Le Phenom - Le Compliment Parfait à un Laboratoire Normal de SEM - Note d'Application par le Phenom-Monde

Par AZoNano

Sujets Couverts

Mouvement Propre
Introduction
Équilibrage de Charge avec le Phenom
Mappage de Navigation dans le Phenom
Phenom - le Compliment Parfait à un SEM Normal

Mouvement Propre

Le Phenom est un microscope électronique de table de lecture (SEM) qui combine l'agrandissement élevé de la microscopie électronique avec la simplicité d'utilisation de la microscopie optique pour améliorer la performance dans un instrument de table.

Le Phenom, un appareil de bureau SEM fournit des agrandissements utiles jusqu'à 24,000x, est facile à utiliser comme microscopes optiques de laboratoire-qualité typique. Le Phenom coupe loin la période, la difficulté, et les frais du SEM conventionnel. La téléphoniste met simplement l'échantillon dans le support particulièrement conçu sur le microscope. En Raison de son seul design il n'y a aucun risque d'endommager la lentille. L'image automatiquement focalisée est affichée dans moins de 30 secondes plus tard, avec la définition et la profondeur de l'appartenance particulière de foyer aux SEM.

Le Schéma 1. Appareil De Bureau SEM de Phenom

Introduction

La simplicité d'utilisation, le débit élevé, et l'alimentation électrique de représentation du Phenom lui effectuent un compliment précieux à n'importe quel laboratoire analytique de SEM. Un seconde temps de chargement 30 et une interface utilisateur intuitive permettent la représentation rapide des échantillons avec un investissement minimal dans la formation des utilisateurs. Le Phenom utilise les supports industriellement compatibles témoin de la goupille-souche SEM, permettant à des échantillons d'être transférés entre les SEM facilement. En examinant des échantillons, les utilisateurs peuvent réduire la pression de charge de travail sur des SEM existants tout en préparant un plan de navigation pour les échantillons qui exigent davantage d'examen dans un SEM analytique.

Équilibrage de Charge avec le Phenom

Avec sa représentation de simplicité d'utilisation et de haute résolution jusqu'à l'agrandissement 24,000x, le Phenom effectue un ajout grand à un laboratoire de SEM. Le Phenom tient compte de l'examen critique rapide témoin, réduisant le goulot d'étranglement de représentation améliorant de ce fait des flux de travail de laboratoire. La représentation Courante peut être débarquée au Phenom pour augmenter le débit sur des SEM à extrémité élevé. Le débit Élevé sur le Phenom permet la caractérisation rapide d'échantillon en examinant à l'extérieur ceux qui n'ont pas besoin d'analyse approfondie. Cette capacité enrégistre le temps et l'usure sur vos instruments analytiques. Le Phenom utilise le matériel de montage industriellement compatible témoin de goupille-souche laissant pour l'interchangeabilité d'échantillon entre les SEM.

Le Schéma 2. cuvette et supports Témoin de Phenom

Le Schéma 3. Comparaison de la vitesse de SEM

Mappage de Navigation dans le Phenom

Le Phenom peut être employé rapidement pour recenser et tracer des emplacements d'intérêt sur les échantillons qui auront besoin d'examen dans un SEM analytique. L'UI intuitif tient compte d'enrégistrer une synthèse optique et une image faible de l'agrandissement SEM avec des repères d'emplacement éliminant de ce fait gaspillé dans les deux sens entre un optique et un SEM.

Le Schéma 4. Traçant votre échantillon avec les images de Navigation de Phenom peut être enregistré avec vos données pour fournir un facile de suivre le plan pour l'analyse approfondie.

Phenom - le Compliment Parfait à un SEM Normal

Le Phenom aide le reste la charge de travail sur des SEM existants tout en augmentant l'efficience de programme. Il augmente la capacité générale de l'agrandissement d'un laboratoire en débarquant le travail routine du SEM à un niveau de coût traditionnellement associé avec un microscope optique.

Cette information a été originaire, révisée et adaptée des matériaux fournis par le Phenom-Monde.

Pour plus d'information visitez s'il vous plaît le Phenom-Monde.

Date Added: Aug 28, 2008 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 20:56

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