Mudanças da Superfície de Nanoscale da Monitoração Durante o Depósito Eletroquímico Usando Instrumentos de NTEGRA de NT-MDT

Assuntos Cobertos

Fundo
Introdução
Mudanças de Nanoscale da Monitoração usando NTEGRA
Informação do Hardware
Pilha Electroquímica
Eletrônica
SPM
Sonda

Fundo

NT-MDT Co. foi estabelecido em 1991 com a finalidade aplicar toda a experiência e conhecimento acumulados no campo da nanotecnologia aos pesquisadores da fonte com os instrumentos apropriados resolver toda a tarefa possível que coloca em dimensões da escala do nanômetro. A empresa NT-MDT foi fundada em Zelenograd - o centro da Microeletrônica do Russo. A revelação de produtos é baseada na combinação da tecnologia de MEMS, na potência do software moderno, no uso de componentes micro-electrónicos da parte alta e nas peças mecânicas da precisão. Como uma empresa comercial NT-MDT Co. existe desde 1993.

Introdução

As tecnologias (EC) Electroquímicas atraem o interesse constantemente de aumentação porque é a maneira para alterações controladas da superfície mesmo com precisão atômica. O depósito do EC é uma aproximação amplamente utilizada para a criação de filmes finos do metal com propriedades originais. Por outro lado a dissolução do EC permite a imitação e o estudo de processos da corrosão.

Mudanças de Nanoscale da Monitoração usando NTEGRA

As técnicas da Microscopia da Escavação De Um Túnel Atômica de Varredura isto é da Força (AFM) da microscopia da ponta de prova da Microscopia e (STM) da Varredura abrem a possibilidade para monitorar as mudanças escaladas nanômetro que ocorrem na superfície durante uma alteração do EC. Com o NTEGRA o nanolaboratory pode executar várias experiências do EC em circunstâncias altamente especializadas.

Como um exemplo Figura 1 do imagesin mostra que o campo magnético externo (MF) influencia fortemente o processo do depósito do Cu. Devido ao Depósito Electrolítico (MHD) magneto-hidrodinâmico do Depósito Electrolítico + à convecção e aos alguns outros efeitos da interacção dos íons com MF externo o depósito electrolítico ocorre muito mais rapidamente.

Figura 1. imagens do AFM dos filmes de cobre electro-depositados no Au (111) sem campo magnético (a1) e no campo magnético (B = 0,1 T) (a2). As Varreduras foram obtidas usando as pontas de prova CSG01. As investigações in situ do AFM foram executadas com a Aura de NTEGRA setup na configuração de MFM. Μm do tamanho 2x2 das Varreduras.

Figura 2 demonstra as possibilidades de STM. Durante o depósito electrolítico do Cu é permitida ver a formação e a destruição de uma estrutura com os adatoms de cobre e os aníons do sulfato. Em conseqüência, o monolayer do Cu substitui os aníons do sulfato. As investigações in situ de STM foram executadas com a instalação de NTEGRA projetada para medidas electroquímicas.

Figura 2. imagens de STM do depósito potencial inferior (UPD) do cobre no Au (111) na solução do sulfato antes do negativo que desloca o potencial da amostra (b1) e mais tarde (b2). Após a filtragem de Fourier (b3, b4), é óbvio que o deslocamento negativo conduz à substituição de aníons do sulfato por adatoms do Cu: a estrutura atômica típica para o sulfato (√3 x √3) R30° muda à estrutura (1 x 1) típica para o monolayer morphic pseudo- do Cu. As Varreduras fazem sob medida 30 x 30 nanômetro.

Informação do Hardware

Pilha Electroquímica

A pilha do EC para experiências de STM e do AFM em ambiente controlado fornece o thermostabilization. A pilha Hermético está opcionalmente disponível.

Eletrônica

Bipotentiostat é um módulo controlado por computador para experiências electroquímicas em modos potentiostatic, potenciodinâmicos e galvanoestáticos.

SPM

A AURA de NTEGRA é um Microscópio da Ponta De Prova da Exploração para estudos nas condições de ambiente controlado e do baixo vácuo. O Q-Factor do modilhão em aumentos do vácuo, assim ganhando a sensibilidade, a confiança e a precisão de medidas claras das forças da “ponta de prova-amostra”. No esse, a mudança da pressão da atmosfera a um vácuo-2 de 10 Torr fornece decuplamente o ganho do Q-Factor.

Por um vácuo mais adicional que bombeia, o Q-Factor alcança seu platô e muda-o insignificanta. Assim, a AURA de NTEGRA apresenta do “a relação óptima preço/qualidade”: comparar aos dispositivos do alto-vácuo precisa muito menos hora - somente um minuto - de obter o vácuo que é necessário para decuplamente o aumento do Q-Factor. Ao mesmo tempo o sistema é compacto e fácil de operar e mantem. Como o produto da plataforma de NTEGRA, a AURA de NTEGRA tem o controle de laço fechado incorporado para que todos os machados, o sistema óptico com 1 definição do µm e a capacidade trabalhe com mais de 40 métodos diferentes do AFM.

A instalação da AURA de NTEGRA na configuração de MFM reserva executar experiências do EC no campo magnético externo.

Pontas De Prova

As Pontas De Prova “Douradas” Convencionais do Silicone do AFM da Alta resolução (CSG01) para o modo de contacto são disponíveis com revestimentos diferentes (Au, Al, PtIr, Estanho, Au, e.t.c condutor lubrificado diamante.) e tipless. As Pontas De Prova sem nenhum revestimento e para modos do não-contacto podem ser fornecidas também.

Source: NT-MDT Co.

Para obter mais informações sobre desta fonte visite por favor NT-MDT Co.

Date Added: Jun 3, 2009 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 21:20

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