垂度筆 Nanolithography 被生產的小點側力顯微學使用 EasyScan 2 從 Nanosurf 的 FlexAFM 的

包括的事宜

背景
簡介
使用的儀器
側力顯微學

背景

Nanosurf 是易用基本強制顯微鏡和掃描挖洞顯微鏡 (AFM)一位主導的提供者 (STM)。 我們的產品和服務由專業人員委託全世界幫助他們評定,分析和存在 3D 表面信息。 我們的顯微鏡通過他們的緊湊和典雅的設計,他們容易處理和他們的绝對信度擅長。

簡介

在他們的 microfabrication 的之前或之後,允許實質面修改的幾個不同的石版印刷技術存在。 一个最多才多藝這些技術很可能是所謂的垂度筆 Nanolithography® (DPN)。 DPN® 是 nanoscale 等同與寫與鋼筆,一個基本強制顯微鏡懸臂技巧 (AFM)作為這支筆 (圖 1)。 「墨水」,可能包括各種各樣的 nanoscale 材料,從這個技巧調用到範例表面通過自動地形成在技巧和表面之間在四周濕氣的水半月板。

圖 1. 垂度筆 Nanolithography® 原則 (DPN)。 (被留下的) 裝載: 懸臂被浸洗到納諾很好 「墨水」和被縮回。 (正確) 寫道: 被裝載的懸臂被帶領進入與文字表面的聯絡,并且 「墨水」通過自形成的水半月板存款。 Nanoink Inc. 鏡像。

DPN® 力量在其高仿造的解決方法 (15 毫微米) 和準確性 (5 毫微米) 在。 這樣,存款新的物質 (即硫烴或其他化學製品) 是可能的在表面上以一個高度受控方式和在一微小的等級,造成激發新建應用程序。 在 1999年垂度筆 Nanolithography® 技術由乍得 Mirkin 教授西北的報告,被授予這個進程的專利。 DPN® 技術的專用許可證位於與 NanoInk, Inc.,是 DPN® 設備的唯一的提供者。 因為它是少數個技術之一能够檢測物質區別在 (LFM)這樣高分辨率, DPN® 存款的材料的特性由側力顯微學通常學習。 與容易處理的組合 Nanosurf easyScan 2 FlexAFM 聘用 LFM,做出它 DPN® 分析的一個明顯的選擇。

使用的儀器

所有評定進行了與裝備用 CONTR 類型懸臂式和被管理的 Nanosurf easyScan 2 FlexAFM 大掃描 (100 µm 掃描範圍) 掃瞄頭在航空的側力模式。

側力顯微學

側力顯微學允許用不同的摩擦屬性的區區分。 在摩擦屬性上的區別可能通過在黏度、彈性、黏附力、血絲強制、表面化學或者介入的材料的靜電交往上的區別出現。 當懸臂靜態和垂直地瀏覽對其縱向軸時,一扭轉力彎曲懸臂發生。 扭力角度與操作在這個技巧的這個側力是按比例。 當移動在與顯示不同的摩擦屬性時的地區的一個平面,扭力角度為每個區域將是不同的。 用不同的摩擦屬性的因此這些區域可能被映射,并且他們的屬性被分析 (圖 2)。

在金子存款的鏈烷硫趕分子的圖 2. AFM 記錄使用垂度筆 Nanolithography® (DPN), nanoscale 材料的證言的 NanoInk 的給予專利的進程在基體上的。 (被留下的) 地勢數據。 (正確的) 側力數據。 二個圖像一半的聯合的掃描區對應於 1.0 µm x 1.0 µm。

因為對表面的懸臂式負荷正常有一個側向要素在傾斜的表面功能,表面地勢有對側力評定的影響。 幸運地,區分在側向偏折之間由於表面的地形學功能和由於摩擦力是可能的通過來回地比較 AFM 圖像的掃描。 側向偏折由於摩擦力更改符號,而地勢生產的那個不 (请比較圖 3,左右)。

圖 3. 在摩擦造成的側力和瀏覽的表面的地形學功能造成的那个之間的區別。 (被留下的) 反映側向偏折由於摩擦力。 (正確) 沒有反映與地形學地導致的側向偏折。 所有轉接掃描跟蹤在藍色,在紅色的反向掃描跟蹤。

在評定期間根據這個範例的彈性,特別是當它有陡峭的斜面或高地形學功能時,範例表面在側力模式下,可以被扭屈。 此變形可能導致在這個評定的人工製品甚至這個範例的故障由於從這些功能出現的額外的側力。 要避免這些有害作用,请保證表面的有效僵硬高於懸臂的扭轉力僵硬。

LFM 順利地用於調查表面汙染、化工說明和材料的摩擦特性例如半導體、聚合物、薄膜和數據存儲設備。

來源: Nanosurf

關於此來源的更多信息请請參觀 Nanosurf

Date Added: Oct 19, 2009 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 23:02

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