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包括的事宜
簡介
SmartSPM 1000 - 一個新,充分地動力化的掃描探測顯微鏡
先進的掃描程序
快速優質掃描
與 100x100 微米掃描程序的基本解決方法
簡介
最近年瀏覽探測顯微學 (SPM)被證明是不同的納諾尺寸對象的描述特性的非常成功的技術。 SPM 在這個術語定義的科學和商業行為的爆發扮演重要作用 " 納米技術」。 當對這個基於 SPM 的研究的很大數量的申請成為越來越不同和複雜,新的挑戰和需求為 SPM 手段出現。 不幸地,最現代的 SPMs 的調整仍然 iscomplicated,費時和非常運算符從屬。 此缺點導致儀器設置的粗劣的增殖率和因而惡劣再現結果。
SmartSPM 1000 - 新,充分地動力化的掃描探測顯微鏡
AIST-NT Inc. 開發了新,充分地動力化的 AFM, SmartSPM 1000,准許完全對齊懸臂,激光,并且由一个的光電二極管點擊命令按鈕。 掃描設置和著陸參數也被自動化准許避免所有費時的調整行動,因而留下更多時刻給研究員的設計這個實驗和進行更加準確的評定。
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1. 自動化的圖,一單擊激光對懸臂式對準線。
AIST-NT 的 SmartSPM 另一個唯一功能 1000 是映射動擺高度的配電器的這個功能沿懸臂的。 在映射獲取後,運算符能選擇激光地點的最適當的位置在他的評定的懸臂。 當懸臂是興奮的在高次模式例如在表 2. 時,這變得特別重要。
1000 的被設置的完全自動化 AIST-NT 的 SmartSPM 允許研究員避免費時和討厭的定期調整和集中這個實驗,評定和結果解釋。
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圖 2. 懸臂的動擺的配電器映射在根本的 (被留下) 和其次 (正確的) 模式。
先進的掃描程序
由於在 100 年聯合的 SPM 研究經驗期間合併低噪聲註冊系統、唯一掃描程序、先進的電子和聰明的掃描程序的組合,與 AIST-NT 的 SmartSPM 1000 一个可能進行使用其他 SPM 儀器是非常困難的,若可能根本的唯一評定。
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在金屬表面, 3.6x3.6 的圖 3. 被固定的 130 Ag 毫微米 nanoparticles um 掃描。
額外安全和同時齋戒著陸程序使成為可能保護非常甚而鋒利的技巧免受所有可能的故障。 由於真的沒有接觸的掃瞄方式一的可用性能評定甚而最脆弱和機械上最敏感的範例。 唯一聰明的掃描程序准許得到在非常富挑戰性的對象的優質圖像像 130 Ag 毫微米 nanoparticles 或現代高密度硬盤驅動器盤。
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圖 4. 希捷梭子魚 750Gb 硬盤驅動器, ST3750640AS 高分辨率 MFM 圖像。
快速優質掃描
其中一個 AIST-NT 的 SmartSPM 唯一功能 1000 是其掃描程序。 由於我們的創新設計和彎曲指南技術,有固定電容傳感器的此掃描程序顯示不匹配性能特性 (重大的掃描程序固有頻率出來對在 X - Y 的 20-30 kHz 和 35-40 kHz 在 Z) 允許在掃描速度的顯著地增加,无需犧牲圖像質量。 掃描程序允許範例高掃瞄速率想像與粗糙的地勢功能的。
用優化掃描控制算法裝備的這個先進的數字控制器准許減少相位滯後,超越和敲響在掃描進程期間,保證這個圖像的質量甚而依然是同樣以更高的速度。
新穎的業主 MFM 想像模式允許這個用戶獲得這個範例的磁性配置文件以未清速度。 表面域磁性結構的此 MFM 圖像在釔鐵柘榴石 (YIG)影片的獲取了以 10 Hz 掃瞄速率。
與 100x100 微米掃描程序的基本解決方法
由於 AFM 和掃描程序, SmartSPM 1000's 儀器的很好被設計的和被計算的建築以未清機械穩定性為特色,允許這個用戶獲得基本解決方法圖像與同一 100 微米掃描程序和同時對產物優質圖像,不用隔振表。 這是 AFM 的綜合化的極其重要與光學設施的在一張光學表頂部。
來源: AIST-NT
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