Микроскопия Близко-Поля Скеннирования (SNOM) - Принципы и Режим деятельности NT-MDT

Покрытые Темы

Предпосылка
Введение
Микроскопия Усилия Ножниц
Ключевое Положение SNOM
Вид Передачи SNOM
Режим Отражения SNOM
Режим Люминесценции SNOM

Предпосылка

CO. NT-MDT было установлено в 1991 с целью приложить все аккумулированные опыт и знание в поле нанотехнологии к исследователям поставкы с аппаратурами соответствующими для того чтобы разрешить любую возможную задачу кладя в размеры маштаба нанометра. Компания NT-MDT была основана в Zelenograd - центре Русской Микроэлектроники. Совершенствований продукции основан на сочетание из технология MEMS, сила самомоднейшего ПО, польза лидирующих микроэлектронных компонентов и части точности механически. По Мере Того Как CO. коммерсанта NT-MDT существует от 1993.

Введение

Разрешая сила классических оптически микроскопов ограничена пределом огибания Abbe к около до половин из оптически длины волны. Howevwr, возможно отжать этот предел.

Если отверстие subwavelength в листе металла просмотрено близко к предмету, то супер-resolved изображение можно построить вверх от обнаруженного света который проходит через отверстие. Микроскопия близко-поля Скеннирования основанная на этом принципе сперва была предложена Synge и была продемонстрирована на частотах микроволны Золой и Nicholls с разрешением l/60. На видимых длинах волны этот принцип (оптически микроскопия stethoscopy, близко-поля оптически-скеннирования, SNOM) продемонстрировал Pohl et al. В Betzig et al продемонстрируйте использующ зонды волокна к изображению разнообразие образцы с несколькими различных механизмов контраста.

Сделать систему более легким использовать и расширять свою применимость к образцам orbitrary топографии, было бы выгодно для того чтобы иметь механизм расстояния регулированный способный автоматизировать начальный подход и поддерживать апертуру на фикчированном расстоянии от образца над всем курсом развертки. Несколько механизмов были предложены ранее к SNOM и отнесенным evanescent методам поля, включая электрон прокладывая тоннель, емкость, фотон прокладывая тоннель, отражение близко-поля.

В настоящее время больше всего-используемый метод регулировки расстояния зонд-образца полагается на обнаружении усилий ножниц между концом зонда близко-поля и образцом. Система Усилия Ножниц основанная позволяет Микроскопии Усилия Ножниц самостоятельно, или одновременному воображению Усилия и Близко-Поля Ножниц, включая Вид передачи для прозрачных образцов, режим Отражения для опаковых образцов и режим Люминесценции для дополнительной характеризации образцов.

Диаграмма 1. Схема совмещенных усилия и близко-поля ножниц просматривая оптически микроскоп.

Микроскопия Усилия Ножниц

В настоящее время больше всего-используемый метод регулировки расстояния зонд-образца полагается на обнаружении усилий ножниц между концом зонда близко-поля и образцом. Система усилия Ножниц основанная позволяет Микроскопии Усилия Ножниц самостоятельно, или одновременному Усилию Ножниц и, котор Близко-Хранят воображению, включая Вид передачи для прозрачных образцов, режим Отражения для опаковых образцов и режим Люминесценции для дополнительной характеризации образцов.

Держать оптически зонд около поверхностной nonoptical схемы с настраивать кварца - вилка как датчик использована. Она позволяет увеличить коэффициент полезного сигнала зашуметь по сравнению с оптически держа схемами. Очень важно на деятельностях с ограничивать разрешение. Также photoinduced несущие не появляются. Необходимое требование когда некоторые свойства полупроводника расследованы.

В основе nonoptical метода для получать информации о поверхностной идее лож использовать реакцию настраивать кварца - вилка прикрепилась к стекловолокну на взаимодействии с поверхностью. Волокн-кварц Системы возбужден в поперечных вибрациях с помощью внешнего элемента питания на частоте резонанса кварца. Более Дальнеишее piezoeffect использовано: в присутствии к механически колебаниям электрические выходы кварца имеют реакцию напряжения тока, которая использована как сигнал информации о амплитуде колебания волокна.

Микроскопия Усилия Ножниц осуществляна в следующем путе. Piezodriver через настраивать кварца - вилка возбуждает колебания зонда волокна с некоторой начальной амплитудой. Соответствующее значение выхода кварца Ao. После причаливать образцу отделывает поверхность амплитуда достигаемостей колебаний зонда волокна некоторое значение точки отсчета и выход кварца достигает A. значения. Позже что просматривать поверхности образца дирижирован с поддержанием этого значения системой с обратной связью.

Ключевое Положение SNOM

Ключевое положение Микроскопа Скеннирования Близко-Поля (SNOM) малюсенькая апертура (конец загоранного лазером зонда волокна в наш случай) просмотренная вдоль образца в очень близости, типично меньш чем 10 nm.

В настоящее время больше всего-используемый метод регулировки расстояния зонд-образца полагается на обнаружении усилий ножниц между концом зонда близко-поля и образцом. Система Усилия Ножниц основанная позволяет одновременному Усилию Ножниц и, котор Близко-Хранят воображению, включая Вид передачи для прозрачных образцов, режим Отражения для опаковых образцов и режим Люминесценции для получать дополнительную характеризацию образцов.

В основе nonoptical метода для получать информации о поверхностной идее лож использовать реакцию настраивать кварца - вилка прикрепилась к стекловолокну на взаимодействии с поверхностью. Волокн-кварц Системы возбужден в поперечных вибрациях с помощью внешнего элемента питания на частоте резонанса кварца. Более Дальнеишее piezoeffect использовано: в присутствии к механически колебаниям электрические выходы кварца имеют реакцию напряжения тока, которая использована как сигнал информации о амплитуде колебания волокна.

Вид Передачи SNOM

Вид передачи SNOM осуществлян одновременно с Микроскопией Усилия Ножниц, которая в свою очередь осуществляна в следующем путе. Piezodriver через настраивать кварца - вилка возбуждает колебания зонда волокна с некоторой начальной амплитудой. Соответствующее значение выхода кварца A.0 После причаливать образцу отделывает поверхность амплитуда достигаемостей колебаний зонда волокна некоторое значение точки отсчета и выход кварца достигает A. значения. Позже что просматривать поверхности образца дирижирован с поддержанием этого значения системой с обратной связью.

Под скеннированием образец загоран зондом волокна и пропущенное через свет образца через задачу направлено на фотоумножительную трубку.

Диаграмма 2. Вид передачи.

Режим Отражения SNOM

Режим Отражения SNOM осуществлян одновременно с Микроскопией Усилия Ножниц, которая в свою очередь осуществляна в следующем путе. Piezodriver через настраивать кварца - вилка возбуждает колебания зонда волокна с некоторой начальной амплитудой. Соответствующее значение выхода кварца A.0 После причаливать образцу отделывает поверхность амплитуда достигаемостей колебаний зонда волокна некоторое значение точки отсчета и выход кварца достигает A. значения. Позже что просматривать поверхности образца дирижирован с поддержанием этого значения системой с обратной связью.

Под скеннированием образец загоран зондом волокна и разбросанный свет направлен зеркалом через задачу на фотоумножительной трубке.

Диаграмма 3. режим Отражения.

Режим Люминесценции SNOM

Режим Люминесценции SNOM осуществлян одновременно с Микроскопией Усилия Ножниц, которая в свою очередь осуществляна в следующем путе. Piezodriver через настраивать кварца - вилка возбуждает колебания зонда волокна с некоторой начальной амплитудой. Соответствующее значение выхода кварца A.0 После причаливать образцу отделывает поверхность амплитуда достигаемостей колебаний зонда волокна некоторое значение точки отсчета и выход кварца достигает A. значения. Позже что просматривать поверхности образца дирижирован с поддержанием этого значения системой с обратной связью.

Под скеннированием образец загоран зондом волокна и пропущенное через свет образца через задачи и фильтр зазубрины направлено на фотоумножительную трубку.

Диаграмма 4. режим Люминесценции.

Источник: CO. NT-MDT.

Для больше информации на этом источнике пожалуйста посетите CO. NT-MDT.

Date Added: Oct 27, 2008 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 21:23

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit