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はじめ
SmartSPM 1000 -新しい、完全に電動走査型プローブ顕微鏡
高度なスキャン手順
高速高品質スキャン
100 × 100マイクロンスキャナとの原子分解能
はじめ
近年の走査型プローブ顕微鏡(SPM)は、異なるナノサイズのオブジェクトの特性評価のための非常に成功した技術であることが証明されている。 SPMは、用語"ナノテクノロジー"によって定義された科学的及び商業活動の爆発で重要な役割を果たしている。 SPMベースの研究のためのアプリケーションの大きな数として、ますます多様化と複雑化して、新たな課題や要求にはSPMインスツルメンテーションのために起こります。残念ながら、まだほとんどの近代的なSPMはの調整iscomplicated、時間がかかり、オペレータに依存する非常に。この欠点は、機器設定の再現性の低下に、結果的に不十分な再現性のある結果につながります。
SmartSPM 1000 - 新しい、完全に電動走査型プローブ顕微鏡
AIST - NT社は、新しい、完全に電動AFMを開発しましたSmartSPM 1000年完全にコマンドボタンをクリックするだけでカンチレバー、レーザーとフォトダイオードを配置することができます、。スキャンの設定と着陸のパラメータもthus実験を設計し、より正確な測定を行うための研究者に多くの時間を残して、いつのかかる調整作業を回避できるよう自動化されている。
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図1。自動化された、ワンクリックレーザー対カンチレバーアライメント。
の別のユニークな特徴AIST - NTのSmartSPM 1000はカンチレバーに沿って振動振幅の分布をマッピングする機能です。マップが取得された後、オペレータは、彼の測定のためのカンチレバー上にレーザスポットの最も適切な位置を選択することができます。カンチレバーは、図2のように高次モードで励起されている場合、これは特に重要になります。
の完全な自動化AIST - NTのSmartSPM 1000セットアップでは、研究者は時間がかかり、退屈な日常的な調整を回避し、実験自 体は、測定値と結果の解釈に集中することができます。
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図2。基本的な(左)と第二(右)モードでのカンチレバーの振動の分布図。
高度なスキャン手順
で、低ノイズの登録システム、ユニークなスキャナ、高度なエレクトロニクスと組み合わせたSPMの研究の100年以上の経験組み込まれているスマートスキャン手順の組み合わせによるAIST - NTのSmartSPM 1000年 、可能であれば1つは非常に困難なユニークな測定を実行できます。すべてにおいて、他のSPMの楽器を使って。
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図3。 130nmのAgは、金属の表面に3.6x3.6 UMスキャンを固定化ナノ粒子。
余分なセーフと同時に高速着陸の手順により、すべての可能な損傷からも、非常に鋭い先端を保護することができます。真の非接触スキャニングモード1の可用性のためにも、最も壊れやすく、機械的に敏感なサンプルを測定することができます。ユニークなスマートスキャンの手順は、130 nmの銀ナノ粒子または現代的な高密度のハードディスクドライブのディスクのような非常にチャレンジングなオブジェクトで高品質の画像を取得することができます。
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図4。シーゲイトBarracuda 750GBハードドライブの高分解能MFM像、ST3750640AS。
高速高品質スキャン
のユニークな特徴の一つAIST - NTのSmartSPM 1000は、そのスキャナです。私たちの革新的なデザインとたわみのガイドの技術のために、静電容量センサを内蔵したこのスキャナはかなりのを可能にする比類のないパフォーマンス特性を(かなりのスキャナ固有振動数は、XYは20〜30 kHzのとZの最大35から40 kHzまで来て)示しています。画質を犠牲にせずにスキャン速度で増加する。スキャナは粗い地形の特徴を持つサンプルの高スキャンレートのイメージングが可能になります。
最適化されたスキャンの制御アルゴリズムを搭載した先進のデジタル制御装置は、画像の品質がより高い速度で同じままであることを確認して、スキャンプロセスの間に位相遅れ、オーバーシュートとリンギングを小さくすることができます。
小説独自のMFM像モードでは、ユーザーが未解決の速度で試料の磁気プロファイルを取得することができます。イットリウム鉄ガーネット(YIG)薄膜の表面領域の磁場構造のこのMFM像は、10Hzのスキャンレートで取得された。
100 × 100マイクロンスキャナとの原子分解能
ため、非常によく設計され、計算されたAFMの建設やスキャナに、 SmartSPM 1000年の楽器は、ユーザーが同じ100ミクロンのスキャナで、高品質の画像を生成すると同時に原子分解能像を得ることを可能にする優れた機械的安定性を備えて防振テーブルを持たない。これは、光学テーブルの上に光学的設備を備えた原子間力顕微鏡の統合のための非常に重要です。
出所: 産総研- NT
このソースの詳細についてはをご覧くださいAIST - NTを