監控 Nanoscale 表面更改在使用 NTEGRA 儀器的電化學證言時從 NT-MDT

包括的事宜

背景
簡介
監控使用 NTEGRA 的 Nanoscale 更改
硬件信息
電化學細胞
電子
SPM
探查

背景

NT-MDT Co. 在 1991年被設立了以這個目的運用所有被累計的經驗和知識在領域的納米技術於用品研究員有適當的儀器的解決放置在毫微米縮放比例維數的所有可能的任務。 這家公司 NT-MDT 在 Zelenograd - 俄國微電子學的中心被創辦了。 產品開發在 MEMS 技術的現代軟件的組合,對高端微電子學要素的功率,使用和精確度機械零件基礎上。 商業企業 NT-MDT Co. 從 1993年存在。

簡介

因為 (EC)它是表面的受控修改的方式甚而與基本精確度,電化學技術吸引經常上升的利息。 EC 證言是稀薄的金屬影片的創建的一個用途廣泛的途徑與唯一屬性的。 另一方面 EC 解散允許腐蝕進程的模仿和研究。

監控使用 NTEGRA 的 Nanoscale 更改

瀏覽的探測顯微學基本強制顯微學 (AFM)和瀏覽挖洞顯微學 (STM)技術打開這個可能性監控發生在表面的毫微米被稱的更改在 EC 修改時。 使用 NTEGRA nanolaboratory 一個可能運行在非常專業的情況的多種 EC 實驗。

为例 imagesin 圖 1 向顯示這個外部磁場 (MF)嚴格影響古芝證言進程。 由於磁流體動力學的 (MHD)電附著電附著 + 對流和離子的交往的一些其他作用與外部 MF 的電附著快速地發生。

在澳大利亞 (111) 的圖 1. 在磁場電鍍物品存款的,不用磁場 (a1) 和銅影片 AFM 圖像 (B = 0.1 T) (a2)。 通過使用 CSG01 探測,掃描得到了。 在原處 AFM 調查進行了與被設置的 NTEGRA 氣氛在 MFM 配置。 掃描範圍 2x2 µm。

圖 2 展示 STM 的可能性。 在古芝電附著時它允許發現一個格子的形成和破壞與銅附加原子和硫酸鹽陰離子的。 結果,古芝單層替換硫酸鹽陰離子。 在原處 STM 調查進行了與為電化學評定設計的 NTEGRA 設置。

在澳大利亞 (111) 的圖 2. 銅的 (UPD)下面潛在的證言的 STM 圖像在轉移範例潛在 (b1) 的負的前的硫酸鹽解決方法和之後 (b2)。 在傅立葉濾清 (b3, b4) 以後,是顯然的負 转ç§」導致硫酸鹽陰離子的替換由古芝附加原子: 原子結構典型為硫酸鹽 (√3 x √3) R30° 變成結構 (1 x 1) 典型為假 morphic 古芝單層。 掃描估量 30 x 30 毫微米。

硬件信息

電化學細胞

STM 和 AFM 實驗的 EC 細胞在受控環境裡提供 thermostabilization。 密封細胞可任選地是可用的。

電子

Bipotentiostat 是電化學實驗的一個計算機控制的模塊 在穩壓器控制下,動電位和 galvanostatic 模式下。

SPM

NTEGRA 氣氛是研究的掃描探測顯微鏡在受控環境和低真空的條件。 懸臂的 Q 系數在真空增量的,因而獲取 「探測範例」輕的強制評定的區分、可靠性和準確性。 在該,更改從氣氛壓到 10-2 乇真空提供 Q 系數十倍的收益。

由抽進一步的真空, Q 系數到達其高原并且可忽略更改。 因此, NTEGRA 氣氛存在最佳的 「價格/質量」比例: 比較與高真空設備它只需要較不定期的一分鐘 - 獲得為十倍的 Q 系數增量是需要的真空。 同時這個系統是緊湊和容易運行和維護。 作為 NTEGRA 平臺產品, NTEGRA 氣氛有所有軸的固定閉合電路控制,與 1 個 µm 解決方法的光學系統和能力與超過 40 個不同 AFM 方法一起使用。

NTEGRA 在 MFM 配置的氣氛設置在外部磁場准許執行 EC 實驗。

探測

常規高分辨率 AFM 「金黃」硅探測 (CSG01) 聯繫模式的可用用不同的塗層 (澳大利亞, Al, PtIr,錫,澳大利亞,金剛石被摻雜的導電性 e.t.c。) 和 tipless。 可以供應探測沒有任何塗層和沒有接觸的模式的。

來源: NT-MDT Co。

關於此來源的更多信息请請參觀 NT-MDT Co。

Date Added: Jun 3, 2009 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 20:49

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit