：：AZoNanotechnology文章
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討論主題
背景
簡介
增加磁力顯微鏡的靈敏度和分辨率
選擇正確的探頭
掃描儀與無磁零件
外場應用
許多通技術
花墟的高溫樣品
背景
NT - MDT服務有限公司成立於1991年的目的，適用於所有在納米技術領域積累的經驗和知識，提供研究人員與儀器適用於解決任何可能的任務，敷設在納米尺度尺寸。公司成立於NT - MDT的澤廖諾格勒-俄羅斯微電子中心。產品的開發是基於 MEMS技術，現代軟件的權力，使用高端的微電子元件和精密機械零件的組合。 NT - MDT的公司作為商業企業從1993年存在。
簡介
如今，納米技術的調查中最有前途的領域是納米尺度的物體當地磁化測量。超薄磁性薄膜的調查，將有可能提高存儲設備的容量十倍;自旋電子學的創建元素會導致根本性的新發展“讀 /寫 /保存”一個單一的芯片上所進行的進程，磁致伸縮可能是有用的計算納米電子器件的建設。
磁力顯微鏡允許可視化和操縱幾十納米分辨率的磁化。
有六個高品質的MFM要領：
1。由於真空環境的敏感性增加
2。探頭的正確選擇
3。掃描儀與無磁部分（外場成像不妨礙）
4。精確的外部領域中的應用
5。許多通靜電和其他影響的補償
6。在MFM的測量精確的溫度改變
增加磁力顯微鏡的靈敏度和分辨率
有幾種方法，以提高靈敏度和磁力顯微鏡的分辨率。最簡單的一種是放置在低真空環境中的測量系統（樣品，掃描儀和登記制度）。例如， NTEGRA ®靈氣產生10-2托真空，這是足夠的十倍增長兩通動態的MFM相襯。但在這種情況下， 高真空（10-6托） “信號/噪音比率”所得五倍。允許增加的敏感性更大，但比較低真空的差異是微不足道的的。
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空氣
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真空
圖1。環境空氣中和在真空中獲得的硬盤表面MFM圖像。這兩個圖像的1x1微米
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圖2。超薄鈷薄膜的磁疇結構（1.6微米）4.5 × 4.5微米。 A. Maziewski，博士Uniwersytet瓦特Bialymstoku，波蘭提供的樣本
選擇正確的探頭
探頭質量的另一個重要因素影響 MFM的分辨率和靈敏度。提示磁性塗層應適當的厚度，提示可能“感覺”樣品的磁吸引力。但同時提示應足夠鋒利，以提供高空間分辨率。NT - MDT的提供與鈷鉻磁性塗層的磁測量尖端的原子力顯微鏡的矽探針。 CR保護磁性層的氧化。塗層厚度為 30-40納米。
掃描儀與無磁零件
對於一些磁效應的調查是必要的申請外部磁場的樣本。通常情況下，它會導致一定的困難，經常 SPM集成了一些細節可能被磁化。任何外部的實地測量結果，導致原子力顯微鏡圖像失真。這個問題已經解決了NT - MDT的公司 ，它的“磁測量（1998年）的第一個設備特別設計的掃描儀與無磁零件。
但如今，該公司提供了全新的設備- NTEGRA nanolaboratory平台的測量非磁性材料製成的頭部和基本單元- 。這允許以避免探頭移位，同時磁場開 /關切換。掃描儀配備了閉環控制傳感器，壓電陶瓷位移校正和開展提供完全精確的探測定位。
外場應用
外部磁場可以適用於平行和垂直掃描表面。 NTEGRA nanolaboratory的功能，允許申請外部磁場可達+ / -0.2 T在平原表面和垂直方式（垂直領域）+ / -0.02 T 。
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縱向磁場發生器
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橫向磁場發生器
圖3。 SPM NTEGRA平台的基礎上在外部磁場測量系統
縱向磁場發生器的目的是創造純樣品的磁場導向。該發生器由激動人心的線圈與磁力線。量程範圍可達 2 kgauss廳探測器安裝在測量磁場值，以電線的兩極之一。
垂直磁場發生器是用於正常的樣本單位創造的磁場。它由建設廳探測器在500高斯，量程範圍和樣品架激動人心的線圈。
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圖4。電影釔鐵石榴石在垂直磁場的存在。表面90的相同部分的圖片？ 90微米。教授提供樣品。 FVLisovskiy，Radioelectronic研究所，俄羅斯。
許多通技術
有幾種方式進行補償靜電和地形的影響，這是在Figue 5。
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圖5。三通過納米電子元件的磁場測量計劃
樣本藏有任何靜電勢的幾個傳遞應在一個會話中執行。在該計劃是一個納米電子元件的磁化實驗：
- 一號通顯示地形;
- 第二通表面地形影響補償的潛力;
- 第三通過顯示與靜電勢和補償地形磁化。
花墟的高溫樣品
樣品溫度可以改變在花墟。
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圖6。鈷單晶體的各向異性 MFM的圖像。當溫度升高時會發生相變。來自同一地區獲得的圖像，14 × 40微米。公司Pastushenkov教授，俄羅斯特維爾大學，樣品禮貌。
資料來源：NT - MDT服務有限公司
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