NT-MDT からの NTEGRA の器械を使用して電気化学の沈殿の間のモニタリングの Nanoscale の表面の変更

カバーされるトピック

背景
導入
NTEGRA を使用してモニタリングの Nanoscale の変更
ハードウェア情報
電気化学のセル
電子工学
SPM
厳密に調べます

背景

NT-MDT Co. はナノメーターのスケール次元で置く可能なタスクを解決すること適した器械を持つ供給の研究者にナノテクノロジーのフィールドのすべての集められた経験そして知識を適用する目的との 1991 年に確立されました。 会社 NT-MDT は Zelenograd - ロシアのマイクロエレクトロニクスの中心で創設されました。 製品開発は MEMS の技術の組合せ、現代ソフトウェアの力、ハイエンドマイクロエレクトロニックコンポーネントの使用および精密機械部品に基づいています。 営利事業 NT-MDT Co. が 1993 年からあるように。

導入

電気化学の (EC)技術はそれが原子精密の表面の制御された修正のための方法であるので絶えず上昇の興味を引き付けます。 欧州共同体の沈殿は一義的な特性が付いている薄い金属のフィルムの作成のための広く利用されたアプローチです。 一方では欧州共同体の分解は腐食プロセスの模造そして調査を可能にします。

NTEGRA を使用してモニタリングの Nanoscale の変更

スキャンにプローブの顕微鏡検査すなわち原子に力の顕微鏡検査 (AFM)およびスキャンのトンネルを掘る顕微鏡検査の (STM)技術は欧州共同体の修正の間に表面に発生するナノメーターによって位取りされる変更を監察するために可能性を開発します。 NTEGRA を使うと nanolaboratory 1 つは非常に専門にされた条件のさまざまな欧州共同体の実験を実行できます。

一例として外部磁界が強く Cu の沈殿プロセスに影響を及ぼす (MF)ことを imagesin 図 1 は示します。 電磁流体力学電着の電着 (MHD) + 外部 MF のイオンの相互作用の対流および他のある効果が原因で電着は大いにより速く発生します。

Au (111) の図 1. 磁界 (a1) なしでそして磁界でエレクトロ沈殿する銅のフィルムの AFM の画像 (B = 0.1 T) (a2)。 スキャンは CSG01 プローブの使用によって得られました。 そのままの AFM の調査は MFM 構成でセットアップされた NTEGRA のオーラと行われました。 スキャンサイズ 2x2 の µm。

図 2 は STM の可能性を示します。 Cu の電着の間に銅の adatoms および硫酸塩の陰イオンが付いている格子の形成そして破壊を見ることを。 その結果、 Cu の単一層は硫酸塩の陰イオンを取り替えます。 そのままの STM の調査は電気化学の測定のために設計されている NTEGRA セットアップと行われました。

サンプル潜在性 (b1) を移す陰性の前の (UPD)硫酸塩の解決の Au (111) の図 2. 銅の下の潜在的な沈殿の STM の画像およびその後 (b2)。 フーリエろ過 (b3、 b4 否定的な è」¢ç§」が Cu の adatoms によって硫酸塩の陰イオンの置換の原因となること) の後で、それは明らかです: 硫酸塩 (√3 x √3) R30° のために典型的な原子構造は構造 (1 x 1) 擬似 morphic Cu の単一層にのために典型的変更します。 スキャンは 30 x 30 nm を大きさで分類します。

ハードウェア情報

電気化学のセル

制御環境の STM および AFM の実験のための欧州共同体のセルは thermostabilization を提供します。 密閉セルは任意選択で使用できます。

電子工学

Bipotentiostat は potentiostatic、 potentiodynamic および galvanostatic モードの電気化学の実験のためのコンピューター制御モジュールです。

SPM

NTEGRA のオーラは制御環境および低い真空の状態の調査のためのスキャンのプローブの顕微鏡です。 従って真空の増加の片持梁の Q 要因、 「プローブサンプル」軽い力の測定の感度、信頼性および正確さを得ます。 そので、大気圧力からの 10 トルの真空への-2 変更は Q 要因の 10 倍の利得を提供します。

ポンプでくむそれ以上の真空によって Q 要因はプラトーに達し、些細に変更します。 従って、 NTEGRA のオーラは最適の 「価格/品質」の比率を示します: 高真空装置との比較それは大いにより少なくタイムの 1 分だけ - 10 倍の Q 要因増加のために必要である真空を得ることを必要とします。 同時にシステムはコンパクト、作動し易く、維持し易いです。 NTEGRA のプラットホームの製品として、 NTEGRA のオーラに 40 以上の AFM 方法を使用するすべての斧のための組み込みの閉じたループ制御、 1 つの µm の解像度の光学系および能力があります。

MFM 構成の NTEGRA のオーラセットアップは外部磁界で欧州共同体の実験を行うことを割り当てます。

プローブ

接触モードのための慣習的な高リゾリューション AFM の 「金」ケイ素のプローブ (CSG01) は異なったコーティング (Au、 Al、 PtIr の錫、 Au、ダイヤモンドによって添加される伝導性 e.t.c。) と使用でき、 tipless です。 コーティングのないそして無接触モードのためのプローブはまた供給することができます。

ソース: NT-MDT Co。

このソースのより多くの情報のために NT-MDT Co. を訪問して下さい

Date Added: Jun 3, 2009 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 21:06

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