Cambios de la Superficie de Nanoscale de la Supervisión Durante la Deposición Electroquímica Usando los Instrumentos de NTEGRA de NT-MDT

Temas Revestidos

Antecedentes
Introducción
Cambios de Nanoscale de la Supervisión usando NTEGRA
Información de la Dotación Física
Célula Electroquímica
Electrónica
SPM
Sonda

Antecedentes

NT-MDT Co. fue establecido en 1991 con el propósito de aplicar toda la experiencia y conocimiento acumulados en el campo de la nanotecnología a los investigadores de la fuente con los instrumentos convenientes resolver cualquier tarea posible que descansaba en dimensiones de la escala del nanómetro. La compañía NT-MDT fue fundada en Zelenograd - el centro de la Microelectrónica Rusa. El revelado de productos se basa en la combinación de la tecnología de MEMS, la potencia del software moderno, el uso de componentes microelectrónicos de gama alta y piezas mecánicas de la precisión. Como existe una empresa comercial NT-MDT Co. a partir de 1993.

Introducción

Las tecnologías (EC) Electroquímicas atraen interés constante de levantamiento porque es la manera para las modificaciones controladas de la superficie incluso con la precisión atómica. La deposición de la EC es una aproximación ampliamente utilizada para la creación de las películas finas del metal con las propiedades únicas. Por otra parte la disolución de la EC permite la imitación y el estudio de los procesos de la corrosión.

Cambios de Nanoscale de la Supervisión usando NTEGRA

Las técnicas de la Microscopia de la antena de la microscopia el Hacer Un Túnel Atómico de Exploración (AFM) es decir de la Fuerza de la Microscopia y (STM) de la Exploración abren la posibilidad para vigilar los cambios escalados nanómetro que ocurren en la superficie durante una modificación de la EC. Con el NTEGRA el nanolaboratory puede ejecutar diversos experimentos de la EC en condiciones sumamente especializadas.

Como un ejemplo el Cuadro 1 del imagesin muestra que el campo magnético externo (MF) influencia fuertemente el proceso de la deposición del Cu. Debido a la Electrodeposición (MHD) magnetohidrodinámica de la Electrodeposición + al convección y a algunos otros efectos de la acción recíproca de iones con el externo FRECUENCIA INTERMEDIA la electrodeposición ocurre mucho más rápidamente.

Cuadro 1. imágenes del AFM de las películas de cobre electro-depositadas en el Au (111) sin el campo magnético (a1) y en campo magnético (B = 0,1 T) (a2). Las Exploraciones fueron obtenidas usando las antenas CSG01. Las investigaciones ines situ del AFM fueron realizadas con la Aureola de NTEGRA fijada en la configuración de MFM. Μm de la talla 2x2 de las Exploraciones.

El Cuadro 2 demuestra las posibilidades de STM. Durante la electrodeposición del Cu se permite ver la formación y la destrucción de un cedazo con los adátomos de cobre y los aniones del sulfato. Como consecuencia, la capa monomolecular del Cu reemplaza los aniones del sulfato. Las investigaciones ines situ de STM fueron realizadas con el ajuste de NTEGRA diseñado para las mediciones electroquímicas.

Cuadro 2. imágenes de STM de la deposición potencial inferior (UPD) del cobre en el Au (111) en la solución del sulfato antes de la negativa que desvía el potencial de la muestra (b1) y luego (b2). Después de la filtración de Fourier (b3, b4), es obvio que la desviación negativa lleva al repuesto de los aniones del sulfato por los adátomos del Cu: la estructura atómica típica para el sulfato (√3 x √3) R30° cambia a la estructura (1 x 1) típico para la pseudo capa monomolecular morphic del Cu. Explora la talla 30 x 30 nanómetro.

Información de la Dotación Física

Célula Electroquímica

La célula de la EC para los experimentos de STM y del AFM en el ambiente controlado proporciona al thermostabilization. La célula Hermética está opcionalmente disponible.

Electrónica

Bipotentiostat es un módulo controlado por ordenador para los experimentos electroquímicos en modos potenciostáticos, potenciodinámicos y galvanostáticos.

SPM

La AUREOLA de NTEGRA es un Microscopio de la Antena de la Exploración para los estudios en las condiciones del ambiente controlado y del vacío inferior. El Q-Factor del voladizo en aumentos del vacío, así ganando la sensibilidad, la confiabilidad y la exactitud de las mediciones pálidas de las fuerzas de la “antena-muestra”. En ese, el cambio de la presión de la atmósfera a vacío-2 de 10 Torres proporciona al avance décuplo del Q-Factor.

Por el vacío adicional que bombea, el Q-Factor alcanza su platillo y cambia insignificante. Así, la AUREOLA de NTEGRA presenta la relación de transformación óptima del “precio/de la calidad”: el comparar a los dispositivos de alto vacío necesita mucho menos hora - solamente un minuto - de conseguir el vacío que es necesario para el aumento décuplo del Q-Factor. Al mismo tiempo el sistema es compacto y fácil de operatorio y de mantener. Como el producto de la plataforma de NTEGRA, la AUREOLA de NTEGRA tiene el mando de bucle cerrado incorporado para todas las hachas, el sistema óptico con 1 resolución del µm y capacidad de trabajar con más de 40 diversos métodos del AFM.

El ajuste de la AUREOLA de NTEGRA en la configuración de MFM permite realizar experimentos de la EC en campo magnético externo.

Antenas

Las Antenas “De Oro” Convencionales del Silicio del AFM de la Alta resolución (CSG01) para el modo de contacto son disponibles con diversas capas (Au, Al, PtIr, Estaño, Au, e.t.c conductor dopado diamante.) y tipless. Las Antenas sin ninguna capa y para los modos sin contacto se pueden suministrar también.

Fuente: NT-MDT Co.

Para más información sobre esta fuente visite por favor NT-MDT Co.

Date Added: Jun 3, 2009 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 21:26

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