傑出人材為罐子頰鬚提供為半導體的檢驗的非常好的工具 - 由傑出人材世界的應用註解

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簡介
對半導體行業的最大的影響
傑出人材提供為罐子頰鬚的檢驗的非常好的工具

簡介

傑出人材是與光學顯微學易用 (SEM)結合電子顯微鏡術高放大改進在一臺桌面儀器的性能的一個新的桌面掃描電子顯微鏡。

傑出人材,桌面 SEM 提供有用的放大至 20,000x,是易用的作為典型的實驗室級別光學顯微鏡。 傑出人材切掉常規 SEM 的時期、困難和費用。 這個運算符在特殊地被設計的持有人安置這個範例在顯微鏡。 由於其唯一設計沒有損壞透鏡的風險。 自動聚焦圖像在少於 30 幾秒後被顯示,與解決方法和景深典型屬於 SEMs。

圖 1. 傑出人材桌面 SEM

對半導體行業的最大的影響

由許多國家(地區) 的最近的立法取締了使用重炮彈例如鉛、鎘和水銀。 最大的影響在半導體行業。 當這些潛在有害的要素刪除將消滅潛在的健康風險和環境危害時,它也提出可能花費製造商數十億的一個新的問題。

這個線索的刪除從半導體設備銲劑可能導致和加快罐子頰鬚增長。 當请導致時不是混雜的到合金,在半導體包裝的線索表面的剩餘應力可能導致這些水晶結構增長。 這在籌碼創建電子短缺和成拱形的潛在的來源。 罐子頰鬚在計算機、移動電話、導彈和衛星導致總系統故障。 分析員預計這些問題將變得常見在此新的銲劑自由的半導體時代內。 使用 FEI 傑出人材,此附註被創建說明如何容易地檢測罐子頰鬚。

傑出人材提供為罐子頰鬚的檢驗的非常好的工具

傑出人材為罐子頰鬚提供為半導體的檢驗的一個非常好的工具。 它是方便操作的定位使容易設置這些罐子頰鬚,并且在線評定工具使成為可能當場評定這些頰鬚。

首先,请安置一個半導體籌碼在 SEM 針掛接。 範例可以是被掛接的頂層下來,在橫斷面,或者 45 度掛接的。 一旦這個範例被掛接并且被裝載了到設備,使用光學概覽視窗 (圖 2),请駕駛對包裝的領先。

圖 2. 傑出人材光學圖像二個半導體程序包。 光學概覽允許這個用戶迅速和容易地在這個程序包附近駕駛

在推出從表面 (圖 3) 的所有異常的查找的結構的包裝的線索附近瀏覽。

圖 3. 低放大 (250x) SE M 圖像顯示停留出於從這個包裝的線索的異常的結構。 這些結構的確是罐子頰鬚和成拱形的潛在的來源在這個可操作的產品。

更高的放大傑出人材圖像可能如在圖 4. 中看到產生準確罐子頰鬚範圍數據。

圖 4. 在 3,800x 放大的罐子頰鬚。 傑出人材的在線評定功能用於評定高度此頰鬚在大約 38.79µm。

圖 5. 在 3,750 个 x 放大的罐子頰鬚。

來源: 「罐子與傑出人材」由傑出人材世界的頰鬚檢驗應用註解

關於此來源的更多信息请請參觀傑出人材世界

Date Added: Aug 19, 2008 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 20:49

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