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Introduzione
SmartSPM 1000 - Un nuovo, completamente motorizzato Microscopio a scansione di sonda
Procedure avanzate di scansione
Scansione rapida di alta qualità
Risoluzione atomica con 100x100 Micron Scanner
Introduzione
Per gli anni recenti microscopia a scansione di sonda (SPM) ha dimostrato di essere la tecnica di grande successo per la caratterizzazione di diverse dimensioni nano oggetti. SPM ha un ruolo importante nello scoppio di attività scientifiche e commerciali definito con il termine "nanotecnologia". Come un gran numero di applicazioni per la ricerca SPM-based stanno diventando sempre più diversificati e complessi, nuove sfide ed esigenze nascono per la strumentazione SPM. Purtroppo, ancora la regolazione della SPM più moderne iscomplicated, richiede tempo e molto operatore-dipendente. Questo inconveniente porta alla scarsa riproducibilità delle impostazioni dello strumento e di conseguenza a risultati poco riproducibili.
SmartSPM 1000 - Un nuovo, completamente motorizzato Microscopio a scansione di sonda
AIST-NT Inc. ha sviluppato un nuovo, completamente motorizzato AFM, SmartSPM 1000 , che consente di allineare perfettamente un laser a sbalzo e fotodiodo con un solo clic su un pulsante di comando. Le impostazioni dei parametri di scansione e di atterraggio sono anche automatizzate, che consente di evitare ogni consumare operazioni di regolazione del tempo, lasciando così più tempo per ricercatore per progettare l'esperimento e l'esecuzione di misure più accurate.
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Figura 1. Automatizzati, con un solo clic laser a sbalzo allineamento.
Un'altra caratteristica unica di AIST-NT SmartSPM 1000 è la capacità di mappare la distribuzione della ampiezza di oscillazione lungo il cantilever. Dopo la mappa è acquisito, operatore può scegliere la posizione più appropriata dello spot laser sul cantilever per le sue misure. Questo diventa particolarmente importante quando un cantilever è eccitato a più alto modi come nella figura 2.
La completa automazione del AIST-NT SmartSPM 1000 impostazione permette ai ricercatori di evitare interventi di routine che richiede tempo e faticoso e si concentrano sullo stesso esperimento, misure e interpretazione dei risultati.
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Figura 2. Mappa di distribuzione di oscillazione del cantilever presso il fondamentale (a sinistra) e la seconda (a destra) le modalità.
Procedure avanzate di scansione
Grazie alla combinazione del basso livello di rumore del sistema di registrazione, scanner unico, l'elettronica avanzata e intelligente modalità di scansione incorporato oltre 100 anni di esperienza di ricerca SPM, con SmartSPM AIST-NT 1000 si può effettuare misure uniche che sono estremamente difficili, se possibile a tutti, utilizzando gli strumenti SPM altri.
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Figura 3. 130 nm nanoparticelle di Ag immobilizzato sulla superficie metallica, 3.6x3.6 scansione um.
Extra-safe e allo stesso tempo veloce procedura di atterraggio permette di proteggere anche consigli molto forte da ogni possibile danno. Grazie alla disponibilità del vero senza contatto modalità di scansione si può misurare anche i campioni più fragili e sensibili meccanicamente. Unico procedure di scansione intelligente permettono di ottenere immagini di alta qualità su oggetti molto impegnativo come 130 nm nanoparticelle di Ag o moderni dischi ad alta densità di disco rigido.
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Figura 4. MFM alta risoluzione immagine del disco rigido Seagate Barracuda da 750 GB, ST3750640AS.