Microscopie de Force Transversale des Points Produits par Nanolithography d'Immersion-Crayon lecteur Utilisant EasyScan 2 FlexAFM de Nanosurf

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Mouvement Propre
Introduction
Instruments utilisés
Microscopie de Force Transversale

Mouvement Propre

Nanosurf est un premier fournisseur des microscopes atomiques faciles à utiliser de force (AFM) et des microscopes de perçage d'un tunnel de lecture (STM). Nos produits et services sont espérés par des professionnels mondiaux pour les aider pour mesurer, analyser, et pour présenter à 3D l'information extérieure. Nos microscopes excellent par leur contrat et design élégant, leur traiter facile, et leur sérieux absolu.

Introduction

Plusieurs différentes techniques de lithographie existent qui permettent la modification des surfaces du matériau pendant ou après leur microfabrication. Un des plus versatile de ces techniques est probablement le soi-disant Immersion-Crayon lecteur Nanolithography® (DPN). DPN® est le nanoscale équivalent à l'inscription avec un stylo-plume, en lequel l'extrémité d'un encorbellement atomique de microscope (AFM) de force agit en tant que crayon lecteur (le Schéma 1). La « encre », qui peut se composer d'une grande variété de matériaux de nanoscale, est transférée à partir de l'extrémité à la surface témoin par un ménisque de l'eau qui forme automatiquement entre l'extrémité et la surface à l'humidité ambiante.

Le Schéma 1. Principe du l'Immersion-Crayon lecteur Nanolithography® (DPN). Chargement (Laissé) : Un encorbellement est plongé dans un nano-bien de « encre » et est rétracté. (Bonne) Inscription : L'encorbellement chargé est mis en contact avec la surface d'écriture, et la « encre » est déposée par un ménisque de auto-formation de l'eau. Accueil d'Images de Nanoink Inc.

La force de DPN® se situe dans sa définition de structuration élevée (15 nanomètre) et exactitude (5 nanomètre). De Cette façon, il est possible de déposer les substances neuves (par exemple des Thiols ou d'autres produits chimiques) sur une surface d'une façon hautement réglée et sur une échelle minuscule, ayant pour résultat de exciter des applications neuves. La technique du l'Immersion-Crayon lecteur Nanolithography® a été enregistrée par Professeur Tchad Mirkin à Du Nord-ouest en 1999, qui a été attribué les brevets pour le procédé. La licence pour la technologie de DPN® demeure avec NanoInk, Inc., qui est le fournisseur unique pour le matériel de DPN®. Les caractéristiques des matériaux déposés par DPN® sont habituellement étudiées par Microscopie de Force Transversale (LFM), car elle est l'une des quelques techniques capables de trouver des différences matérielles à de telles hautes résolutions. Offres easyScan LFM de Nanosurf les 2 FlexAFM en combination avec traiter facile, lui effectuant un choix évident pour l'analyse de DPN®.

Instruments utilisés

Toutes Les mesures ont été exécutées avec tête d'échographie easyScan d'Échographie de Nanosurf 2 FlexAFM une Grande (domaine d'échographie de 100 µm) équipée d'un type de CONTR en porte-à-faux et actionnée dans le mode de Force Transversale en air.

Microscopie de Force Transversale

La Microscopie de Force Transversale permet à des zones avec différents attributs de frottement d'être discernées. Les Différences dans des attributs de frottement peuvent surgir par des différences dans la viscosité, l'élasticité, l'adhérence, les forces capillaires, la chimie extérieure, ou les interactions électrostatiques des matériaux concernés. Quand un encorbellement est balayé statiquement et perpendiculairement à son axe longitudinal, une courbure de torsion de l'encorbellement se produit. La cornière de la torsion est proportionnelle à la force transversale agissant sur l'extrémité. Quand déménageant au-dessus d'une surface plane avec des régions affichant différents attributs de frottement, la cornière de la torsion sera différente pour chaque région. Ces régions avec différents attributs de friction peuvent pour cette raison être tracées, et leurs propriétés s'analyser (le Schéma 2).

Le Schéma 2. enregistrements d'AFM sur des molécules d'Alcanethiol déposées sur l'or utilisant l'Immersion-Crayon lecteur Nanolithography® (DPN), le procédé breveté de NanoInk pour le dépôt des matériaux de nanoscale sur un substrat. Données (Laissées) de Topographie. (Bonnes) données de force Transversale. La zone combinée d'échographie des deux moitiés d'image correspond 1,0 au µm du µm X 1,0.

Car la normale en porte-à-faux de charge sur la surface a un composant transversal aux caractéristiques techniques extérieures inclinées, la topographie extérieure a une influence sur la mesure de force transversale. Heureusement, il est possible de distinguer le fléchissement transversal dû aux caractéristiques techniques topographiques de la surface et dû aux forces de frottement en comparant simplement l'échographie avant et arrière des images d'AFM. Le fléchissement transversal dû aux modifications de forces de frottement signent alors que celle produite par la topographie ne fait pas (comparez le Schéma 3, left and right).

Le Schéma 3. Différences entre les forces transversales provoquées par la friction et celles provoquées par les caractéristiques techniques topographiques de la surface balayée. Refléter (Laissé) du fléchissement transversal dû aux forces de frottement. (Droit) Aucun refléter avec le fléchissement transversal topographiquement induit. Toutes Les traces avant d'échographie sont dans le bleu, traces arrière d'échographie en rouge.

Selon l'élasticité de l'échantillon, la surface témoin peut être déformée pendant les mesures en mode de force transversale, particulièrement quand elle a les pentes escarpées ou les caractéristiques techniques topographiques élevées. Cette déformation peut mener aux artefacts dans la mesure ou même aux dégâts de l'échantillon dû aux forces transversales excessives qui résultent de ces caractéristiques techniques. Pour éviter ces incidences nuisibles, veillez que la raideur pertinente de la surface est plus élevée que la raideur de torsion de l'encorbellement.

LFM a été avec succès employé pour vérifier les contaminations extérieures, les caractéristiques chimiques, et les caractéristiques de frottement des matériaux tels que des semi-conducteurs, des polymères, des films minces, et des dispositifs de stockage de données.

Source : Nanosurf

Pour plus d'informations sur cette source visitez s'il vous plaît Nanosurf

Date Added: Oct 19, 2009 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 23:10

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