Champ de Vision Extrême - Fournir des Informations Détaillées d'Image de la Macro-instruction au Nanoscale par Carl Zeiss

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Synthèse
Besoin de Grandes Images
XFOV - CHEMINÉE dans le SEM
Avantages de SEM-VE

Synthèse

L'Engine de Visualisation de SEM (SEM-VE) combine un générateur d'échographie de 16 bits et un double matériel de saisie de signe de superbe-échantillonnage avec le logiciel à traitement d'images et de gestion pour votre microscope électronique de Zeiss. Le système de SEM-VE active la saisie des images jusqu'à 32k x pixels de 32k (une taille de l'image de gigapixel), avec des temps de pause de 100 NS à 100 s, réglables dans 100 incréments de NS. Des Images peuvent être enrégistrées avec huit ou seize bits d'intensité. Le SEM-VE « Outil de Mosaïque » est conçu pour produire de grands montages d'image et est hautement intégré avec SmartSEM.

L'Outil de Mosaïque active la saisie robotisée des Mosaïques de multi-image aux sites multiples sur l'échantillon, déménageant automatiquement de la « Tuile d'image » à la Tuile, et le site à site de Mosaïque, exécutant des autofunctions de SmartSEM tels que le Foyer, Stigmation, Brilliance, Etc. au besoin. Le résultat final est un montage d'image « de Champ de Vision Extrême » qui peut couvrir des domaines optiques d'échelle de microscope (ou même échelle d'oeil nu) de votre échantillon, à la définition d'échelle de nanomètre de SEM.

Des échantillons adaptés Donnés, fonctionnement sans surveillance peuvent être exécutés pendant des jours, saisissant automatiquement des Terabyte des données d'image aux tarifs jusqu'à 30 Gigas de données d'image par heure. Ceci permet à l'utilisateur de rassembler des données d'une région donnée à une définition approximativement sept ordres de grandeur plus petits que la région. Par exemple il est possible de saisir une région carrée du mm 40, à la définition du nanomètre 4, dedans au-dessous de 4 jours.

Choisissez 30 parties épaisses de nanomètre de cerveau de souris imagées avec les électrons rétrodiffusés à 8 kilovolts utilisant un Sigma FE-SEM de Zeiss. La définition d'Image originale était 4 nanomètre selon le pixel. Les flèches Rouges indiquent des zones où un neurone entre en contact avec et transfère l'information à l'autre.

Les montages Extrêmes d'image de champ de vision améliorent la compréhension complète des structures en fournissant des informations détaillées d'image de la macro échelle au nanoscale.

Besoin de Grandes Images

Pourquoi saisissez les images « EXTRÊMEMENT GRANDES » ?

  • Réduit le nombre de tuiles pour saisir, réduisant le délai de mouvement de stade et d'une manière primordiale la réduction de la fraction régionale de chaque image « a détruit » pour superposer. Pour une taille de pixel de 4 nanomètre et une exactitude de stade de 2 µm, la superposition peut être 66% de la zone d'image à 3k x 2k (données neuves de 33%), mais seulement 6% de la zone d'image à 32k x 32k (données/image neuves de 94%) des 2,5 millimètres X mosaïque de 2,5 millimètres à la définition de 4 nanomètre exigerait ainsi ~92.000 images avec un par mémoire d'image conventionnel, mais seulement 400 images en utilisant le SEM-VE.
  • Réduit le numéro de la superposition « coud », menant à moins de dégâts de poutre et de dégradation de l'échantillon.
  • Ces facteurs réduisent grand la complexité de calcul - considérablement plus facile à piquer et aligner en fonctionnant avec 400 images plutôt que 92.000. Cette réduction de complexité de calcul devient bien plus critique quand le cadrage en trois dimensions des parties séquentielles est exigé.

Des bornes de tuile d'Image sont cachées.

La position des bornes de tuile d'image sont affichées (les lignes blanches)

Un circuit intégré de processeur graphique de noeud de technologie de 65 nanomètre, éliminé à son substrat de silicium avec gravure acide d'À HAUTE FRÉQUENCE.

La mosaïque se compose de 49 images, chaque ~500 Megapixels, automatiquement piqués par le VE-Spectateur dans un ~1/3 millimètre X la mosaïque de 1/3 millimètre. Cette mosaïque était progression saisie sous un angle, avec la rotation d'échographie employée pour aligner des caractéristiques techniques d'image sur les haches d'échographie, afin d'accentuer piquer à des fins d'illustration.

Une vue magnifiée de la jonction entre quatre tuiles comme affichées ci-dessus, avec des bornes de tuile affichées dans la zone blanche, comme autrement bornes entre les tuiles sont pratiquement sans joint.

Un groupe du petit groupe de haute résolution visible en travers de la mosaïque Extrême entière de Champ de Vision.

XFOV - CHEMINÉE dans le SEM

À l'aide du système de dépistage À Plusieurs Modes De Fonctionnement de CHEMINÉE de GEMINI®, la limite de l'information pour le SUPRA™ FE-SEM peut être étendue au delà du domaine de nanomètre. Une définition de 0,8 nanomètres est maintenant promptement possible et fournit l'information nanoe supplémentaire d'échelle. La qualité de l'image obtenue avec l'ensemble de CHEMINÉE sont assimilée aux images obtenues par un TEM avec une connexion de lecture.

Images Cheminée-dans-SEM saisies sur Zeiss SUPRA™ 40 équipé de SEM-VE. Les Images affichent de seule 45 parties époxydes souillées parpartie épaisse de nanomètre ultra de hippocampe inondé de rat. Une suite d'images a été automatiquement saisie des sites multiples sur des réseaux multiples de TEM. (a) Image Faible de synthèse d'agrandissement des tuiles uniques du site 6 se composants x 2 de mosaïque, chaque 49 µm du µm X 49, saisi utilisant le système de dépistage de CHEMINÉE de GEMINI® dans un SUPRA™ FE-SEM. Chaque tuile d'image a été saisie à 2 nanomètre selon le pixel. (b) Une image unique de SEM-dans-CHEMINÉE de 49 µm, saisie à 2 nanomètre selon le pixel. Le carré de vignette illustre la taille comparative d'une image de TEM saisie sur 4k x appareil-photo de 4k, aussi à 2 nanomètre selon le pixel. Saisir de plus grands champs de vision réduit la déformation et les conditions pour piquer d'image. (c) Petit Groupe approximativement 9 d'un µm X région de 9 µm de l'Image B.

Notez la qualité des images est comparable aux résultats obtenus par TEM conventionnel. À la pleine définition, les organelles principales sont promptement resolved comprenant (d) des densités synaptiques de poteau aux synapses, (e) des polysomes et (f) des microtubules croix-en coupe adaptés pour le traçage d'interface série et la reconstruction dense.

Avantages de SEM-VE

Comment Fait l'Aide de SEM-VE Pour Résoudre Vos Problèmes

  • Saisissez les images jusqu'à 1 Gigapixel dans un au premier balayage, accru du maximum précédent du Megapixel ~7.
  • Taille Sans Interruption sélectionable d'échographie de 1 x de 1 à 32k x pixels de 32k.
  • Définition Sans Interruption définissable de champ de vision et de pixel.
  • Tarifs d'Échographie sélectionables 100 de l'angle de saturation de NS to>100 s selon le pixel, dans 100 incréments de NS.
  • Sauvegardez les données d'image en tant que 8 ou 16 fichiers de TIFF de bit.
  • L'Automatisation active le fonctionnement sans surveillance, avec le réglage automatique de mouvement, de foyer, de stigmation, de brilliance et de contraste de stade au besoin.
  • Saisissez et piquez les Mosaïques de haute résolution d'image aux champs de vision optiques avec la définition de nanomètre.
  • Comprend le VE-Spectateur, une visionneuse d'images réglée pour traiter efficacement les Mosaïques de multi-giga produites par SEM-VE. Le VE-Spectateur permet à l'utilisateur de s'ouvrir, piquer, dirige et re-rend intelligemment les grands 2D ensembles de données produits par SEM-VE.

Un extrait élevé d'agrandissement de la longue image.

Image unique une longue, d'étroit approximativement 1/3 millimètre de µm 20 de X dans la taille saisi à 10 nanomètre selon la définition de pixel et le temps de pause de 200 NS. Cette image a pris approximativement 15 secondes pour saisir.

SEM-VE est disponible sur les instruments nouveaux et actuel installés comme exploitation pratique.

Source : « Champ de Vision extrême de ZEISS XFOV Zeiss » par Carl Zeiss

Pour plus d'informations sur cette source, rendez visite s'il vous plaît à Carl Zeiss.

Date Added: Apr 29, 2010 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 01:20

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