Campo visual Extremo - Proporcionar a la Información Detallada de la Imagen de la Macro al Nanoscale de Carl Zeiss

Temas Revestidos

Reseña
Necesidad de Imágenes Grandes
XFOV - VÁSTAGO en SEM
Ventajas de SEM-VE

Reseña

El Motor de la Visualización de SEM (SEM-VE) combina un generador de la exploración de 16 dígitos binarios y un soporte físico doble de la adquisición de la señal del estupendo-muestreo con el tratamiento de la imagen y un software de mando para su microscopio electrónico de Zeiss. El sistema de SEM-VE activa la adquisición de imágenes hasta 32k x los pixeles de 32k (una talla de la imagen del gigapixel), con tiempos de intervalo a partir del 100 ns a 100 s, ajustables en 100 incrementos del ns. Las Imágenes se pueden salvar con ocho o dieciséis dígitos binarios de intensidad. El SEM-VE “Herramienta del Mosaico” se diseña para crear montajes grandes de la imagen y se integra altamente con SmartSEM.

La Herramienta del Mosaico activa la adquisición automatizada de los Mosaicos de la multi-imagen en los sitios múltiples en la muestra, moviéndose automáticamente desde la “Teja de la imagen” a la Teja, y el sitio del Mosaico para situar, ejecutando los autofunctions de SmartSEM tales como Enfoque, Stigmation, Brillantez, el Etc. como sea necesario. El resultado final es un montaje de la imagen del “Campo visual Extremo” que puede revestir áreas ópticas de la escala del microscopio (o aún escala del aro descubierto) de su muestra, en la resolución de la escala del nanómetro de SEM.

Las muestras convenientes Dadas, funcionamiento sin atención se pueden realizar durante los días, detectando automáticamente Terabyte de los datos de imagen a los tipos hasta 30 Gigabytes de datos de imagen por hora. Esto permite que el utilizador cerco datos de una región dada en una resolución aproximadamente siete órdenes de magnitud más pequeños que la región. Por ejemplo es posible detectar una región cuadrada del milímetro 40, en la resolución de 4 nanómetros, hacia adentro bajo 4 días.

Escoja la sección gruesa de 30 nanómetro del cerebro del ratón reflejada con los electrones retrorreflejados en 8 kilovoltios usando una Sigma FE-SEM de Zeiss. La resolución de imagen Original era 4 nanómetro por el pixel. Las flechas Rojas apuntan a las áreas donde una neurona hace contacto con y transfiere la información a otra.

Los montajes Extremos de la imagen del campo visual mejoran la comprensión completa de estructuras proporcionando a la información detallada de la imagen de la escala macra al nanoscale.

Necesidad de Imágenes Grandes

¿Por Qué detecte las imágenes “EXTREMADAMENTE GRANDES”?

  • Reduce el número de tejas para detectar, reduciendo retraso del movimiento del escenario y más importantemente reducir la fracción regional de cada imagen “perdió” para traslapar. Para una talla del pixel de 4 nanómetro y una exactitud del escenario de 2 µm, el traslapo puede ser el 66% del área de la imagen en 3k x 2k (nuevos datos del 33%), pero el solamente 6% del área de la imagen en 32k x 32k (nuevos datos/imagen del 94%) los 2,5 milímetros x mosaico de 2,5 milímetros en la resolución de 4 nanómetro requerirían así ~92.000 imágenes con un de memoria de trama convencional, pero solamente 400 imágenes al usar el SEM-VE.
  • Reduce el número de traslapo “cose”, llevando a menos daño del haz y degradación de la muestra.
  • Estos factores reducen grandemente la complejidad de cómputo - considerablemente más fácil coser y alinear al trabajar con 400 imágenes bastante que 92.000. Esta reducción en complejidad de cómputo llega a ser aún más crítica cuando la alineación tridimensional de secciones seriales se requiere.

Se ocultan los límites de la teja de la Imagen.

La posición de los límites de la teja de la imagen se visualiza (las líneas blancas)

Un circuito integrado del procesador de 65 del nanómetro de la tecnología gráficos del nodo, eliminado a su substrato de silicio con la aguafuerte ácida del HF.

El mosaico consiste en 49 imágenes, cada ~500 Megapíxeles, cosidos automáticamente por el VE-Espectador en un ~1/3 milímetro x el mosaico de 1/3 milímetro. Este mosaico era escalonamiento detectado en ángulo, con la rotación de la exploración usada para alinear características de la imagen con las hachas de la exploración, para acentuar la costura con fines ilustrativos.

Una vista magnificada de la unión entre cuatro tejas como se muestra arriba, con los límites de la teja visualizados en blanco, como los límites entre las tejas es de otra manera virtualmente inconsútil.

Una muestra del detalle de alta resolución visible a través del mosaico Extremo entero del Campo visual.

XFOV - VÁSTAGO en SEM

Usando el sistema de detección Con Varios Modos De Funcionamiento del VÁSTAGO de GEMINI®, el límite de la información para el SUPRA™ FE-SEM puede ser extendido más allá del rango del nanómetro. Una resolución de 0,8 nanómetros es fácilmente alcanzable ahora y da la información nana adicional de la escala. La calidad de la imagen obtenida con la unidad del VÁSTAGO es similar a las imágenes obtenidas por un TEM con un accesorio de la exploración.

Imágenes de Vástago-en-SEM detectadas en un Zeiss SUPRA™ 40 equipado de SEM-VE. Las Imágenes muestran única una sección de epoxy manchada de 45 nanómetro poste-sección gruesa ultra del hipocampo inundado de la rata. Una serie de imágenes fue detectada automáticamente de sitios múltiples en matrices múltiples de TEM. (a) Imagen Inferior de la reseña de la magnificación de únicas tejas del sitio 6 que consisten en x 2 del mosaico, cada 49 µm del µm x 49, detectado usando el sistema de detección del VÁSTAGO de GEMINI® en un SUPRA™ FE-SEM. Cada teja de la imagen fue detectada en 2 nanómetro por el pixel. (b) Una única imagen del SEM-en-VÁSTAGO de 49 µm, detectada en 2 nanómetro por el pixel. El cuadrado de la inserción ilustra la talla comparativa de una imagen de TEM detectada en 4k x cámara de 4k, también en 2 nanómetro por el pixel. Detectar campos visuales más grandes reduce la distorsión y los requisitos para la costura de la imagen. (c) Detalle aproximadamente 9 de un µm x región de 9 µm de la Imagen B.

Observe la calidad de la imagen es comparable a los resultados obtenidos por TEM convencional. En la resolución completa, los organelos dominantes son fácilmente resueltos incluyendo (d) densidades sinápticas del poste en las sinapsis, (e) los polirribosomas y (f) los microtubules cruz-seccionados convenientes para el trazado de la serie y la reconstrucción densa.

Ventajas de SEM-VE

Cómo Hace Ayuda de SEM-VE Para Resolver Sus Problemas

  • Detecte las imágenes hasta 1 Gigapixel en una única exploración, creciente de máximo anterior del Megapíxel ~7.
  • Talla Contínuo a elección de la exploración a partir de la 1 de x 1 a 32k x pixeles de 32k.
  • Campo visual y píxeles de resolución Contínuo definibles.
  • Tipos de Exploración a elección a partir 100 de intervalo del ns to>100 s por el pixel, en 100 incrementos del ns.
  • Salve los datos de imagen como 8 o 16 ficheros del TIFF del dígito binario.
  • La Automatización activa el funcionamiento sin atención, con el ajuste automático del movimiento, del enfoque, del stigmation, de la brillantez y de contraste del escenario como sea necesario.
  • Detecte y cosa los Mosaicos de alta resolución de la imagen en los campos visuales ópticos con la resolución del nanómetro.
  • Incluye al VE-Espectador, espectador de la imagen adaptado para manejar eficientemente los Mosaicos del multi-gigabyte producidos por SEM-VE. El VE-Espectador permite que el utilizador se abra, coser, navega e inteligente re-rinde los 2.os grupos de datos grandes producidos por SEM-VE.

Un alto extracto de la magnificación de la imagen larga.

Una única imagen larga, del estrecho aproximadamente 1/3 milímetro de µm 20 de x de tamaño detectado en 10 nanómetro por píxeles de resolución y tiempo de intervalo de 200 ns. Esta imagen tardó aproximadamente 15 segundos para detectar.

SEM-VE está disponible en los instrumentos nuevos y actualmente instalados como mejora en el campo.

Fuente: “Campo visual extremo de ZEISS XFOV Zeiss” por Carl Zeiss

Para más información sobre esta fuente, visite por favor a Carl Zeiss.

Date Added: Apr 29, 2010 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 01:55

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