Campo de visão Extremo - Fornecendo Informação Detalhada da Imagem do Macro ao Nanoscale por Carl Zeiss

Assuntos Cobertos

Vista Geral
Necessidade para Grandes Imagens
XFOV - HASTE em SEM
Vantagens de SEM-VE

Vista Geral

O Motor do Visualização de SEM (SEM-VE) combina um gerador da varredura de 16 bits e um hardware duplo da aquisição do sinal da super-amostra com o software de processamento e de controle de imagem para seu microscópio de elétron de Zeiss. O sistema de SEM-VE permite a aquisição das imagens até 32k x pixéis de 32k (um tamanho da imagem do gigapixel), com tempos de interrupção de 100 ns a 100 s, ajustáveis em 100 incrementos do ns. As Imagens podem ser salvar com oito ou dezesseis bits da intensidade. O SEM-VE do “Ferramenta Mosaico” é criado grandes montagens da imagem e integrado altamente com SmartSEM.

A Ferramenta do Mosaico permite a aquisição automatizada de Mosaicos da multi-imagem em locais múltiplos na amostra, movendo-se automaticamente da “da Telha imagem” para a Telha, e o local do Mosaico para situar, executando autofunctions de SmartSEM tais como o Foco, Stigmation, Brilho, Etc. como necessário. O resultado final é “uma montagem da imagem do Campo de visão Extremo” que possa cobrir áreas ópticas da escala do microscópio (ou mesmo a escala do olho nu) de sua amostra, na definição da escala do nanômetro de SEM.

As amostras apropriadas Dadas, operação desacompanhada podem ser executadas durante os dias, adquirindo automaticamente Terabyte de dados de imagem em taxas até 30 Gigas byte de dados de imagem pela hora. Isto permite que o usuário recolha dados de uma região dada em uma definição aproximadamente sete ordens de grandeza menores do que a região. Por exemplo é possível adquirir uma região quadrada do milímetro 40, em uma definição de 4 nanômetros, dentro sob 4 dias.

Escolha a secção grossa de 30 nanômetro do cérebro do rato imaged com os elétrons backscattered em 8 quilovolts usando um Sigma FE-SEM de Zeiss. A definição de imagem Original era 4 nanômetro pelo pixel. As setas Vermelhas apontam às áreas onde um neurônio contacta e transfere a informação a outro.

As montagens Extremas da imagem do campo de visão melhoram a compreensão completa das estruturas fornecendo informação detalhada da imagem da escala macro ao nanoscale.

Necessidade para Grandes Imagens

Por Que adquira imagens “EXTREMAMENTE GRANDES”?

  • Reduz o número de telhas para adquirir, reduzindo o atraso do movimento da fase e mais importante reduzir a fracção regional de cada imagem “perdeu” para sobrepr. Para um tamanho do pixel de 4 nanômetro e uma precisão da fase de 2 µm, a sobreposição pode ser 66% da área da imagem em 3k x 2k (dados novos de 33%), mas somente 6% da área da imagem em 32k x 32k (dados/imagem novos de 94%) assim uns 2,5 milímetros x mosaico de 2,5 milímetros na definição de 4 nanômetro exigiria ~92.000 imagens com uma loja convencional do quadro, mas somente 400 imagens ao usar o SEM-VE.
  • Reduz o número de sobreposição “emenda”, conduzindo a menos dano do feixe e degradação da amostra.
  • Estes factores reduzem extremamente a complexidade computacional - consideravelmente mais fácil costurar e alinhar ao trabalhar com as 400 imagens um pouco do que 92.000. Esta redução na complexidade computacional torna-se ainda mais crítica quando o alinhamento tridimensional de secções de série é exigido.

Os limites da telha da Imagem são escondidos.

A posição de limites da telha da imagem é indicada (as linhas brancas)

Um circuito integrado do processador de 65 gráficos do nó da tecnologia do nanômetro, descascado a sua carcaça de silicone com gravura a água-forte ácida do HF.

O mosaico consiste em 49 imagens, cada ~500 Megapixels, costurado automaticamente pelo VE-Visor em um ~1/3 de milímetro x o mosaico de 1/3 de milímetro. Este mosaico era piso adquirido em um ângulo, com a rotação da varredura usada para alinhar características da imagem aos machados da varredura, a fim acentuar a costura para fins ilustrativos.

Uma ideia ampliada da junção entre quatro telhas como mostrado acima, com os limites da telha indicados no branco, como de outra maneira os limites entre telhas é virtualmente sem emenda.

Uma amostra do detalhe de alta resolução visível através do mosaico Extremo inteiro do Campo de visão.

XFOV - HASTE em SEM

Usando o sistema de detecção da HASTE do Multi-Modo de GEMINI®, o limite da informação para o SUPRA™ FE-SEM pode ser prolongado além da escala do nanômetro. Uma definição de 0,8 nanômetros é agora prontamente atingível e dá a informação nano adicional da escala. A qualidade da imagem obtida com a unidade da HASTE é similar às imagens obtidas por um TEM com um acessório da exploração.

Imagens de Haste-em-SEM adquiridas em um Zeiss SUPRA™ 40 equipado com o SEM-VE. As Imagens mostram única uma secção manchada da cola Epoxy de 45 nanômetro cargo-secção grossa ultra do hipocampo perfused do rato. Uma série de imagens foi adquirida automaticamente dos locais múltiplos em grades múltiplas de TEM. (a) Baixa imagem da vista geral da ampliação de umas únicas telhas do local 6 consistindo x 2 do mosaico, cada 49 µm do µm x 49, adquirido usando o sistema de detecção da HASTE de GEMINI® em um SUPRA™ FE-SEM. Cada telha da imagem foi adquirida em 2 nanômetro pelo pixel. (b) Uma única imagem da SEM-em-HASTE de 49 µm, adquirida em 2 nanômetro pelo pixel. O quadrado inserir ilustra o tamanho comparativo de uma imagem de TEM adquirida no 4k x câmera de 4k, também em 2 nanômetro pelo pixel. Adquirir campos de vista maiores reduz a distorção e as exigências para a costura da imagem. (c) Detalhe aproximadamente 9 de um µm x região de 9 µm da Imagem B.

Note a qualidade da imagem é comparável aos resultados obtidos por TEM convencional. Na definição completa, os organelles chaves estão (d) a umas densidades synaptic inclusivas prontamente resolved do cargo em sinapses, (e) os polyribosomes e (f) os microtubules cruz-seccionados apropriados para o traçado da série e a reconstrução densa.

Vantagens de SEM-VE

Como Faz a Ajuda de SEM-VE Para Resolver Seus Problemas

  • Adquira imagens até 1 Gigapixel em uma única varredura, aumentada do máximo precedente de ~7 Megapixel.
  • Tamanho Continuamente selecionável da varredura de 1 x de 1 a 32k x pixéis de 32k.
  • Definição Continuamente definível do campo de visão e do pixel.
  • Taxas de Varredura selecionáveis 100 da interrupção do ns to>100 s pelo pixel, em 100 incrementos do ns.
  • Salvar dados de imagem como 8 ou 16 limas do TIFF do bit.
  • A Automatização permite operação desacompanhada, com o ajuste automático do movimento, do foco, do stigmation, do brilho e de contraste da fase como necessário.
  • Adquira e costure Mosaicos de alta resolução da imagem em campos de vista ópticos com definição do nanômetro.
  • Inclui o VE-Visor, um visor da imagem costurado para segurar eficientemente os Mosaicos de multi-giga byte produzidos por SEM-VE. O VE-Visor permite que o usuário abra, para costurar, navega e re-rende inteligente os grandes 2D conjunto de dados produzidos por SEM-VE.

Um trecho alto da ampliação da imagem longa.

Única uma imagem longa, do estreito aproximadamente 1/3 de milímetro de µm 20 de x em tamanho adquirido em 10 nanômetro pela definição do pixel e o tempo de interrupção de 200 ns. Esta imagem tomou aproximadamente 15 segundos para adquirir.

SEM-VE está disponível em instrumentos novos e actualmente instalados como uma elevação do campo.

Source: De “Campo de visão extremo ZEISS XFOV Zeiss” por Carl Zeiss

Para obter mais informações sobre desta fonte, visite por favor Carl Zeiss.

Date Added: Apr 29, 2010 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 01:48

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