:: AZoNanotechnology Artikel
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Behandelte Themen
Einführung
Anwendung von AFM für Polymerforschung
SmartSPM von AIST-NT
Beispiele für Anwendung von SmartSPM für Polymerforschung
Polymer-Membranen
Molekularer Auflösung
Block-Copolymere
Self-Assembled Polymer Meso-Strukturen
Photovoltaik Polymerwerkstoffe
Abschluss
Einführung
Seit der Einführung der Rastersondenmikroskopie (SPM) hat sich der Erforschung von Polymer-Materialien angewendet worden. Beide Scanning Tunneling Microscopy (STM) und Kontakt-Modus Atomic Force Microscopy (AFM) erwies sich als ein sehr nützliches Werkzeug für die Analyse der kristallinen Polymere mit molekularer Auflösung sein. Einer der wichtigsten Vorteile der SPM und AFM über SEM, speziell für Polymer-Forschung ist eine bessere Auflösung des AFM zur Verfügung gestellt. Ein weiterer großer Vorteil von SPM auf die geladenen Teilchen Mikroskopie ist die Möglichkeit, hochauflösende Bildgebung der meist nicht-leitfähigen Polymer-Materialien durchzuführen "as is", ohne Beschichtung ein Polymer-Probe mit leitfähigen Schicht, die in der Regel notwendig ist für SEM.
Anwendung von AFM für Polymerforschung
Die Anwendung der AFM für Polymer-Forschung blühte nach der Einführung der dynamischen Scan-Modi (auch Semikontakt-Modus genannt), wo ein Cantilever mit seiner Resonanzfrequenz erregt wird im intermittierenden Kontakt mit der Oberfläche der Probe. Dieser Modus bietet detaillierte Informationen nicht nur auf einer Stichprobe der Topographie, sondern auch auf die mechanischen und Hafteigenschaften dieser Probe. Es tut dies durch die Analyse der Phasenverschiebung der Cantilever die Schwingungen relativ zum Anregungsschwingung. Die Einführung der Semikontakt Scan-Modus auch für die Untersuchung von sehr weichen Materialien, die nicht durch Kontakt-Modus AFM oder STM untersucht werden durfte.
SmartSPM von AIST-NT
Im Jahr 2007 AIST-NT Inc eingeführt, um dem Markt eine neue Scanning Probe Microscope besitzt einige einzigartige Eigenschaften, die ihn zur ersten Wahl für Polymer-Forschung zu machen: