SmartSPM 1000 - AIST-NT による新しい十分にモーターを備えられたスキャンの (SPM)プローブの顕微鏡

カバーされるトピック

導入
SmartSPM 1000 - 新しい、十分にモーターを備えられたスキャンのプローブの顕微鏡
高度のスキャンプロシージャ
速い良質のスキャン
100x100 ミクロンのスキャンナーとの原子解像度

導入

最近の年のためにプローブの顕微鏡検査をスキャンすることは (SPM)異なった nano サイズの目的の性格描写のための非常に正常な技術であると証明しました。 SPM はターム " ナノテクノロジーによって」定義される科学的で、商業活動の爆発の重要な役割を担います。 SPM ベースの研究のための多数のアプリケーションがますます多様、に複合体になっていると同時に、新しい挑戦および要求は SPM の器械使用のために起こります。 残念ながら、まだ現代 SPMs の調節は、時間のかかり、非常にオペレータ依存した iscomplicated。 従ってこの欠点は器械の設定の悪い再現性と不完全に再生可能な結果の原因となります。

SmartSPM 1000 - 新しい、十分にモーターを備えられたスキャンのプローブの顕微鏡

AIST-NT Inc. は新しい、十分にモーターを備えられた AFM、完全に片持梁を一直線に並べることを割り当てる SmartSPM 1000 のレーザー開発し、ちょうど 1 によるフォトダイオードはコマンドボタンをクリックします。 スキャンの設定および着陸パラメータはまた自動化され従って時間のかかる調節操作を避けることを割り当てる研究者に実験を設計し、より正確な測定を行うのより多くの時間を任せます。

自動化される図 1. 1 クリックのレーザーに片持梁アラインメント。

AIST-NT の SmartSPM 1000 のもう一つの一義的な機能は片持梁に沿う振動の振幅の分布をマップする機能です。 マップが得られた後、オペレータは彼の測定のための片持梁のレーザー点の最も適切な位置を選択できます。 これは片持梁が図 2. ののような高次モードで興奮するとき特に重要になります。

セットアップされる AIST-NT の SmartSPM 1000 の完全自動化は研究者が時間のかかり、退屈で定期的な調節を避け、実験自体、測定および結果の解釈に集中することを可能にします。

図 2. 基本的のの片持梁の振動の分布のマップ (残っている) および二番目に (右の) モード。

高度のスキャンプロシージャ

AIST-NT の SmartSPM との 100 年間の結合された SPM の研究の経験に組み込んだ低雑音の登録制、一義的なスキャンナー、高度の電子工学およびスマートなスキャンプロシージャの組合せが原因で 1000 1 つは他の SPM の器械を使用して非常に困難、もし可能なら全然、である一義的な測定を行うことができます。

金属表面、 3.6x3.6 um スキャンの図 3. 固定する 130 の nm Ag nanoparticles。

余分安全同時に着陸方式はしますあらゆる可能な損傷から非常に鋭い先端を保護することを可能に絶食し。 本当の無接触走査方式 1 のアベイラビリティが原因で最も壊れやすく、機械的に最も敏感なサンプルを測定できます。 一義的でスマートなスキャンプロシージャは 130 の nm Ag nanoparticles または現代高密度ハード・ドライブのディスクのような非常に挑戦的な目的の良質の画像を得ることを割り当てます。

図 4. 高リゾリューション Seagate のカマス 750Gb のハード・ドライブ、 ST3750640AS の MFM の画像。

速い良質のスキャン

AIST-NT の SmartSPM 1000 の一義的な機能の 1 つはスキャンナーです。 私達の革新的なデザインおよびたわみガイドの技術が原因で、組み込みの容量性センサーが付いているこのスキャンナーは無比の性能特性を示しま (重要なスキャンナーの自由振動数は X-Y の 20-30 の kHz および 35-40 までの kHz にの Z) かないまスキャンニングスピードの顕著な増加を画像の品質を犠牲にしないで許可します。 スキャンナーは粗い地形機能が付いているサンプルの高いスキャンレートイメージ投射を可能にします。

最適化されたスキャンの制御アルゴリズムが装備されている高度のデジタル制御装置は画像の品質がより高い速度に同じに残ることを確かめますスキャンプロセスの間にオーバーシュートし、鳴っている位相遅れを減らすことを割り当てま。

新しい所有物 MFM イメージ投射モードはユーザーが顕著な速度でサンプルの磁気プロフィールを得ることを可能にします。 イットリウム・鉄・ガーネットのフィルムの表面の領域の磁気構造のこの MFM の (YIG)画像は 10 の Hz スキャンレートで得られました。

100x100 ミクロンのスキャンナーとの原子解像度

AFM およびスキャンナーの SmartSPM 1000's の器械のとてもよく設計され、計算された構築が原因でユーザーが振動隔離表なしで同じ 100 ミクロンのスキャンナーとのそして同時に農産物の良質の画像への原子解像度の画像を得ることを可能にする顕著な機械安定性を特色にします。 これは光学表の上に光学機能が付いている AFM の統合のための極度な重要性をもちます。

ソース: AIST-NT

このソースのより多くの情報のために AIST-NT を訪問して下さい

Date Added: Mar 4, 2009 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 21:06

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