added: Aug 19, 2008 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 21:20

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