Modifications de Surface de Nanoscale de Surveillance Pendant le Dépôt Électrochimique Utilisant des Instruments de NTEGRA de NT-MDT

Sujets Couverts

Mouvement Propre
Introduction
Modifications de Nanoscale de Surveillance utilisant NTEGRA
L'Information de Matériel
Cellule Électrochimique
L'Électronique
SPM
Sonde

Mouvement Propre

NT-MDT Cie. a été déterminé en 1991 avec le but de s'appliquer toutes les expérience accumulée et connaissance dans le domaine de la nanotechnologie aux chercheurs d'alimentation avec les instruments adaptés pour résoudre n'importe quelle tâche possible s'étendant dans des cotes d'échelle de nanomètre. La compagnie NT-MDT a été fondée dans Zelenograd - le centre de la Microélectronique Russe. Le développement de produit sont basé sur la combinaison de la technologie de MEMS, l'alimentation électrique du logiciel moderne, l'utilisation des composants microélectroniques à extrémité élevé et les pièces mécaniques de précision. Comme une entreprise commerciale NT-MDT Cie. existe à partir de 1993.

Introduction

Les technologies (EC) Électrochimiques attirent l'intérêt continuellement de montée parce que c'est la voie pour des modifications réglées de la surface même avec la précision atomique. Le dépôt de CT est un élan très utilisé pour la création des films minces en métal avec de seules propriétés. D'autre part la dissolution de CT permet l'imitation et l'étude des procédés de corrosion.

Modifications de Nanoscale de Surveillance utilisant NTEGRA

Les techniques de Microscopie de sonde de microscopie de Perçage D'un Tunnel Atomique de Balayage (AFM) c.-à-d. de Force de Microscopie et (STM) de Balayage ouvrent la possibilité pour surveiller les modifications évaluées par nanomètre se produisant sur la surface pendant une modification de CT. Avec le NTEGRA le nanolaboratory peut faire fonctionner des expériences variées de CT en conditions hautement spécialisées.

Comme exemple le Schéma 1 d'imagesin prouve que le champ magnétique externe (MF) influence fortement le procédé de dépôt de Cu. En Raison du Dépot Électrolytique (MHD) magnétohydrodynamique de Dépot Électrolytique + de la convection et de quelques autres effets de l'interaction des ions avec le MF externe le dépot électrolytique se produit beaucoup plus rapidement.

Le Schéma 1. images d'AFM des films de cuivre électro-déposés sur l'Au (111) sans champ magnétique (a1) et dans le champ magnétique (B = 0,1 T) (a2). Des Échographies ont été obtenues à l'aide des sondes CSG01. Les investigations in situ d'AFM ont été exécutées avec l'Aura de NTEGRA installée dans la configuration de MFM. Μm de la taille 2x2 d'Échographies.

Le Schéma 2 expliquent les possibilités de STM. Pendant le dépot électrolytique de Cu on lui permet de voir la formation et la destruction d'un réseau avec les adatomes de cuivre et les anions de sulfate. En conséquence, la couche unitaire de Cu remonte les anions de sulfate. Les investigations in situ de STM ont été exécutées avec l'installation de NTEGRA conçue pour des mesures électrochimiques.

Le Schéma 2. images de STM du dépôt potentiel de dessous (UPD) du cuivre sur l'Au (111) dans la solution de sulfate avant le négatif changeant de vitesse le potentiel d'échantillon (b1) et après (b2). Après la filtration de Fourier (b3, b4), il est évident que le changement de vitesse négatif mène au remontage des anions de sulfate par des adatomes de Cu : la structure atomique particulière pour le sulfate (√3 x √3) R30° change en la structure (1 x 1) particulier pour la pseudo couche unitaire morphic de Cu. Les Échographies classent 30 x 30 nanomètre.

L'Information de Matériel

Cellule Électrochimique

La cellule de CT pour des expériences de STM et d'AFM dans l'environnement contrôlé fournit le thermostabilization. La cellule Hermétique est éventuellement disponible.

L'Électronique

Bipotentiostat est un module commandé par ordinateur pour des expériences électrochimiques en modes potentiostatiques, potentiodynamiques et galvanostatiques.

SPM

L'AURA de NTEGRA est un Microscope de Sonde de Lecture pour des études en conditions d'environnement contrôlé et d'aspirateur faible. Le Q-Facteur de l'encorbellement dans des augmentations d'aspirateur, de ce fait gagnant la sensibilité, la fiabilité et l'exactitude des mesures légères de forces de « sonde-échantillon ». Au ce, la modification de la pression d'ambiance à l'aspirateur-2 de 10 Torr fournit le gain de dix fois du Q-Facteur.

Par davantage d'aspirateur pompant, le Q-Facteur atteint son plateau et change de manière insignifiante. Ainsi, l'AURA de NTEGRA présente le taux optimal des « prix/qualité » : comparer aux dispositifs sous vide élevé elle a besoin beaucoup de moins d'heure - seulement une mn - d'obtenir l'aspirateur qui est nécessaire pour l'augmentation de dix fois de Q-Facteur. En même temps le système est compact et facile à utiliser et mettre à jour. Comme produit de plate-forme de NTEGRA, l'AURA de NTEGRA a le contrôle intrinsèque de boucle bloquée pour que tous les haches, système optique avec 1 définition de µm et capacité fonctionne avec plus de 40 méthodes différentes d'AFM.

L'installation d'AURA de NTEGRA dans la configuration de MFM laisse effectuer des expériences de CT dans le champ magnétique externe.

Sondes

Les Sondes « D'or » Conventionnelles de Silicium d'AFM de Haute résolution (CSG01) pour le mode de contact sont disponibles avec différentes couches (Au, Al, Platino-iridium, Étain, Au, e.t.c conducteur dopé par diamant.) et tipless. Des Sondes sans n'importe quelle couche et pour des modes de non contact peuvent être aussi bien fournies.

Source : NT-MDT Cie.

Pour plus d'informations sur cette source visitez s'il vous plaît NT-MDT Cie.

Date Added: Jun 3, 2009 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 20:56

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